【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】粉粒体散布量检查装置和检查方法、及含粉粒体的物品的制造装置和制造方法
本专利技术涉及在将容器内贮存的粉粒体散布于散布对象物的工序中利用的粉粒体散布量检查装置和检查方法。此外，本专利技术还涉及含粉粒体的物品的制造装置和制造方法。
技术介绍
作为将料斗等容器中贮存的粉粒体输送、供给到该容器的外部的方法，已知使粉粒体的输送通道振动的方法。在该方法中，通过调节输送通道的振动强度，能够调节粉粒体的流量(每单位时间的输送量)。作为这样的粉粒体的流量计测方法，已知对容器中贮存的粉粒体的质量连续地进行计测，计算出每单位时间的质量变化(质量减少量)，将该每单位时间的质量变化作为粉体的流量的、所谓的重量损失(LossinWeight)方式下的流量计测方法。此外，为了使粉粒体的流量为期望的值，进行以下处理：使用按重量损失方式算出的流量，实施振动强度等驱动条件的反馈控制，获得稳定的固定流量(例如专利文献1和2)。此外，关于检查粉粒体的输送、供给量的技术，至今按照检查目的提出了几个方案。例如专利文献3中记载了如下所述的方法：使用红外线或近红外线CCD照相机，测量输送传送机上的还原铁颗粒等高温粒状物集合体的质量等。该方法中，照相机捕捉由温度差引起的图像浓度的差异，求出上述集合体的面积，利用校准线(calibrationcurve)换算为质量。由此，掌握作为粒状物集合体的输出源的回转炉内壁的附着物的生长状况。专利文献4中记载了能够在进行散布期间连续地检测构成产品的粉粒体的质量的粉粒体的质量检查装置。该装置中，基于从检查初始...
【技术保护点】
1.一种粉粒体散布量检查装置，其在将贮存于容器内的粉粒体从该容器排出，使排出的该粉粒体自由落下而散布至散布对象物的粉粒体散布工序的实施期间，对散布在该散布对象物的粉粒体的质量进行检查，该粉粒体散布量检查装置的特征在于，包括：/n第一计测机构，其用计量装置在时间上连续地对所述容器的质量和该容器内的粉粒体的质量的总质量进行计量，计测该总质量在规定时间t1内的变化量；和/n第二计测机构，其用拍摄装置对向所述散布对象物自由落下的粉粒体进行拍摄而获得图像数据，基于规定的阈值对该图像数据进行二值化处理而生成并保存二值化图像数据，基于从在所述规定时间t1内保存的该二值化图像数据得到的该粉粒体的累计像素、和由所述第一计测机构计测到的该规定时间t1内的所述变化量，生成表示该累计像素与该变化量的对应关系的校准线，基于该校准线，计测所述粉粒体散布工序的实施期间内的一定时间t2内的粉粒体的散布量。/n
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180514 JP 2018-0931741.一种粉粒体散布量检查装置，其在将贮存于容器内的粉粒体从该容器排出，使排出的该粉粒体自由落下而散布至散布对象物的粉粒体散布工序的实施期间，对散布在该散布对象物的粉粒体的质量进行检查，该粉粒体散布量检查装置的特征在于，包括：
第一计测机构，其用计量装置在时间上连续地对所述容器的质量和该容器内的粉粒体的质量的总质量进行计量，计测该总质量在规定时间t1内的变化量；和
第二计测机构，其用拍摄装置对向所述散布对象物自由落下的粉粒体进行拍摄而获得图像数据，基于规定的阈值对该图像数据进行二值化处理而生成并保存二值化图像数据，基于从在所述规定时间t1内保存的该二值化图像数据得到的该粉粒体的累计像素、和由所述第一计测机构计测到的该规定时间t1内的所述变化量，生成表示该累计像素与该变化量的对应关系的校准线，基于该校准线，计测所述粉粒体散布工序的实施期间内的一定时间t2内的粉粒体的散布量。
2.如权利要求1所述的粉粒体散布量检查装置，其特征在于：
所述第二计测机构在所述粉粒体散布工序的实施期间按每规定时间间隔t3更新所述校准线，基于更新后的校准线，计测粉粒体的散布量。
3.如权利要求1或2所述的粉粒体散布量检查装置，其特征在于：
所述第一计测机构包括2台所述计量装置，
所述粉粒体散布量检查装置包括异常判断机构，该异常判断机构基于使用所述2台计量装置中的1台计量装置计测到的所述变化量与使用另1台计量装置计测到的所述变化量之差，判断该计量装置是否异常。
4.如权利要求3所述的粉粒体散布量检查装置，其特征在于：
在所述粉粒体散布工序中，从所述容器排出的粉粒体在由输送装置沿规定的一个方向输送后，能够从该输送装置自由落下而散布至散布对象物，
所述输送装置包括：接收从所述容器排出的粉粒体的平板状的接收装置；使该接收装置振动的振动产生装置；和控制该振动产生装置的动作的控制部，通过在该控制部的控制下使该振动产生装置工作而使该接收装置振动，能够沿所述一个方向输送该接收装置上的粉粒体，
