【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及例如光子相关式粒径分布测定装置等所使用的相关器系统的取样方法。
技术介绍
光子相关式粒径分布测定，按规定的取样时间对测定对象粒子所产生的与散射光强度 相应的光子数(脉冲信号)进行计数，并由移位寄存器进行时间延迟，进行积和运算，求 出自相关函数，利用其缓和系数算出粒径(粒子直径)。而取样方式可知道的有线性取样方式、指数取样方式、多股(^ A *夕々)方式等。但是，这些方式存在以下的问题。由光子相关法得到的自相关函数为通常指数函数，取样时间越短，可进行越高精度的 运算，可是线性取样方式是以相等时间间隔运算脉冲序列的自相关函数的，电路构成或控 制信号简单，但在高精度运算较宽的粒径范围的情况下，道数变得庞大。而且，存在一旦 与道数相符便需要随粒径调节取样时间，对道数和精度、所花时间进行协调，而难以实际 用于较宽的粒径范围这种问题。而指数取样方式设定为，每一道的取样时间有所不同，越是后段的取样时间随道按指 数方式拉长，以便可弥补上述线性取样方式的不足来应用于较宽的粒径范围。但实际上存 在一旦取样时间变大，较小的粒子其数据的点数不足，精度降低等问题。此外，多股...
【技术保护点】
一种相关器，包括： 每隔规定时间间隔接收脉冲信号，对脉冲数进行计数的计数器； 接收所述计数器计数得到的脉冲数的取样部； 接收所述取样部的输出并使其依次延迟的延迟部； 按每一道对所述取样部的输出和由所述延迟部延迟后的输 出进行积和运算的运算部；以及 将所述道ｎ的延迟时间或取样时间Ｔ↓［ｎ］设定为Ｔ↓［ｎ］＝ｆ↓［ｎ］×Ｔ↓［ｏ］的控制部， 其中，ｆ↓［ｎ］＝ａ↓［ｎ－１］×ｆ↓［ｎ－１］＋ａ↓［ｎ－２］×ｆ↓［ｎ－２］＋ａ↓［ｎ－３］×ｆ↓［ｎ －３］＋…＋ａ↓［１］×ｆ↓［１］， ａ↓［ｉ］＝｛０，１｝，ｉ...
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：山口哲司，河原林成行，
申请(专利权)人：株式会社堀场制作所，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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