【技术实现步骤摘要】
一种光纤宏弯测试装置的使用方法
本专利技术涉及光纤
，更具体地说，涉及一种光纤宏弯测试装置的使用方法。
技术介绍
现有技术中，大多数光纤光缆厂在对光纤进行宏弯测试时，都是使用V型槽来连接测试仪器的引纤与被测光纤。然而，V型槽在测试过程中压块容易松动，导致测试仪器的注入功率发生变化，当被测光纤的输入端面或输出端面的平整度、光滑度较差时，也会导致测试仪器的注入功率不稳定，从而不能保证宏弯损耗测试的真实性。综上所述，如何提供一种可有效保证宏弯损耗测试准确性的测试方法，是目前本领域技术人员亟待解决的问题。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的是提供一种光纤宏弯测试装置的使用方法，其可以有效保证宏弯损耗测试的准确性。为了实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种光纤宏弯测试装置的使用方法，所述光纤宏弯测试装置包括：用于控制光纤进行宏弯损耗测试的测试仪器、用于衔接所述测试仪器的输出端和所述光纤的引纤以及用于将所述引纤和所述光纤融合为一体的熔接机，所述使用方法包括：...
【技术保护点】
1.一种光纤宏弯测试装置的使用方法，所述光纤宏弯测试装置包括：用于控制光纤(4)进行宏弯损耗测试的测试仪器(1)、用于衔接所述测试仪器(1)的输出端和所述光纤(4)的引纤(3)以及用于将所述引纤(3)和所述光纤(4)融合为一体的熔接机(2)，其特征在于，所述使用方法包括：/nS1、熔接机(2)将测试仪器(1)输出端的引纤(3)和光纤(4)融合为一体；/nS2、所述测试仪器(1)控制所述光纤(4)进行打圈操作，并记录弯曲状态下的所述光纤(4)的衰减情况和第一功率损耗值；/nS3、所述测试仪器(1)控制打圈的所述光纤(4)进行松开操作，并记录直线状态下的所述光纤(4)的衰减情况...
【技术特征摘要】
1.一种光纤宏弯测试装置的使用方法，所述光纤宏弯测试装置包括：用于控制光纤(4)进行宏弯损耗测试的测试仪器(1)、用于衔接所述测试仪器(1)的输出端和所述光纤(4)的引纤(3)以及用于将所述引纤(3)和所述光纤(4)融合为一体的熔接机(2)，其特征在于，所述使用方法包括：
S1、熔接机(2)将测试仪器(1)输出端的引纤(3)和光纤(4)融合为一体；
S2、所述测试仪器(1)控制所述光纤(4)进行打圈操作，并记录弯曲状态下的所述光纤(4)的衰减情况和第一功率损耗值；
S3、所述测试仪器(1)控制打圈的所述光纤(4)进行松开操作，并记录直线状态下的所述光纤(4)的衰减情况和第二功率损耗值；
...
【专利技术属性】
技术研发人员：廖度君，刘文早，贾龙，李应剑，向勇，
申请(专利权)人：成都中住光纤有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51
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