一种物体微小形变的快速检测方法及检测系统技术方案

本发明专利技术公开了一种物体微小形变的快速检测方法，包括如下步骤：将N个半导体激光器构成半导体矩阵；在被监测物体的表面，涂上大小均匀的黑白网格，网格交叉点作为观察点；点亮激光器阵列使光斑投影在观察点的中心位置；在被监测物体未工作时，随机点亮激光器阵列，采集n个观察点反射光信号的n次测量结果，记为标定向量；在被监测物体工作后，采用步骤S4中的点亮方式点亮激光器阵列，采集n个观察点反射的光信号的n次测量结果，记为检测向量；计算标定向量和检测向量差的二范数，将二范数与设定阈值对比，判断被测物体是否发生形变。本方法可以准确高效的判断出物体的细微位移，同时不会对被测物体产生破坏和影响，而且检测效率和精度很高。

A fast detection method and system for small deformation of objects

【技术实现步骤摘要】
一种物体微小形变的快速检测方法及检测系统
本专利技术属于形变检测
，具体涉及一种物体微小形变的快速检测方法及检测系统。
技术介绍
在工业生产等过程中，加床等设备上通常装配有很多零部件，在一些特殊的环境里，由于温度的急剧变化，有些零部件会产生微小的形变，或者是类似冲压机床等由于受到外力的作用而发生微小的形变，从而导致出现事故隐患，因此需要进行相应的实时监测。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是针对上述现有技术的不足，提供一种物体微小形变的快速检测方法及检测系统。为实现上述技术目的，本专利技术采取的技术方案为：一种物体微小形变的快速检测方法，其中：包括如下步骤：步骤S1：将N个半导体激光器，构成一个半导体矩阵；步骤S2：在被监测物体的光滑表面，涂上大小均匀的黑白网格，其中黑白网格交叉分布，网格交叉点作为观察点；步骤S3：点亮激光器阵列中的半导体激光器，并将每个激光器的光斑投影到观察点上并进行校准，使光斑投影在观察点的中心位置；步骤S4：在被监测物体未发生位移时，随机本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种物体微小形变的快速检测方法，其特征在于，包括如下步骤：/n步骤S1：将N个半导体激光器，构成一个半导体矩阵；/n步骤S2：在被监测物体的光滑表面，涂上大小均匀的黑白网格，其中黑白网格交叉分布，网格交叉点作为观察点；/n步骤S3：点亮激光器阵列中的半导体激光器，并将每个激光器的光斑投影到观察点上并进行校准，使光斑投影在观察点的中心位置；/n步骤S4：在被监测物体未工作时，随机点亮激光器阵列中的半导体激光器，采用光电探测器探测n个观察点反射光信号的n次测量结果，记为标定向量；/n步骤S5：在被监测物体工作后，采用步骤S4中的点亮方式点亮激光器阵列中的半导体激光器，采用光电探测器探测n个观察...

【技术特征摘要】
1.一种物体微小形变的快速检测方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤S1：将N个半导体激光器，构成一个半导体矩阵；
步骤S2：在被监测物体的光滑表面，涂上大小均匀的黑白网格，其中黑白网格交叉分布，网格交叉点作为观察点；
步骤S3：点亮激光器阵列中的半导体激光器，并将每个激光器的光斑投影到观察点上并进行校准，使光斑投影在观察点的中心位置；
步骤S4：在被监测物体未工作时，随机点亮激光器阵列中的半导体激光器，采用光电探测器探测n个观察点反射光信号的n次测量结果，记为标定向量；
步骤S5：在被监测物体工作后，采用步骤S4中的点亮方式点亮激光器阵列中的半导体激光器，采用光电探测器探测n个观察点反射的光信号的n次测量结果，记为检测向量；
步骤S6：计算标定向量和检测向量差的二范数，将二范数与设定阈值对比，判断被测物体是否发生形变。


2.根据权利要求1所述的一种物体微小形变的快速检测方法，其特征在于：所述步骤2中，每个观察点对应一个半导体激光器。


3.根据权利要求2所述的一种物体微小形变的快速检测方法，其特征在于：所述标定向量Y为：



Y(I...

【专利技术属性】
技术研发人员：张健，何睿清，魏峘，赵静，覃翠，余辉龙，包永强，张瑾，
申请(专利权)人：南京工程学院，
类型：发明
国别省市：江苏;32