【技术实现步骤摘要】
显示面板残影测试方法、装置和计算机设备
本申请涉及显示
，特别是涉及一种显示面板残影测试方法、装置和计算机设备。
技术介绍
在显示领域，无论OLED显示屏还是液晶显示屏，在长时间停留在一个画面时都容易产生残影的现象。现有判断残影残留的方法主要是人眼目视判断。通过培训技术人员对不同测试结果等级的画面形成记忆，从而来判断残影的级别，此方法对技术人员的能力要求较高，且人眼目视确认存在不可避免的视觉差异，不同的人员之间很难做到标准完全统一。这就导致了同一张图片不同时刻不同技术人员得出的结果可能存在差异。这都影响了残影严重程度的判断。
技术实现思路
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种显示面板残影测试方法、装置和计算机设备。一种显示面板残影测试方法，包括：提供灰度相同的基准画面和测试画面，其中，所述测试画面包括测试图形，显示面板显示所述测试画面时，所述测试图形对应的所述显示面板的区域为亮度监测区域；控制所述显示面板显示依次显示所述基准画面、所述测试画面和所述基准画面，当所述...
【技术保护点】
1.一种显示面板残影测试方法，其特征在于，包括：/n提供灰度相同的基准画面和测试画面，其中，所述测试画面包括测试图形，显示面板显示所述测试画面时，所述测试图形对应的所述显示面板的区域为亮度监测区域；/n控制所述显示面板依次显示所述基准画面、所述测试画面和所述基准画面，当所述显示面板第一次显示所述基准画面时，在所述亮度监测区域采集初始亮度值，当所述显示面板第二次显示所述基准画面时，每间隔预设时间长度在所述亮度监测区域采集多个测试亮度值；/n根据所述初始亮度值、所述测试亮度值和所述预设时间长度，判断所述显示面板的残影级别。/n
【技术特征摘要】
1.一种显示面板残影测试方法，其特征在于，包括：
提供灰度相同的基准画面和测试画面，其中，所述测试画面包括测试图形，显示面板显示所述测试画面时，所述测试图形对应的所述显示面板的区域为亮度监测区域；
控制所述显示面板依次显示所述基准画面、所述测试画面和所述基准画面，当所述显示面板第一次显示所述基准画面时，在所述亮度监测区域采集初始亮度值，当所述显示面板第二次显示所述基准画面时，每间隔预设时间长度在所述亮度监测区域采集多个测试亮度值；
根据所述初始亮度值、所述测试亮度值和所述预设时间长度，判断所述显示面板的残影级别。
2.如权利要求1所述的显示面板残影测试方法，其特征在于，所述控制所述显示面板显示依次显示所述基准画面、所述测试画面和所述基准画面，当所述显示面板第一次显示所述基准画面时，在所述亮度监测区域采集初始亮度值，当所述显示面板第二次显示所述基准画面时，每间隔预设时间长度在所述亮度监测区域采集多个测试亮度值包括：
控制所述显示面板在第一预设时间长度显示所述基准画面，采集所述亮度监测区域的所述初始亮度值；
控制所述显示面板在第二预设时间长度显示所述测试画面；
控制所述显示面板显示所述基准画面，每间隔第三预设时间长度在所述亮度监测区域采集多个测试亮度值；
其中，所述第一预设时间长度和所述第二预设时间长度大于所述第三预设时间长度。
3.如权利要求2所述的显示面板残影测试方法，其特征在于，所述根据所述初始亮度值、所述测试亮度值和所述预设时间长度，判断所述显示面板的残影级别包括：
根据每个所述测试亮度值与所述初始亮度值的差与所述初始亮度值的比值，得到所述亮度监测区域的多个亮度变化量；
当所述亮度变化量不大于亮度变化预设值时，根据计算所述亮度变化量对应的采集所述测试亮度值的时间，判断所述显示面板的残影级别。
4.如权利要求1所述的显示面板残影测试方法，其特征在于，所述测试图形为圆形区域。
5.如权利要求1所述的显示面板残影测试方法，其特征在于，所述测试画面包括第一测试画面和第二测试画面，所述测试图形包括第一测试图形和第二测试图形，所述第一测试画面包括所述第一测试图形，所述第二测试画面包括所述第二测试图形，所述第一测试图形的颜色和所述第二测试图形的颜色不同，所述初始亮度值包括第一初始亮度值和第二初始亮度值，所述测试亮度值包括第一测试亮度值和第二测试亮度值；
所述亮度监测区域包括第一亮度监测区域和第二亮度监测区域，所述显示面板显示所述第一测试画面时，所述第一测试图形对应的所述显示面板...
【专利技术属性】
技术研发人员：林志明，
申请(专利权)人：合肥维信诺科技有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34
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