多天线无线设备空口测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种多天线无线设备空口测试装置，包括：暗室，暗室的内壁上设置有吸波材料；多个耦合探头，多个耦合探头可活动地设置于暗室内，用于同时或单独对当前探头所处位置的预设的近场辐射范围内天线进行能量耦合传输，其中，每个耦合探头的探头顶部往馈线5厘米内所有的横截面内金属的最大尺寸小于或等于5厘米，以获取所述多天线无线设备的收发性能。根据本发明专利技术实施例的测试装置，可以对天线采用单独近场耦合的方式，并且可以同时或单独在近场辐射距离内对天线进行空口测试，不但提高测试的工作效率，而且有效提高测试的准确性。

【技术实现步骤摘要】
多天线无线设备空口测试装置
本专利技术涉及无线设备性能测试
，特别涉及一种多天线无线设备空口测试装置。
技术介绍
在无线设备发售之前，无线设备的产线测试主要测试无线设备收发性能，从而避免出售射频性能不满足要求的无线设备，避免影响用户体验。然而，相关技术中，对无线设备的测试方式都是单线测试，但是随着无线设备本身天线数量的增多，比如MIMO无线设备中，用于通信的天线会有多个，如果每一个天线的射频性能都需要测试，测试需要的时间较长，测试的工作效率较低，而且相关技术均为远场测试，测试系统成本高，有待解决。
技术实现思路
本专利技术旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本专利技术的目的在于提出一种多天线无线设备空口测试装置，该测试装置可以提高测试的工作效率，并且提高测试的准确性，简单易实现。为达到上述目的，本专利技术实施例提出了一种多天线无线设备空口测试装置，包括：暗室，所述暗室的内壁上设置有吸波材料；多个耦合探头，所述多个耦合探头可活动地设置于所述暗室内，用于同时或单独对当前探头所处位置的预设的近场辐射范围内天线进行能量耦合传输，其中，所述每个耦合探头的探头顶部往馈线5厘米内所有的横截面内金属的最大尺寸小于或等于5厘米，以获取所述多天线无线设备的收发性能。本专利技术实施例的多天线无线设备空口测试装置，通过多个耦合探头对无线设备的每个天线同时进行性能测试，从而实现多天线同时或单独在近场辐射距离测试的目的，不但可以对天线采用单独近场耦合的方式，并且可以同时对多个天线进行空口测试，进而有效提高测试的工作效率，而且有效提高测试的准确性，简单易实现。另外，根据本专利技术上述实施例的多天线无线设备空口测试装置还可以具有以下附加的技术特征：进一步地，在本专利技术的一个实施例中，所述预设的近场辐射范围根据以下公式得到：或者其中，D为所述多天线无线设备的最大物理尺寸，R为所述近场辐射范围的半径，λ为波长。可选地，在本专利技术的一个实施例中，所述每个耦合探头的横截面内金属的最大尺寸小于所述多天线无线设备的最大物理尺寸。可选地，在本专利技术的一个实施例中，所述每个耦合探头的横截面内金属的最大尺寸小于对应的天线的最大物理尺寸。可选地，在本专利技术的一个实施例中，所述多天线无线设备为移动终端时，耦合探头为预设带宽的宽带探头。进一步地，在本专利技术的一个实施例中，还包括：放置组件，用于放置所述多天线无线设备。进一步地，在本专利技术的一个实施例中，还包括：多个移动组件，所述多个移动组件的每个移动组件分别与所述多个耦合探头的每个耦合探头相连，以改变对应耦合探头的位置。进一步地，在本专利技术的一个实施例中，还包括：竖直位置调整件，所述竖直位置调整件与所述放置组件相连，以调整所述放置组件的竖直高度。进一步地，在本专利技术的一个实施例中，还包括：第一控制组件，所述第一控制组件与所述竖直位置调整件和所述放置组件相连，以控制所述竖直位置调整件和所述放置组件执行相应动作，使得所述多天线无线设备达到目标位置。进一步地，在本专利技术的一个实施例中，还包括：第二控制组件，所述第二控制组件分别与所述每个移动组件相连，以根据所述多天线无线设备的所述目标位置调整所述多个耦合探头的每个耦合探头的位置和方向。本专利技术附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。附图说明本专利技术上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1为相关技术的测的多天线无线设备的结构示意图；图2为根据相关技术的天线无线设备的远场测试示意图；图3为根据相关技术的天线无线设备的近场测试示意图；图4为根据相关技术的天线无线设备的耦合测试示意图；图5为根据本专利技术实施例的多天线无线设备空口测试装置的结构示意图；图6为根据本专利技术一个实施例的耦合探头的结构示意图；图7为根据本专利技术一个实施例的多天线无线设备空口测试装置的原理示意图；图8为根据本专利技术另一个实施例的多天线无线设备空口测试装置的原理示意图。