本发明专利技术提供声发射检测装置和控制装置。该ＡＥ检测装置具有ＡＥ传感器（５）和损坏判断部（１８）。当由可根据来自ＡＥ传感器（５）的信号生成的多个参数定义的参数空间中，由根据来自ＡＥ传感器（５）的信号计算的参数定义的点在上述参数空间中的规定区域内存在规定数量以上时，损坏判断部（１８）判断为轴承（３）的损坏前兆。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及声发射检测装置和具有声发射检测装置的控制装置。
技术介绍
以往，作为利用声发射来检测损坏前兆的AE (Acoustic Emission: 声发射)检测装置，具有日本特开平7—318457号公报所记载的装置。并且，以往作为其他的AE检测装置，具有对由安装了该AE检测装 置的设备产生的AE振幅进行测量，在该振幅大于规定值时判断为损坏前 兆的AE检测装置。然而，该AE检测装置仅仅根据AE振幅的大小来判断损坏前兆，因 此有时仅仅将噪声判断为损坏前兆，存在准确性和可靠性低的问题。
技术实现思路
因此，本专利技术的课题在于提供能够准确地检测损坏前兆、可靠性高 的声发射检测装置和具有该声发射检测装置的控制装置。为了解决上述课题，本专利技术的声发射检测装置的特征在于，该声发 射检测装置具有声发射传感器，其对声发射进行检测；以及损坏判断 部，其当在由可根据来自上述声发射传感器的信号生成的至少2个以上的参数定义的参数空间中，由根据来自上述声发射传感器的信号计算出 的上述至少2个以上的参数定义的点在上述参数空间中的规定区域内存 在规定数量以上时，判断为被损坏检测部件的损坏前兆。如之后所详细说明的那样，本专利技术人发现了如下情况在适当地选 择了由至少2个以上的参数定义的参数空间时，在该参数空间中，由根 据来自上述声发射传感器的信号计算出的上述至少2个以上的参数定义 的点，在不存在被损坏检测部件的损坏前兆时位于上述参数空间内的第1规定区域，在具有被损坏检测部件的损坏前兆时位于上述参数空间内的 第1规定区域以外的第2规定区域。并且，本专利技术人发现在引起了被 损坏检测部件的损坏的情况下，大多数点位于与上述参数空间内的上述 第1和第2规定区域不同的第3区域中。并且发现利用这种状况来判 断被损坏检测部件的损坏前兆，与以往相比，能够排除噪声的影响，能 够非常迅速且准确地判断被损坏检测部件的损坏前兆。根据本专利技术，当在上述参数空间中的规定区域内，存在规定数量以 上的由根据来自上述声发射传感器的信号计算出的上述至少2个以上的 参数定义的点时，判断为被损坏检测部件的损坏前兆，因此能够准确地 对损坏前兆进行检测，能够迅速且可靠性高地对被损坏检测部件的损坏 前兆进行判断。并且，在一个实施方式中，上述参数空间包括由至少2个以上的参数定义的第1参数空间；以及 由至少2个以上的参数定义、并且与上述第1参数空间不同的第2 参数空间。根据上述实施方式，判断被损坏检测部件的损坏前兆的参数空间为 2个，因此不会弄错被损坏检测部件的损坏前兆。 并且，在一个实施方式中， 声发射检测装置具有计算部，其根据从上述声发射传感器输出的信号来计算多个参数；以及相关参数决定部，其决定上述多个参数中彼此具有相关性的参数， 当在由上述相关参数决定部决定的具有相关性的参数定义的参数空 间中，由根据来自上述声发射传感器的信号计算出的上述彼此具有相关 性的参数定义的点在由上述具有相关性的参数定义的参数空间中的规定 区域内存在规定数量以上时，该损坏判断部判断为上述被损坏检测部件 的损坏前兆。根据上述实施方式，由于具有用于决定具有相关性的参数的相关参数决定部，因此不用说预先知晓能够根据来自声发射传感器的信号生成 并且彼此具有相关性的参数的被损坏检测部件，即使是预先不知晓能够 根据来自声发射传感器的信号生成并且具有相关性的参数的被损坏检测 部件，也能够准确地判断损坏前兆。并且，在一个实施方式中，上述至少2个以上的参数是UP、 RMS、 FC、 Gmax、 E、 FM、 WEFF和Q中的2个以上的参数。另外，在本说明书中，上述UP是声发射电压信号的峰值。并且，上述RMS是执行值。上述RMS是通过如下计算而得到的值， 即当决定了某规定的时间范围T，并且利用作为时间的函数、且基于声 发射传感器输出的电压信号来表示声发射波形时，从某时刻起到该时刻 的T时间后对该电压信号的振幅的平方进行积分，将积分后的值除以T， 再对除以该T后的值进行开方。