制冷型红外探测器的图像生成方法、装置及可读存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种制冷型红外探测器的图像生成方法、装置及计算机可读存储介质。其中，方法包括标定探测器对着均匀黑体所得的高温图像和低温图像得到像素点斜率值和像素点背景值，基于像素点斜率值和像素点背景值对工作于IWR模式下输出的原始红外图像的每个像素点进行修正，基于修正图像中横线的上一行像素点和下一行像素点计算像素点背景修正值，基于高低温图像中横线以上的像素点值和横线以下的像素点值计算像素点斜率修正值。最后利用像素点斜率值、像素点斜率修正值、像素点背景值和背景修正值对原始红外图像进行再次修正，得到最终输出的红外图像，从而有效去除红外图像中由于异常像素点数据造成的横线，提升制冷型红外探测器的成像质量。

【技术实现步骤摘要】
制冷型红外探测器的图像生成方法、装置及可读存储介质
本申请涉及红外
，特别是涉及一种制冷型红外探测器的图像生成方法、装置及计算机可读存储介质。
技术介绍
由于制冷型红外探测器工作时，制冷机先运行来降低自身温度，这样在检测其他物体时灵敏度更高、误差更小，检查温度范围更广，其被广泛应用在各行各业中。随着用户对制冷型红外成像质量及制冷型红外探测器工作环境的要求越来越高，提高制冷型红外探测器的成像质量迫在眉睫。制冷型红外探测器由于制作工艺等因素的限制和影响，当其工作在IWR(IntegrateWhileRead，积分同时读出)模式，也即在该工作模式中积分时间段内同时输出图像数据，探测器在积分时间与非积分时间段内同时有数据输出时，输出的数据会有一行异常，表现在图像上即为一条肉眼可见的横线，横线位于积分时间与非积分时间段的交界处，随着积分时间的改变而改变位置。该横线会严重影响制冷型红外探测器的成像质量。相关技术通常采用后端图像处理来去除红外图像中的这条横线，例如可先求出横线上下两行均值的差，然后将横线以下的所有像素点的值均加上本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种制冷型红外探测器的图像生成方法，其特征在于，包括：/n预先利用制冷型红外探测器对着均匀黑体获得高温图像和低温图像；/n利用基于所述高温图像和所述低温图像标定得到的像素点斜率值和像素点背景值，对所述制冷型红外探测器工作于IWR模式下输出的原始红外图像中的每个像素点进行一次修正，得到一次修正图像；/n基于所述高温图像和所述低温图像中横线以上的像素点值和横线以下的像素点值计算像素点斜率修正值；基于所述一次修正图像中横线的上一行像素点和下一行像素点计算背景修正值；/n利用所述像素点斜率值、所述像素点斜率修正值、所述像素点背景值和所述背景修正值对所述原始红外图像的每个像素点进行修正，得到所述制冷...

【技术特征摘要】
1.一种制冷型红外探测器的图像生成方法，其特征在于，包括：
预先利用制冷型红外探测器对着均匀黑体获得高温图像和低温图像；
利用基于所述高温图像和所述低温图像标定得到的像素点斜率值和像素点背景值，对所述制冷型红外探测器工作于IWR模式下输出的原始红外图像中的每个像素点进行一次修正，得到一次修正图像；
基于所述高温图像和所述低温图像中横线以上的像素点值和横线以下的像素点值计算像素点斜率修正值；基于所述一次修正图像中横线的上一行像素点和下一行像素点计算背景修正值；
利用所述像素点斜率值、所述像素点斜率修正值、所述像素点背景值和所述背景修正值对所述原始红外图像的每个像素点进行修正，得到所述制冷型红外探测器最终输出的红外图像。


2.根据权利要求1所述的制冷型红外探测器的图像生成方法，其特征在于，所述对所述制冷型红外探测器工作于IWR模式下输出的原始红外图像中的每个像素点进行一次修正，得到一次修正图像包括：
调用一次修正关系式对所述原始红外图像中的每个像素点进行修正，得到所述一次修正图像；所述一次修正关系式为：
Ci＝Gi×(Oi-Hi)+Havr；
式中，Ci为所述一次修正图像的第i个像素点，Oi为所述原始红外图像的第i个像素点，Gi为第i个像素点的像素点斜率值，Hi为第i个像素点的像素点背景值，Havr为像素点整体偏移量。


3.根据权利要求2所述的制冷型红外探测器的图像生成方法，其特征在于，所述基于所述高温图像和所述低温图像中横线以上的像素点值和横线以下的像素点值计算像素点斜率修正值包括：
调用像素点斜率修正关系式计算所述像素点斜率修正值，所述像素点斜率修正关系式为：



式中，Δg为像素点斜率修正值，xmax_overm为所述高温图像横线以上的第m个像素点值，xmin_overm为所述低温图像横线以上的第m个像素点值，m为横线以上像素点总数，xmax_belown为所述高温图像横线以下的第n个像素点值，xmin_belown为所述低温图像横线以下的第n个像素点值，n为横线以下像素点总数。


4.根据权利要求2所述的制冷型红外探测器的图像生成方法，其特征在于，所述基于所述一次修正图像中横线的上一行像素点和下一行像素点计算背景修正值包括：
调用像素点背景修正关系式计算所述背景修正值，所述像素点背景修正关系式为：



式中，Δh为所述背景修正值，xI-1_p为所述一次修正图像中横线的上一行的第p个像素点值，p为所述一次修正图像中横线的上一行像素点总数，xI+1_q为所述一次修正图像中横线的下一行的第q个像素点值，q为所述一次修正图像中横线的下一行像素点总数。


5.根据权利要求1至4任意一项所述的制冷型红外探测器的图像生成方法，其特征在于，所述利用所述像素点斜率值、所述像素点斜率修正值、所述像素点背景值和所述背景修正值对所述原始红外图像的每个像素点进行修...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘鹏，赵尧，沙李鹏，张强，
申请(专利权)人：烟台艾睿光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37