4D摄像装置及电子设备制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种4D摄像装置及电子设备，包括：第一光投射器，用于向目标物体投射第一光束；第一成像模块，用于接收目标物体对第一光束反射形成的第一反射光，并根据第一反射光获得目标物体表面的深度图像；第二成像模块，用于采集目标物体的2D图像；第二光投射器，用于向目标物体投射第二光束；光谱分析器，用于接收目标物体对第二光束反射形成的第二反射光，并生成第二反射光的光谱信息。本实用新型专利技术还可以将集成后的光谱仪和3D摄像头装载到电子设备上，使得用户能够便捷的对光谱仪和3D摄像头进行调用，扩大了电子设备的应用场景。

【技术实现步骤摘要】
4D摄像装置及电子设备
本技术涉及深度传感设备
，具体地，涉及一种4D摄像装置及电子设备。
技术介绍
近年来，随着消费电子产业的不断发展，具有深度传感功能的3D摄像头日渐受到消费电子界的重视。目前比较成熟的深度测量方法是结构光方案，即将特定的结构光图案投影在物体上，然后通过图案的形变或位移计算物体不同位置的深度。结构光三维视觉是基于光学三角法测量原理。光学投射器将一定模式的结构光投射于物体表面，在表面上形成由被测物体表面形状所调制的光条三维图像。该三维图像被另一位置的摄像机探测，从而获得光条二维畸变图像。光条的畸变程度取决于光学投射器与摄像机之间的相对位置和物体表面形廓(高度)。直观上，沿光条显示出的位移或偏移与物体表面高度成比例，扭结表示了平面的变化，不连续显示了表面的物理间隙。当光学投射器与摄像机之间的相对位置一定时，由畸变的二维光条图像坐标便可重现物体表面三维形廓。ToF(timeofflight)技术是一种从投射器发射测量光，并使测量光经过目标物体反射回到接收器，从而能够根据测量光在此传播路程中的传播时间来获取物体本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种4D摄像装置，其特征在于，包括光谱仪以及3D摄像头；/n所述3D摄像头包括第一光投射器、第一成像模块以及第二成像模块；/n所述第一光投射器，用于向目标物体投射第一光束；/n所述第一成像模块，用于接收所述目标物体对所述第一光束反射形成的第一反射光，并根据所述第一反射光获得所述目标物体表面的深度图像；/n所述第二成像模块，用于采集所述目标物体的2D图像；/n所述光谱仪包括第二光投射器和光谱分析器；/n所述第二光投射器，用于向目标物体投射第二光束；/n所述光谱分析器，用于接收所述目标物体对所述第二光束反射形成的第二反射光，并生成所述第二反射光的光谱信息。/n

【技术特征摘要】
1.一种4D摄像装置，其特征在于，包括光谱仪以及3D摄像头；
所述3D摄像头包括第一光投射器、第一成像模块以及第二成像模块；
所述第一光投射器，用于向目标物体投射第一光束；
所述第一成像模块，用于接收所述目标物体对所述第一光束反射形成的第一反射光，并根据所述第一反射光获得所述目标物体表面的深度图像；
所述第二成像模块，用于采集所述目标物体的2D图像；
所述光谱仪包括第二光投射器和光谱分析器；
所述第二光投射器，用于向目标物体投射第二光束；
所述光谱分析器，用于接收所述目标物体对所述第二光束反射形成的第二反射光，并生成所述第二反射光的光谱信息。


2.根据权利要求1所述的4D摄像装置，其特征在于，所述第一成像模块包括第一滤光片和第一图像传感器；
所述光谱分析器包括色散元件，所述色散元件，用于对所述反射光进行色散分光以在所述第一图像传感器上形成波长依次排列的色散条纹；
所述色散元件设置在所述第一滤光片的入光侧面上、出光侧面上或所述第一图像传感器的光敏感表面上。


3.根据权利要求1所述的4D摄像装置，其特征在于，所述第二成像模块包括第二滤光片和第二图像传感器；
所述光谱分析器包括色散元件，所述色散元件，用于对所述目标物体反射光进行色散分光以在所述第二图像传感器上形成波长依次排列的色散条纹；
所述色散元件设置在所述第二滤光片的入光侧面上、出光侧面上或所述第二图像传感器的光敏感表面上。


4.根据权利要求2或3所述的4D摄像装置，其特征在于，所述色散元件采用如下任一种光学器件；
-平面衍射...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱力，吕方璐，汪博，
申请(专利权)人：深圳市光鉴科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44