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。下面在描述根据本专利技术实施例提出的多天线无线设备空口测试装置之前，以多天线无线终端测试为例，先来简单描述一下远场测试、现有近场测试技术和耦合测试的缺陷。具体地，如图1所示，以一个完整的4天线无线终端模拟被测件，在一块140×70mm的PCB板的四个角上各放一个PIFA天线，四个天线接在同一个地面上，天线工作在3.5GHz。在相关技术的远场测试中，如图2所示，将被测件放入远场大暗室中，测试方法如下：通过转动转台极轴改变被测件和测试天线的相对位置，从而测试被测件的所有辐射和接收性能。但是，远场测试距离远，需要满足标准测距要求，其中，测试距离大于2D2/，D是被测件的最大物理尺寸，λ是波长，导致暗室体积较大，占用空间也大，容易受到场地限制，而且每个天线单独打开评估，测试效率低。在相关技术的近场测试中，如图3所示，在屏蔽室内部放置多个测试天线，从而对被测件固定位置进行辐射或者接收测试，以总体值或者最大值作为评估被测件性能标准。然而，近场测试虽然测距小，可以把屏蔽室做的比较小，占用空间小，克服远场测试的缺陷，但是需要评估每一个测试天线接收到的功率，测试效率较低，测试准确性无法得到保证。在相关技术的耦合测试中，如图4所示，将一个或者多个耦合板或者耦合天线放置在被测件周围，所有的天线都通过一个耦合天线进行测试，其中放置多个耦合天线是为了适应宽频的工作条件，比如一个天线针对一个测试频带。虽然可以将屏蔽室做的很小，成本较低，然而，针对多天线被测件需要单独测试每一个天线性能(所有天线不能同时测试)，测试时间较长，以及还存在耦合天线或者耦合板距离某些天线较远，增益不足，测试精度较低，也是测试准确性无法得到保证。本专利技术正是基于上述问题，而提出了一种多天线无线设备空口测试装置。下面参照附图描述根据本专利技术实施例提出的多天线无线设备空口测试装置。图5是本专利技术实施例的多天线无线设备空口测试装置的结构示意图。如图5所示，该多天线无线设备空口测试装置10包括：暗室100和多个耦合探头(如图中耦合探头201、耦合探头202、耦合探头203和耦合探头204所示)。其中，暗室100的内壁上设置有吸波材料101。多个耦合探头可活动地设置于暗室100内，用于同时或单独对当前探头所处位置的预设的近场辐射范围内天线进行能量耦合传输，其中，每个耦合探头的探头顶部往馈线5厘米内所有的横截面内金属的最大尺寸小于或等于5厘米，以获取多天线无线设备20的收发性能。可以理解的是，通过可活动本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多天线无线设备空口测试装置，其特征在于，包括：/n暗室，所述暗室的内壁上设置有吸波材料；/n多个耦合探头，所述多个耦合探头可活动地设置于所述暗室内，用于同时或单独对当前探头所处位置的预设的近场辐射范围内天线进行能量耦合传输，其中，所述每个耦合探头的探头顶部往馈线5厘米内所有的横截面内金属的最大尺寸小于或等于5厘米，以获取所述多天线无线设备的收发性能。/n

【技术特征摘要】
1.一种多天线无线设备空口测试装置，其特征在于，包括：
暗室，所述暗室的内壁上设置有吸波材料；
多个耦合探头，所述多个耦合探头可活动地设置于所述暗室内，用于同时或单独对当前探头所处位置的预设的近场辐射范围内天线进行能量耦合传输，其中，所述每个耦合探头的探头顶部往馈线5厘米内所有的横截面内金属的最大尺寸小于或等于5厘米，以获取所述多天线无线设备的收发性能。


2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述预设的近场辐射范围根据以下公式得到：

或者



其中，D为所述多天线无线设备的最大物理尺寸，R为所述近场辐射范围的半径，λ为波长。


3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述每个耦合探头的横截面内金属的最大尺寸小于所述多天线无线设备的最大物理尺寸。


4.根据权利要求1或3所述的装置，其特征在于，所述每个耦合探头的横截面内金属的最大尺寸小于对应的天线的最大物理尺寸。


5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述多天线无线设备为移动终...

【专利技术属性】
技术研发人员：漆一宏，于伟，
申请(专利权)人：深圳市通用测试系统有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44