所述2台计量装置中的1台计量装置被用于所述控制部进行的所述振动产生装置的动作控制，另1台计量装置被用于所述第二计测机构进行的所述校准线的生成。
5.如权利要求4所述的粉粒体散布量检查装置，其特征在于：
所述控制部对所述振动产生装置的动作进行控制，使得所述输送装置上的粉粒体在与其输送方向正交的方向上均匀地分布。
6.如权利要求1至5中任一项所述的粉粒体散布量检查装置，其特征在于：
至少所述计量装置与所述容器一起被防风罩遮盖。
7.如权利要求1至6中任一项所述的粉粒体散布量检查装置，其特征在于：
所述第二计测机构包括生成所述校准线的校准线生成部，
所述校准线生成部根据所述规定时间t1内的所述粉粒体的累计像素和所述变化量，生成用令所述校准线的权重为常数的一次函数表示的所述校准线。
8.如权利要求7所述的粉粒体散布量检查装置，其特征在于：
所述第二计测机构包括质量运算部，该质量运算部基于所述校准线计测所述一定时间t2内的粉粒体的散布量，
所述质量运算部通过对所述一定时间t2内的所述粉粒体的累计像素乘以所述校准线的权重，计测该一定时间t2内的粉粒体的散布量。
9.如权利要求1至8中任一项所述的粉粒体散布量检查装置，其特征在于：
所述粉粒体包含选自吸水性聚合物颗粒、有机物的粉粒体和无机物的粉粒体中的至少1种。
10.一种粉粒体散布量检查方法，在将贮存于容器内的粉粒体从该容器排出，使排出的该粉粒体自由落下而散布至散布对象物的粉粒体散布工序的实施期间，对散布在该散布对象物的粉粒体的质量进行检查，该粉粒体散布量检查方法的特征在于，包括：
用计量装置在时间上连续地对所述容器的质量和该容器内的粉粒体的质量的总质量进行计量，计测该总质量在规定时间t1内的变化量的质量变化量计测工序；
用拍摄装置对向所述散布对象物自由落下的粉粒体进行拍摄而获得图像数据的拍摄处理工序；
基于规定的阈值对所述图像数据进行二值化处理而生成二值化图像数据的二值化处理工序；
基于从在所述规定时间t1内保存的所述二值化图像数据获得的粉粒体的累计像素、和在所述质量变化量计测工序中计测到的该规定时间t1内的所述变化量，生成表示该累计像素与该变化量的对应关系的校准线的校准线生成工序；和
基于所述校准线，计测所述粉粒体散布工序的实施期间内的一定时间t2内的粉粒体的散布量的散布量计测工序。
11.如权利要求10所述的粉粒体散布量检查方法，其特征在于：
通过按每规定时间间隔t3实施所述校准线生成工序来更新所述校准线，在所述散布量计测工序中，基于更新后的校准线，计测粉粒体的散布量。
12.如权利要求10或11所述的粉粒体散布量检查方法，其特征在于：
在所述质量变化量计测工序中，使用2台所述计量装置计测所述变化量，
所述粉粒体散布量检查方法包括：基于使用所述2台计量装置中的1台计量装置计测到的所述变化量与使用另1台计量装置计测到的所述变化量之差，判断该计量装置是否异常的异常判断工序。
13.如权利要求12所述的粉粒体散布量检查方法，其特征在于：
在所述粉粒体散布工序中，从所述容器排出的粉粒体在由输送装置沿规定的一个方向输送后，能够从该输送装置自由落下而散布至散布对象物，
所述输送装置包括：接收从所述容器排出的粉粒体的平板状的接收装置；使该接收装置振动的振动产生装置；和控制该振动产生装置的动作的控制部，通过在该控制部的控制下使该振动产生装置工作而使该接收装置振动，能够沿所述一个方向输送该接收装置上的粉粒体，
所述2台计量装置中的1台计量装置被用于所述控制部进行的所述振动产生装置的动作控制，另1台计量装置在所述校准线生成工序中被用于所述校准线的生成。
14.如权利要求13所述的粉粒体散布量检查方法，其特征在于：
所述控制部对所述振动产生装置的动作进行控制，使得所述输送装置上的粉粒体在与其输送方向正交的方向上均匀地分布。
15.如权利要求10至14中任一项所述的粉粒体散布量检查方法，其特征在于：
在所述校准线生成工序中，根据所述规定时间t1内的所述粉粒体的累计像素和所述变化量，生成用令所述校准线的权重为常数的一次函数表示的所述校准线。
16.如权利要求15所述的粉粒体散布量检查方法，其特征在于：
在所述散布量计测工序中，通过对所述一定时间t2内的所述粉粒体的累计像素乘以所述校准线的权重，计测该一定时间t2内的粉粒体的散布量。
17.如权利要求10至16中任一项所述的粉粒体散布量检查方法，其特征在于：
所述粉粒体包含选自吸水性聚合物颗粒、有机物...
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