【技术实现步骤摘要】
本技术涉及借助于测定材料的物理性质来测量或分析材料的领域，特别是涉及用辐射的方法来测量或分析材料的仪器。该仪器的缺点有三个其一，人们很难将盖子上提供的滑片内部接触式测量的温度准确地转换为其表面的红外辐射温度，这样一来给测量带来了附加误差。其二，红外温度测定仪的镜头安装在提供热辐射的盖子中心，镜头直接受到热源的干扰，给测量带来了第二个附加干扰。其三，由于红外温度测定仪的镜头的温度、腔体温度、被测物温度与辐射源温度各不相等，势必形成复杂的多次反射和发射，该方法不能用直接准确的测定排除这些干扰。
技术实现思路
为了克服上述缺点，本技术提供了一种具有V字型半封闭腔体，并能够利用天空下行冷辐射源的比辐射率测定仪，及其利用标准比辐射率检定板进行测量的方法。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是在V字型半封闭腔体的一端通光口上安装一台红外温度测定仪，腔体内电镀一层低比辐射率物质，其特征是半封闭腔体由两个半封闭的圆桶在一端相连做成V字型，V字型腔体两个向上伸展的分支上各开有一个通光口，两个分支向下交汇成一点，辐射通过V字型两个分支的圆柱型空腔向下交汇成一点，V字型腔体向下交汇处的外...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张仁华，孙晓敏，朱治林，唐新斋，苏红波，
申请(专利权)人：中国科学院地理科学与资源研究所，
类型：实用新型
国别省市：
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