一种合成孔径雷达差分干涉测量最大有效干涉基线计算方法技术

本发明专利技术涉及一种合成孔径雷达差分干涉测量最大有效干涉基线计算方法，步骤1：数据资料收集，包括：雷达中心发射频率、雷达系统带宽、雷达信噪比、SAR入射角、卫星飞行高度；步骤2：计算配准误差和雷达热噪声引起的失相干及临界干涉基线；步骤3：用本发明专利技术提供的数学模型，求取特定SAR传感器差分干涉测量最大有效干涉基线；步骤4：若SAR像对垂直基线小于最大有效干涉基线可进行差分干涉或小基线集干涉处理，否则需进行PS‑InSAR处理。本发明专利技术基于雷达中心发射频率、雷达系统带宽、雷达信噪比、卫星飞行高度、SAR入射角，运用所提供的数学模型求取合成孔径雷达差分干涉测量最大有效干涉基线，以决定进行InSAR处理具体方法从而获得研究区域地表形变分布信息。

【技术实现步骤摘要】
一种合成孔径雷达差分干涉测量最大有效干涉基线计算方法
本专利技术涉及空间对地观测、工程测量及地质灾害监测中获取地面(地表下同)沉降信息等领域，特别是区域地面沉降监测、由地下水超量开采引起的城市地面沉降监测、由矿区地下开采引起的地面沉降监测、地震同震形变监测等领域。本专利技术提供了在上述
中，计算合成孔径雷达差分干涉测量与小基线集(SBAS)干涉处理中最大有效干涉基线的一种方法。
技术介绍
在利用合成孔径雷达SAR(syntheticapertureradar)干涉测量获取地表(地面)形变信息中，可采取的具体处理方法有：差分雷达干涉测量(D-InSAR，Differentialsyntheticapertureradarinterferometry)和多时序合成孔径雷达干涉测量(Multi-temporalsyntheticapertureradarinterferometry)或称为高级时序InSAR技术[主要包括小基线数据集干涉法(SBAS，Small-baselinesubset)和永久散射体干涉法(PS-InSAR，persiste本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种合成孔径雷达差分干涉测量最大有效干涉基线计算方法，其特征在于，包括以下步骤：/n步骤1：收集雷达系统参数、SAR卫星位置与姿态参数；所述雷达系统参数包括：雷达中心发射频率f

【技术特征摘要】
1.一种合成孔径雷达差分干涉测量最大有效干涉基线计算方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤1：收集雷达系统参数、SAR卫星位置与姿态参数；所述雷达系统参数包括：雷达中心发射频率f0、雷达系统带宽Bw和雷达信噪比SNR；所述SAR卫星位置与姿态参数包括：SAR卫星飞行高度H0、雷达入射角θ；
步骤2：依据雷达信噪比SNR与SAR影像配准误差分别计算雷达热噪声和影像配准误差引起的失相干，再根据雷达中心发射频率f0、雷达系统带宽Bw、SAR卫星高度H0、雷达入射角θ，求取临界干涉基线；
步骤3：根据临界干涉基线、SAR影像配准误差与雷达热噪声引起的失相干，利用本发明提供的数学模型，求取最大有效干涉基线，以决定进行InSAR处理的具体方法；
步骤4：若SAR影像对垂直基线小于最大有效干涉基线，则可进行差分干涉测量(D-InSAR，Differentialsyntheticapertureradarinterferometry)或小基线集(Small-baselinesubset，SBAS)干涉处理，否则需要进行PS-InSAR(persistentscatterersyntheticapertureradarinterferometry)干涉处理，以获取干涉测量成果—研究区域地表形变分布信息。


2.根据权利要求1所述的差分干涉测量最大有效干涉基线计算方法，其特征在于：所述步骤1中的，依据供应商提供SAR数据的头文件或参数文件中获取到：雷达中心发射频率f0、雷达系统带宽Bw、雷达信噪比SNR，以及SAR卫星飞行高度H0、雷达入射角θ。


3.根据权利要求1所述的合成孔径雷达差分干涉测量临界干涉基线计算方法，其特征在于：所述步骤2具体实现过程为：
(1)依据雷达信噪比，用以下公式计算雷达热噪声引起的失相干：

【专利技术属性】
技术研发人员：常占强，王微，祝杰，张志强，
申请(专利权)人：首都师范大学，
类型：发明
国别省市：北京;11