面板的检查装置和检查方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供考虑了进行冲压成形前的板材的板厚偏差的面板检查装置和面板检查方法。面板检查装置具有：共振频率提取单元，其提取面板的多个共振频率；共振频率选择单元，其从所提取的多个共振频率中，选择由振动传播路径不同的两个的共振频率（Ａ、Ｂ）构成的共振频率的组合；合格品范围生成单元，其针对预先判断为合格品的多个合格品面板，对针对各合格品面板所选择的共振频率（Ａ、Ｂ）的集合进行统计处理，在将共振频率（Ａ、Ｂ）作为坐标轴的坐标上生成合格品范围（９１）；以及面板质量判定单元，其针对检查对象的面板，将针对检查对象的面板所选择的共振频率（Ａ、Ｂ）和由合格品范围生成单元生成的合格品范围（９１）相比较，根据该比较来判定检查对象的面板的质量是否良好。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及。详细地讲，涉及测定作为 冲压成形品而形成的面板的共振频率，并根据该共振频率来判定面板的 质量是否良好的。
技术介绍
当对板材进行冲压成形而形成面板时，有时在该面板上会产生中间 变细或破裂。这种中间变细和破裂容易在凸缘部或进入角部等、特别是 冲压成形时变形集中的部位产生，但有时也发生在单发产生的部位，产 生部位难以预测。因此，需要在宽范围内对所有成形品进行中间变细和 破裂的检查，存在检查花费时间的情况。因此，以往提出了能够在短时间内进行面板的中间变细和破裂的检查的检查装置。作为这种检查装置，例如在专利文献1和2中公开了如下的检查装置试验性地对面板进行励振，并且，检测该面板的振动， 根据从检测到的振动中所提取的面板固有的频率特性，来判断面板的质 量是否良好。专利文献1日本特开平9-171008号公报专利文献1日本特开2007-147512号公报图24是示出一个规格中所包含的多个板材的板厚的分布的条形图。 在图24中，横轴是板材的板厚，纵轴是频度。如该图所示，作为冲 压成形品的材料的板材即使是同一规格的板材，其板厚也存在偏差。但是，当在作为材料的板材中存在这种板厚的偏差时，有时无法区 分面板的频率特性变化的主要原因是由于中间变细或破裂的存在，还是 由于板材的板厚的偏差。在上述专利文献l、 2中，没有考虑这种板厚的 偏差，因此，面板的质量是否良好的判断可能与实际不同。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，提供一种面板检查装置和面板检查方法，其根 据面板的频率特性来判定质量是否良好，尤其考虑了进行冲压成形前的 板材的板厚的偏差。本专利技术的面板检查装置(例如后述的面板检査装置1)根据对预先 判断为合格品的面板进行励振而得到的共振频率来判定检査对象的面板 的质量是否良好，其特征在于，该面板检查装置具有励振器(例如后 述的励振器20)，其对面板进行励振；振动检测器(例如后述的振动传感 器30)，其检测面板的振动；共振频率提取单元(例如后述的控制装置 40以及执行图2的步骤ST3、 ST6的单元等)，其使用所述励振器和所述 振动检测器，提取面板的多个共振频率；共振频率选择单元(例如后述 的控制装置40以及执行图12的步骤ST32的单元等)，其从由所述共振 频率提取单元提取出的多个共振频率中，选择一组以上由振动传播路径 不同的两个以上的共振频率构成的共振频率的组合；合格品范围生成单 元(例如后述的控制装置40以及执行图12的步骤ST33的单元等)，其 对预先判断为合格品的多个合格品面板执行由所述共振频率提取单元、 所述共振频率选择单元执行的处理，对针对各合格品面板所选择的共振 频率的组合的集合进行统计处理，在将共振频率作为坐标轴的坐标上生 成合格品范围(例如图13的合格品范围91);以及面板质量判定单元(例 如后述的控制装置40以及执行图2的步骤ST7的单元等)，其针对所述 检查对象的面板执行由所述共振频率提取单元、所述共振频率选择单元 执行的处理，将针对所述检査对象的面板所选择的共振频率的组合和由 所述合格品范围生成单元生成的合格品范围相比较，根据该比较来判定 所述检査对象的面板的质量是否良好。根据本专利技术，从预先判断为合格品的多个合格品面板中，选择各合 格品面板特有的共振频率的组合，对这些共振频率的组合的集合进行统 计处理，在将共振频率作为坐标轴的坐标上生成合格品范围。接着，从 检査对象的面板中，选择检查对象面板特有的共振频率的组合，对该共振频率的组合和所生成的合格品范围进行比较，来判定面板的质量是否 良好。这里，特别地，作为共振频率的组合，选择振动传播路径不同的两 个以上的共振频率，由此，能够生成具有考虑了作为材料的板材的板厚 偏差的广度的合格品范围。