空气颗粒物采样器切割器制造技术

技术编号:2615106 阅读:232 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术是一种在环保监测仪器空气颗粒物采样器上使用的切割器,为克服现有可吸入颗粒物采样器只用于采样可吸入颗粒物,不能同时用于采样总悬浮颗粒物的缺点,它包括上盖板1、壳体3、捕集板4、壳体8和密封垫9。上盖板1上具有一级导流孔2,捕集板4上具有二级导流孔7。捕集板4的上表面上安装有一级滤膜5,一级滤膜5上具有导流孔6。它用于空气颗粒物采样器上,可以同时采样可吸入颗粒物和总悬浮颗粒物。(*该技术在2010年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种在环保监测仪器空气颗粒物采样器上使用的切割器。空气中的总悬浮颗粒物(TSP)是指空气动力学直径小于100μm的颗粒,可吸入颗粒物(PM10)是指空气动力学直径小于10μm的颗粒。空气颗粒物采样器分为总悬浮颗粒物采样器和可吸入颗粒物采样器。可吸入颗粒物采样器必须具备颗粒物分离装置(又称切割器),空气样品经过切割器时,粗的颗粒被截流,直径小于10μm的可吸入颗粒物被后面的滤膜阻留,可用称重法进行测定。目前公开的可吸入颗粒物采样器一般只用于测量可吸入颗粒物,不能同时用于测量总悬浮颗粒物。本技术的目的是提供一种既能用于测量可吸入颗粒物,同时又能用于测量总悬浮颗粒物的空气颗粒物采样器切割器。本技术的目的是这样实现的,空气颗粒物采样器切割器,包括上盖板1、壳体3、捕集板4、壳体8和密封垫9;上盖板1位于壳体3的上端,捕集板4位于壳体3的下端与壳体8的上端之间,密封垫9安装在壳体8的下端;上盖板1上具有均匀分布的一级导流孔2,捕集板4上具有均匀分布的二级导流孔7;它的特殊之处是,捕集板4的上表面上安装有一级滤膜5,一级滤膜5上具有与二级导流孔7对应的并且与二级导流孔7同轴的导流孔6。密封垫9的下面用于安装二级滤膜,二级滤膜用于阻留可吸入颗粒物。一级滤膜5用于捕获直径大于10μm小于100μm的颗粒物。本技术的导流孔6与二级导流孔7的孔径相等。本技术的一级导流孔2与二级导流孔7相互平行,并且两者在轴线方向的投影不重叠。一级导流孔2与二级导流孔7在轴线方向的投影不重叠,可以避免大于10μm的颗粒经一级导流孔2喷出后,进入二级导流孔7中。本技术的二级导流孔7相对于一级导流孔2的轴线对称。本技术的一级滤膜5夹在壳体3的下端与捕集板4的上表面之间。本技术的上盖板1与壳体3成一体。上盖板1与壳体3成一体,可以在上盖板1与壳体3之间省略密封圈。本技术的捕集板4与壳体8成一体。捕集板4与壳体8成一体,可以在捕集板4与壳体8之间省略密封圈。本技术的壳体3与壳体8之间通过蝶形螺母11和螺杆12连接并压紧一级滤膜5。本技术由于捕集板4的上表面上安装有一级滤膜5,一级滤膜5可以捕获直径大于10μm小于100μm的颗粒物。本技术的密封垫9的下面用于安装二级滤膜,二级滤膜用于阻留可吸入颗粒物。用称重法测量二级滤膜上阻留的可吸入颗粒物,可以得到可吸入颗粒物的重量。用称重法测量一级滤膜5上阻留的颗粒物的重量,将该重量与可吸入颗粒物的重量相加就可以得到总悬浮颗粒物的重量。因此,本技术的优点是,通过一次采样就可以测出可吸入颗粒物的重量和总悬浮颗粒物的重量。由于本技术具有蝶形螺母11和螺杆12,使壳体3、壳体8和一级滤膜5之间装拆方便,测量过程简单。以下结合附图对本技术的实施例进行详细描述。附图说明图1为本技术的结构示意图。如图1所示,本实施例是一种在环保监测仪器空气颗粒物采样器上使用的切割器,它包括上盖板1、壳体3、捕集板4、壳体8和密封垫9。壳体3的上端与上盖板1成一体,壳体8的上端与捕集板4成一体。一级滤膜5位于壳体3的下端与捕集板4的上表面之间,壳体3、一级滤膜5和壳体8之间通过蝶形螺母11和螺杆12压紧。壳体8的下面安装密封垫9,密封垫9的下面安装滤膜10。密封垫9和二级滤膜10夹壳体8与大流量TSP采样器主机15之间,螺栓紧固装置13将壳体8与TSP采样器主机15连接在一起,并将密封垫9和二级滤膜10夹紧。