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小型半导体激光尘埃粒子计数器制造技术

技术编号:2617778 阅读:188 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种小型半导体激光尘埃粒子计数器,包括光学系统、气路装置和控制系统,所述控制系统中,光电转换器件的输出经信号放大电路连接至信号甄别电路,所述信号放大电路中包括由微处理器控制的可编程放大器,其特征在于:所述控制电路中还设有灵敏度校正电路,所述灵敏度校正电路主要由绝对值放大电路和A/D转换电路构成,绝对值放大电路的输入端与信号放大电路的输出端电连接,其输出端经所述A/D转换电路连接至微处理器的输入接口。本实用新型专利技术实现了灵敏度的自动校正,保证了测试的准确性;同时电路结构简单,易于实现。(*该技术在2016年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测试空气中悬浮颗粒颗粒数的装置,具体涉及一种用于检测洁净环境的尘埃粒子计数器。
技术介绍
光学尘埃粒子计数器是检测洁净环境中尘埃颗粒浓度的仪器,它是以尘埃颗粒在激光束中产生的光散射现象为原理设计而成。其通常包括光学系统、气路装置和控制电路,其中的气路装置主要由采样管、散射腔、气泵、过滤器、流量测试及调节装置构成,开动气泵,空气中的尘埃粒子随采样气流通过位于散射腔中的光敏感区时,产生与其粒径相关的散射光脉冲,光学系统将散射光脉冲收集于光电转换器件,光电转换器件将光脉冲信号变为相应的电脉冲信号。信号处理系统将电脉冲信号放大,并经幅度甄别器甄别后由微处理器处理,最后得到各档粒径的尘埃粒子数。根据光散射原理,当尘埃颗粒的半径小于光的波长时,散射光强与入射光强、粒子半径及单位体积内的粒子数相关,因而,同一粒径的尘埃粒子,在不同的入射光强照射下,产生的散射光的光强不同,由此可能影响检测的准确度。虽然,目前使用的半导体激光器都有稳功率措施,但当半导体激光器损坏时,它并不是不发光,而是成了一块光斑,所以散射光将大大地降低,从而使仪器接收灵敏度也大大降低,由于散射腔是密封的,一般不易发本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种小型半导体激光尘埃粒子计数器,包括光学系统、气路装置和控制系统,所述控制系统包括激光器控制电路、光电转换器件、信号放大电路、信号甄别电路、计数电路、微处理器和气路控制电路,光电转换器件的输出经信号放大电路连接至信号甄别电路,所述信号放大电路中包括由微处理器控制的可编程放大器,其特征在于:所述控制电路中还设有灵敏度校正电路,所述灵敏度校正电路主要由绝对值放大电路和A/D转换电路构成,绝对值放大电路的输入端与信号放大电路的输出端电路连接,其输出端经所述A/D转换电路连接至微处理器的输入接口。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:邹丽新顾济华朱桂荣
申请(专利权)人:苏州大学
类型:实用新型
国别省市:32[中国|江苏]

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