在被照明区域中的视场的荧光分析系统技术方案

技术编号:2618252 阅读:216 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种用肉眼并根据在被照明区域中视场的荧光的分析系统,包括周期性激励的第一低剩磁白光照明光源;用于激励位于所述视场中的荧光成分的第二光源,其至少在第一光源关闭的时间周期中的一部分时间过程中工作;和在第一光源关闭且第二光源打开的时间周期中工作的荧光分析设备。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种使用肉眼并根据被照明区域中视场的荧光的分析系统,包括: 第一低剩磁白光照明光源(12),所述光源由大于24Hz的频率周期性激励的发光二极管组件构成; 第二光源(16),用于激励位于所述视场中的荧光成分,至少在所述第一光源关闭 的时间周期中的一部分过程中工作;和 在所述第一光源关闭且所述第二光源打开的时间周期内工作的荧光分析设备(7)。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:安纳贝拉达席尔瓦菲力浦瑞佐让皮埃尔穆瓦
申请(专利权)人:法国原子能委员会
类型:发明
国别省市:FR[法国]

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