并且，功率谱密度函数G(f)通过如下方式求出对由时间和基于声 发射的输出的电压信号表示的声发射波形进行傅立叶变换，然后平方， 由此求出功率谱，再用该功率谱除以频率分辨率。并且，上述FC是中心频率。上述FC是表示上述功率谱密度函数 G(f)中的峰值的频率。并且，上述Gmax是功率谱的最大值。上述Gmax是上述功率谱函数 G(f)中的峰值电平。并且，上述E是能量。上述E是对作为频率f的函数的功率谱密度 函数G(f)进行从频率0到无限大的积分而得到的值。并且，上述FM是中间频率。上述FM是在对上述功率谱密度函数 G(f)进行从0到FM的积分而得到的值与对上述功率谱密度函数G(f)进行 从FM到无限大的积分而得到的值相等的情况下决定的频率。并且，上述WEFF是有效宽度。上述WEFF是当假设在功率谱密度 函数中，功率谱最大值Gmax的电平呈方形分布在频率0到频率WEFF之 间时，能量与上述实际能量E相等的情况下所决定的频率。并且，上述Q是声发射波形的峰度(kurtosis)。 Q值由下式定义。 另外，在下式中，N为事件数，Uj是声发射电压值，c7u是的Uj的标准偏差。并且U是Uj的平均值。一 一4uj-u ，根据上述实施方式，上述至少2个以上的参数是UP、 RMS、 FC、 Gmax、 E、 FM、 WEFF和Q中的2个以上的参数，因此，能够根据声发 射传感器的信号容易地计算上述至少2个以上的参数。并且，本专利技术的控制装置的特征在于，该控制装置具有本专利技术的声发射检测装置；以及神经网络，其至少接收上述声发射检测装置的输出，输出控制信号。 本专利技术的控制装置可以接收来自多个本专利技术的声发射检测装置的信号。并且，本专利技术的控制装置可以接收本专利技术的声发射检测装置以外的装置的输出。根据上述实施方式，由于具有接收声发射检测装置的输出而输出控 制信号的神经网络，因此，能够使神经网络学习上述参数与有无损坏前 兆之间的关系，并能够使该学习结果反映到控制信号中。因此，越重复 使用，越能够更迅速且准确地输出控制信号。根据本专利技术的声发射检测装置，当在参数空间中的规定区域内存在 规定数量以上的由根据来自声发射传感器的信号计算出的至少2个以上 的参数定义的点时，判断为被损坏检测部件的损坏前兆，因此能够仅仅 可靠地检测损坏前兆，能够迅速且可靠性高地检测被损坏检测部件的损 坏前兆。1 N 咱附图说明图1是示出本专利技术第1实施方式的AE检测装置的结构的图。 图2是说明根据AE测量波形计算各种参数的过程的图。 图3是示出相关参数决定部的因子分析的一结果的图。 图4是说明在一实验例中，损坏判断部的信号分析和损坏前兆的判 断方法的图。图5是示出在上述一实验例中，基于RMS和Q的信号分析以及损坏前兆的时期的图。图6是示出在上述一实验例中，基于RMS和FM的信号分析以及损 坏前兆的时期的图。图7是示出本专利技术第1实施方式的控制装置的结构的图。 图8是示出本专利技术第2实施方式的控制装置的结构的图。具体实施例方式以下，根据图示的方式对本专利技术进行更详细的说明。图1是示出本专利技术第1实施方式的声发射检测装置(以下称为AE 检测装置)的结构的图。本专利技术的AE检测装置在取得声发射(以下称为AE)数据后，对其 进行傅立叶变换等处理，来计本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种声发射检测装置，其特征在于，该声发射检测装置具有： 声发射传感器，其对声发射进行检测；以及 损坏判断部，其当在由可根据来自上述声发射传感器的信号生成的至少２个以上的参数定义的参数空间中，由根据来自上述声发射传感器的信号计算出 的上述至少２个以上的参数定义的点在上述参数空间中的规定区域内存在规定数量以上时，判断为被损坏检测部件的损坏前兆。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：上野弘，户田一寿，铃木数也，桥本敏，阿列克谢维诺格拉多夫，
申请(专利权)人：株式会社捷太格特，桥本敏，阿列克谢维诺格拉多夫，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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