采样器主机15包括外壳、流量记录器、流量控制器、抽气风机、工作计时器和计时器的程序控制器等。上盖板1的上方具有护罩盖14。上盖板1上具有均匀分布的一级导流孔2,捕集板4上具有均匀分布的二级导流孔7。一级滤膜5上具有与二级导流孔7对应的导流孔6,导流孔6与二级导流孔7同轴,导流孔6与二级导流孔7的孔径相等。上盖板1与捕集板4平行。一级导流孔2与二级导流孔7相互平行,并且两者在轴线方向的投影不重叠。二级导流孔7相对于一级导流孔2的轴线对称。在采样过程中,在抽气风机的作用下,含有总悬浮颗粒物的空气气流从护罩盖14周边的下方进入,在经一级导流孔2喷入壳体3的内腔中。大于10μm的颗粒在惯性作用下,撞击到一级滤膜5上被捕获。可吸入颗粒物随气流经过导流孔6和二级导流孔7喷入壳体8的内腔中,可吸入颗粒物被二级滤膜10阻留。用称重法测量二级滤膜上阻留的可吸入颗粒物,可以得到可吸入颗粒物的重量。用称重法测量一级滤膜5上阻留的颗粒物的重量,将该重量与可吸入颗粒物的重量相加就可以得到总悬浮颗粒物的重量。权利要求1.空气颗粒物采样器切割器,包括上盖板(1)、壳体(3)、捕集板(4)、壳体(8)和密封垫(9);上盖板(1)位于壳体(3)的上端,捕集板(4)位于壳体(3)的下端与壳体(8)的上端之间,密封垫(9)安装在壳体(8)的下端;上盖板(1)上具有均匀分布的一级导流孔(2),捕集板(4)上具有均匀分布的二级导流孔(7);其特征是,捕集板(4)的上表面上安装有一级滤膜(5),一级滤膜(5)上具有与二级导流孔(7)对应的并且与二级导流孔(7)同轴的导流孔(6)。2.根据权利要求1所述的切割器,其特征是,导流孔(6)与二级导流孔(7)的孔径相等。3.根据权利要求1或2所述的切割器,其特征是,一级导流孔(2)与二级导流孔(7)相互平行,并且两者在轴线方向的投影不重叠。4.根据权利要求3所述的切割器,其特征是,二级导流孔(7)相对于一级导流孔(2)的轴线对称。5.根据权利要求4所述的切割器,其特征是,一级滤膜(5)夹在壳体(3)的下端与捕集板(4)的上表面之间。6.根据权利要求5所述的切割器,其特征是,上盖板(1)与壳体(3)成一体。7.根据权利要求6所述的切割器,其特征是,捕集板(4)与壳体(8)成一体。8.根据权利要求7所述的切割器,其特征是,壳体(3)与壳体(8)之间通过蝶形螺母(11)和螺杆(12)连接并压紧一级滤膜(5)。专利摘要本技术是一种在环保监测仪器空气颗粒物采样器上使用的切割器,为克服现有可吸入颗粒物采样器只用于采样可吸入颗粒物,不能同时用于采样总悬浮颗粒物的缺点,它包括上盖板1、壳体3、捕集板4、壳体8和密封垫9。上盖板1上具有一级导流孔2,捕集板4上具有二级导流孔7。捕集板4的上表面上安装有一级滤膜5,一级滤膜5上具有导流孔6。它用于空气颗粒物采样器上,可以同时采样可吸入颗粒物和总悬浮颗粒物。文档编号G01N1/04GK2507003SQ0026117公开日2002年8月21日 申请日期2000年11月3日 优先权日2000年11月3日专利技术者孙夕秋, 修光伟, 郭未春, 孙公爱, 韩本华, 尹爱华 申请人:青岛崂山电子仪器总厂本文档来自技高网...

【技术保护点】
空气颗粒物采样器切割器,包括上盖板(1)、壳体(3)、捕集板(4)、壳体(8)和密封垫(9);上盖板(1)位于壳体(3)的上端,捕集板(4)位于壳体(3)的下端与壳体(8)的上端之间,密封垫(9)安装在壳体(8)的下端;上盖板(1)上具有均匀分布的一级导流孔(2),捕集板(4)上具有均匀分布的二级导流孔(7);其特征是,捕集板(4)的上表面上安装有一级滤膜(5),一级滤膜(5)上具有与二级导流孔(7)对应的并且与二级导流孔(7)同轴的导流孔(6)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:孙夕秋修光伟郭未春孙公爱韩本华尹爱华
申请(专利权)人:青岛崂山电子仪器总厂
类型:实用新型
国别省市:95[中国|青岛]

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