【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种供制备透射电子显微镜观测样品用的离子轰击减薄装置,其特征为,在所设样品室两侧各接一个气流选通阀,选通阀的一个气流选择通道连通样品室与设在两侧的氩气入口,它的另一选择通道连通样品室与设在两侧的碘蒸气升华腔。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:王凤莲,褚一鸣,陆珉华,
申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所,
类型:实用新型
国别省市:11[中国|北京]
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