【技术实现步骤摘要】
本技术涉及光谱分析领域，具体地说是一种用于X射线荧光光谱分析的超载膜。
技术介绍
在使用X-荧光光谱分析液体样品中的元素含量，通常使用点滴法，即将液体样品滴加在聚脂膜上，晾干或烘干后进行测量；该法的主要弱点是点滴量较小，一般为25μL，点滴量大于25μL，样品容易流失，给定量带来困难。
技术实现思路
本技术的技术任务是针对以上不足之处，提供一种结构简单、成本低、使用方便、可加样品量大的用于X射线荧光光谱分析的超载膜。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是在聚脂膜片上覆有一层定量滤纸片，定量滤纸片的面积小于聚脂膜片的面积。所述的聚脂膜片和定量滤纸片为圆形，两圆同心。本技术的用于X射线荧光光谱分析的超载膜和现有技术相比，由于定量滤纸片的强吸收作用，可以滴加的液体样品量大大高于直接滴加在聚脂膜片上的量，非常有利于微量元素的富集，便于用X射线荧光光谱分析方法测定元素含量。附图说明以下结合附图和实施例对本技术进一步说明。附图1为用于X射线荧光光谱分析的超载膜的结构示意图；附图2为用于X射线荧光光谱分析的超载膜的俯视图。图中1、定量滤纸片；2、聚脂膜片。5具体实施方式参照说明书附图对本技术的用于X射线荧光光谱分析的超载膜作以下详细地说明。如附图1和附图2所示，在圆形聚脂膜片2上覆盖一层圆形定量滤纸片1，两层圆片之间通过热压或用粘合剂结合在一起。将液体样品滴加在定量滤纸片1上，由于定量滤纸片1的强吸收作用，滴加的液体样品的量可以达到500μL；在X下定量滤纸片1的透明度极高，它对分析结果的影响可以忽略。本技术的用于X射线荧光光谱分析的超载膜其加工制作非常简单方便，按说明书...
【技术保护点】
用于Ｘ射线荧光光谱分析的超载膜，包括聚脂膜片，其特征在于在聚脂膜片上覆有一层定量滤纸片，定量滤纸片的面积小于聚脂膜片的面积。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：袁家义，吕振生，王卿，
申请(专利权)人：袁家义，吕振生，王卿，
类型：实用新型
国别省市：88[中国|济南]
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