按键测试设备及测试方法技术

本发明专利技术提供一种按键测试设备及测试方法。该设备包括电气箱，按键测试运动机构和产品夹具，电气箱包括箱体，设置于箱体内的计数器和计时器以及下端固定于箱体上的支撑架；按键测试运动机构包括驱动机构和测试压头，驱动机构固定于支撑架的上部，测试压头固定于驱动机构的下端，测试压头在驱动机构驱动下向下按压或向上抬起，通过设置用于记录和控制测试压头的按压次数的计数器，实现了对按键的按压次数的控制；通过设置用于控制测试压头的单次按压时长的计时器，实现了对于按键单次的按压持续时长的控制，通过调整单次按压时长可以测试出不同的单次按压时长下的按键使用寿命，可有效模拟真实使用场景，提高了按键耐久性测试的精准度。

Key testing equipment and testing method

【技术实现步骤摘要】
按键测试设备及测试方法
本专利技术涉及电子元件领域，尤其涉及一种按键测试设备及测试方法。
技术介绍
目前对终端类产品的按键寿命的测试，通常是使用传统的按键测试机，主要包括以下类型：气动按键寿命测试机，电动按键寿命测试机等。其中，气动按键寿命测试机是运用气动部件带动测试压头上下来回移动，从而来反复打击按键；电动按键寿命测试机是运用马达传动偏心轮通过连杆代用测试压头上下来回移动，从而来反复打击按键。现有的上述按键测试机，均是通过测试按键的使用次数是否能够达到预先设定好的测试次数，来进行按键寿命的测试。对于某些终端产品的按键，用户使用按键时每次按下按键需持续较长时间，例如对讲机上的PTT键等。按键按压持续时间的长短对按键寿命的影响很大。但是，现有的按键测试机无法测试出按键按压持续时间对按键寿命的影响，导致按键寿命的测试结果精准度低，无法满足测试要求。
技术实现思路
本专利技术提供一种按键测试设备及测试方法，用以解决现有的按键测试机无法测试出按键按压持续时间对按键寿命的影响，导致按键寿命的测试结果精准度低，无法满足测本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种按键测试设备，其特征在于，包括：电气箱，按键测试运动机构和产品夹具；/n所述电气箱包括箱体，设置于所述箱体内的计数器和计时器，以及下端固定于所述箱体上的支撑架；/n所述按键测试运动机构包括驱动机构和测试压头，所述驱动机构固定于所述支撑架的上部，所述测试压头固定于所述驱动机构的下端，所述测试压头在所述驱动机构驱动下向下按压或向上抬起；/n所述计数器与所述驱动机构电连接，用于记录和控制所述测试压头的按压次数；/n所述计时器与所述驱动机构电连接，用于控制所述测试压头的单次按压时长；/n所述产品夹具固定于所述箱体的顶部、且位于所述测试压头的下方。/n

【技术特征摘要】
1.一种按键测试设备，其特征在于，包括：电气箱，按键测试运动机构和产品夹具；
所述电气箱包括箱体，设置于所述箱体内的计数器和计时器，以及下端固定于所述箱体上的支撑架；
所述按键测试运动机构包括驱动机构和测试压头，所述驱动机构固定于所述支撑架的上部，所述测试压头固定于所述驱动机构的下端，所述测试压头在所述驱动机构驱动下向下按压或向上抬起；
所述计数器与所述驱动机构电连接，用于记录和控制所述测试压头的按压次数；
所述计时器与所述驱动机构电连接，用于控制所述测试压头的单次按压时长；
所述产品夹具固定于所述箱体的顶部、且位于所述测试压头的下方。


2.根据权利要求1所述的按键测试设备，其特征在于，所述按键测试运动机构还包括：用于检测所述测试压头向下按压位移的位移传感器；
所述计时器用于在所述测试压头向下按压位移达到预设阈值时，开始计时，并在计时达到设定按压时长时，控制所述驱动机构驱动所述测试压头向上抬起。


3.根据权利要求2所述的按键测试设备，其特征在于，所述计数器用于在所述测试压头向下按压位移达到预设阈值时，进行一次计数；并在计数达到设定按压次数时，控制所述驱动机构停止。


4.根据权利要求1所述的按键测试设备，其特征在于，所述按键测试运动机构还包括：压力调节阀，所述压力调节阀用于调节所述驱动机构的驱动动力，以调节所述测试压头的按压压力。


5.根据权利要求1或4所述的按键测试设备，其特征在于，所述驱动机构包括：按压气缸，和将所述按压气缸固定于所述支撑架上的气缸支架。


6.根据权利要求2所述的按键测试设...

【专利技术属性】
技术研发人员：张柯，王胜凯，李想，陈山保，高鹏举，刘博，
申请(专利权)人：成都鼎桥通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51