一种反散射式X射线扫描仪制造技术

一种反散射式Ｘ射线扫描仪，主要包括Ｘ射线源，飞点射线束发生器，设置在Ｘ射线源前面的扇形准直器，探测器以及信号采集与处理系统，所述的Ｘ射线源（１），飞点射线束发生器（９），扇形准直器（２），探测器（８）置于被检物体（４）的同一侧，其特征在于：所述的飞点射线束发生器采用一个可旋转的圆桶状直线飞点扫描结构，在圆桶的同一圆周上均匀开有１～４个圆形或方形小孔（１０），其内侧镶有铅或重金属屏蔽层；所述的Ｘ射线源和扇形准直器均设置在圆桶内。（*该技术在2013年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种反散射式射线扫描检测装置，尤其涉及一种反散射式X射线扫描仪，属于社会安全检查及安全防范测量设备

技术介绍
反散射式射线扫描仪是利用射线射在物体上反散射回来的信息进行测量处理，进而计算出本检测物体表层的内物质分布的图象和信息的一种装置。该装置可为机场、车站、各种楼、堂、馆、所的社会安全提供保障。此种装置的射线源可以采用同位素或X射线。扫描时有的是使用扁平束扫描的，也有飞点扫描的。其工作原理如图1所示射线管1放出射线，被前准直器2准直为一扁平扇形入射束3，射在做直线相对运动的被检物体4上，形成一扫描线5，射线沿扫描线在被检物体上形成反方向散射射线6，经探测器准直器7，达到与射线源在同一侧的射线探测器8，探测器测量到了散射射线，经过计算机信息处理便可以得到被检物体的表层情况图象。中国技术专利申请(申请号01120599)公开了“一种γ背散射成像无损检测方法及装置”，该技术采用放射性同位素γ射线源，其特点是射线源整体尺寸小、射线强度受限制，但射线源的焦点偏大。然而准直器及射线的屏蔽可以设计的紧凑，形成飞点的狭缝旋转体也可以很紧凑。但是棒状束(笔形束)的尺寸仍然偏大，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：貊大卫，王永庆，张力生，吴利存，
申请(专利权)人：貊大卫，
类型：实用新型
国别省市：