根据这种合格品范围来判定检査对象面板的 质量是否良好，由此，能够考虑作为材料的板厚的偏差来检査面板的质并且， 一边利用励振器对面板进行励振， 一边利用振动传感器来检 测面板的振动，由此，能够在短时间内进行面板的质量的检查。由此， 例如，能够将面板检查装置组装到面板的生产线中。该情况下，优选所述面板质量判定单元仅将由所述合格品范围生成 单元生成的合格品范围中、在共振频率之间存在正相关的合格品范围用 于检査对象的面板的质量是否良好的判定。这里，面板的共振频率与作为材料的板材的板厚成正比。因此，在 面板的共振频率之间存在正相关。根据本专利技术，在检查对象面板的质量是否良好的判定中，仅使用共 振频率之间存在正相关的合格品范围，由此，能够防止面板质量的误判 定。该情况下，优选所述面板检查装置被组装到由多个工序构成的冲压面板的生产线(例如后述的生产线100)中。根据本专利技术，通过将面板检查装置组装到冲压面板的生产线中，由 此，能够縮短面板的制造和面板的检查所花费的时间周期。本专利技术的面板检査方法根据对预先判断为合格品的面板进行励振而 得到的共振频率来判定检查对象的面板的质量是否良好，其特征在于， 该面板检查方法使用检查步骤，该检査步骤包含共振频率提取步骤和共 振频率选择步骤，其中在所述共振频率提取步骤中，对面板进行励振来 检测振动，并提取该面板的多个共振频率，在所述共振频率选择步骤中， 从在所述共振频率提取步骤中提取的多个共振频率中，选择一组以上由 振动传播路径不同的两个以上的共振频率构成的共振频率的组合，并且该面板检查方法具有以下步骤合格品范围生成步骤，对预先判断为合 格品的多个合格品面板执行所述检查步骤，对针对各合格品面板所选择 的共振频率的组合的集合进行统计处理，在将共振频率作为坐标轴的坐 标上生成合格品范围；以及面板质量判定步骤，针对所述检查对象的面 板，执行所述检查步骤，将针对所述检查对象的面板所选择的共振频率 的组合和由所述合格品范围生成步骤生成的合格品范围相比较，根据该 比较来判定所述检查对象的面板的质量是否良好。该情况下，优选在判定所述检查对象的面板的质量是否良好时，仅 将所述合格品范围中、在共振频率之间存在正相关的合格品范围用于检 查对象的面板的质量是否良好的判定。该面板检査方法是将上述面板检査装置作为检査方法而展开的，发 挥与上述面板检査装置同样的效果。根据本专利技术的面板检查装置，选择振动传播路径不同的两个以上的 共振频率作为共振频率的组合，由此，能够生成具有考虑了作为材料的 板材的板厚偏差的广度的合格品范围。根据这种合格品范围来判定检査 对象面板的质量是否良好，由此，能够考虑作为材料的板厚的偏差来检 查面板的质量。并且， 一边利用励振器对面板进行励振， 一边利用振动 传感器检测面板的振动，由此，能够在短时间内进行面板的质量的检查。 由此，例如，能够将面板检査装置组装到面板的生产线中。附图说明图1是示出本专利技术的一个实施方式的面板检查装置的结构的概略图。图2是示出所述实施方式的面板检査装置的面板检查处理的步骤的 流程图。图3是示出励振波形的一例的图。图4是示出构成励振波形的多个正弦波中的两个的图。 图5是示出收集振动波形的步骤的流程图。 图6是示出面板的结构的图。图7是示出振动速度的波形的一例的图。 图8是示出频率分量的波形的一例的图。 图9是示出提取共振频率的步骤的流程图。 图IO是示出频率分量的波形的一例的图。图11是示出从多个合格品面板中共同提取本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种面板检查装置，其根据对预先判断为合格品的面板进行励振而得到的共振频率来判定检查对象的面板的质量是否良好，其特征在于，该面板检查装置具有：　励振器，其对面板进行励振；　振动检测器，其检测面板的振动；　共振频率提取单元，其 使用所述励振器和所述振动检测器，提取面板的多个共振频率；　共振频率选择单元，其从由所述共振频率提取单元提取出的多个共振频率中，选择一组以上由振动传播路径不同的两个以上的共振频率构成的共振频率的组合；　合格品范围生成单元，其对预先 判断为合格品的多个合格品面板执行由所述共振频率提取单元、所述共振频率选择单元执行的处理，对针对各合格品面板所选择的共振频率的组合的集合进行统计处理，在将共振频率作为坐标轴的坐标上生成合格品范围；以及　面板质量判定单元，其针对所述检查对 象的面板执行由所述共振频率提取单元、所述共振频率选择单元执行的处理，将针对所述检查对象的面板所选择的共振频率的组合和由所述合格品范围生成单元生成的合格品范围相比较，根据该比较来判定所述检查对象的面板的质量是否良好。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：河野一郎，武田谦三，吉田慎，
申请(专利权)人：本田技研工业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]