一种内凹薄壁异形管波峰壁厚测量定位装置及其测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了内凹薄壁异形管波峰壁厚测量定位装置，包括设置在三坐标测量工作台上的基座、定位块及安装在基座上的夹紧测量组件；夹紧测量组件包括夹紧固定座和支撑块，支撑块的底端安装在夹紧固定座内，支撑块穿过内凹薄壁异形管的管腔，且该支撑块的支撑面上形成有支撑部；定位块设置在三坐标测量工作台靠近夹紧测量组件的一侧，定位块的尺寸与内凹薄壁异形管的尺寸相配合以用于固定内凹薄壁异形管的位置。棱边顶点模拟内凹薄壁异形管的被测波峰位置，通过悬挂定位方式，棱边顶点与内凹薄壁异形管的波峰位置点接触支撑，再利用三坐标测量仪，测量得出内凹薄壁异形管壁厚，测量参数准确、测量结果稳定可靠。

【技术实现步骤摘要】
一种内凹薄壁异形管波峰壁厚测量定位装置及其测量方法
本专利技术属于机械加工
，尤其是涉及一种内凹薄壁异形管波峰壁厚测量定位装置及其测量方法。
技术介绍
内凹薄壁异形管波峰壁厚的测量，由于测量空间小、薄壁等原因，一直以来都难以直接测量。以往测量内凹薄壁异形管波峰壁厚，是在零件成型前，用壁厚千分尺测量波峰位置车薄带的壁厚，但是异形管的异形部位在成型过程中会受到较大的压力，壁厚会发生变化，因此管坯测量数据不再使用。以往还可以通过破坏成型零件的办法，再用壁厚千分尺进行测量，但是不能满足要求。因此，成型后的异形管异形出波峰壁厚的准确测量一直是一个难题。近年来，随着三坐标测量技术的广泛应用，使得内凹异形管波峰壁厚测量成为了可能，通过应用测头转换技术，可以测量出波峰内外对应点，从而得出壁厚。当该类件壁厚超薄约≤0.3mm时，采用测头在被测壁厚内外打点测量的时候，零件会产生变形，并且，由于内凹异形管自身特点，在测量时对内凹异形管不能直接定位，在很大程度上直接影响到对内凹异形管的测量精度。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对现本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种内凹薄壁异形管波峰壁厚测量定位装置，其特征在于：包括基座、定位块及安装在基座上的夹紧测量组件；/n所述夹紧测量组件包括夹紧固定座和支撑块，所述支撑块的一端安装在夹紧固定座内，另一端延伸出夹紧固定座而形成悬空状态，用于穿过待测内凹薄壁异形管的管腔，在所述支撑块的支撑面上形成一支撑部以用于在测量时支撑待测内凹薄壁异形管的内壁顶点；/n所述定位块设置在靠近夹紧测量组件的一侧以用于与夹紧固定座配合夹紧待测内凹薄壁异形管。/n

【技术特征摘要】
1.一种内凹薄壁异形管波峰壁厚测量定位装置，其特征在于：包括基座、定位块及安装在基座上的夹紧测量组件；
所述夹紧测量组件包括夹紧固定座和支撑块，所述支撑块的一端安装在夹紧固定座内，另一端延伸出夹紧固定座而形成悬空状态，用于穿过待测内凹薄壁异形管的管腔，在所述支撑块的支撑面上形成一支撑部以用于在测量时支撑待测内凹薄壁异形管的内壁顶点；
所述定位块设置在靠近夹紧测量组件的一侧以用于与夹紧固定座配合夹紧待测内凹薄壁异形管。


2.根据权利要求1所述的内凹薄壁异形管波峰壁厚测量定位装置，其特征在于：所述支撑块的支撑面为一刀口形，所述刀口形的棱边以用于与内凹薄壁异形管的波峰位置相接触。


3.根据权利要求2所述的内凹薄壁异形管波峰壁厚测量定位装置，其特征在于：所述棱边的截面为圆弧形，该圆弧形以用于与所述内凹薄壁异形管的波峰位置点接触支撑。


4.根据权利要求3所述的内凹薄壁异形管波峰壁厚测量定位装置，其特征在于：所述棱边直线度小于0.001mm。


5.根据权利要求4所述的内凹薄壁异形管波峰壁厚测量定位装置，其特征在于：所述支撑块的长度大于内凹薄壁异形管的轴向长度。


6.根据权利要求5所述的内凹薄壁异形管波峰壁厚测量定位装置，其特征在于：所述夹紧固定座上设有螺旋组件，用于在水平方向上夹紧所述支撑块。


7.根据权利要求6所述的内凹薄壁异形管波峰壁厚测量定位装置，其特征在于：所述夹紧固定座的平行度为0.003/100...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘红，叶瑞夺，张云江，王超，刘海梅，付兰兰，
申请(专利权)人：核工业理化工程研究院，
类型：发明
国别省市：天津;12