检验发光二极管颜色的检验装置制造方法及图纸

公开了一种检验发光二极管颜色的检验装置，包括照射待检验发光二极管产生光致发光的激光发生器、收集待检验发光二极管的光致发光光束并进行光谱分析的光谱分析器、将获取的光谱的峰值波长与预设的波长范围对比的光谱对比器。本实用新型专利技术的检验发光二极管颜色的检验装置可自动化快速对待检验成品进行检验，提高了检验效率。

【技术实现步骤摘要】
检验发光二极管颜色的检验装置
本技术涉及半导体
，特别涉及一种检验发光二极管颜色的检验装置。
技术介绍
随着发光二极管(LightEmittingDiode，以下简称LED)在显示和照明领域的广泛应用，LED的市场需求数量呈现几何级数增加，这对LED的生产效率和生产质量提出了更高要求。目前LED芯片加工厂相同工艺平台蓝、绿光产品生产加工工序、设备相同，故生产中不做分线处理，这就导致有可能出现在成品新品中出现蓝绿光不同颜色产品混合发货的风险。上述异常品在封装端识别后造成灯珠报废，尤其对于目前发展中的COB(Chiponboard)产品，该类产品在封装厂不进行分光操作，无法识别上述混料异常，最终异常品流至应用端，造成模组报废及客诉。为了避免上述质量风险，目前常规方法为在LED出厂之前，采用点测设备，按固定步距抽点测试LED芯片的光学参数，并由人工进行参数判定比对，以达到成品检验的目的。在现有技术中，人工抽测检验效率低。
技术实现思路
鉴于上述问题，本技术的目的在于提供一种检验发光二极管颜色的检验装置，从而提高检验效率。根据本技术的一方面，提供一种检验发光二极管颜色的检验装置，其特征在于，包括：检验台，承载待检验发光二极管；激光发生器模块，位于所述待检验发光二极管的第一侧，发射端朝向所述待检验发光二极管；光谱分析器，包括输入端和输出端，所述光谱分析器的所述输入端与所述检验台相对应；光谱对比器，包括输入端和检验结果的输出端，所述光谱对比器的所述输入端与所述光谱分析器的所述输出端连接。优选地，还包括：操作室，所述检验台、所述激光发生器模块、所述光谱分析器、所述光谱对比器安装在所述操作室内，所述操作室为不透光的暗箱室。优选地，还包括：逐行移动的逐行检验器，与所述检验台连接。优选地，所述检测装置还包括操作室，所述检验台、所述激光发生器模块、所述光谱分析器、所述光谱对比器安装在所述操作室内，所述操作室为不透光的暗箱室，所述逐行检验器包括：检验工位移动轴，与所述操作室连接固定，从所述操作室伸出；伺服马达，与所述检验台连接，包括轴套，所述轴套连接在所述检验工位移动轴上，所述轴套沿所述检验工位移动轴移动。优选地，所述的检验装置还包括：上下料切换件，安装固定在所述检验台的一侧；上料平台，沿所述上下料切换件切换路径分布，靠近所述检验台，放置所述待检验发光二极管；抓取所述待检验发光二极管进行上下料操作的取料装置，位于所述上下料切换件和所述上料平台之间，套在所述上下料切换件上移动；至少一个下料平台，分布于所述上下料切换轴的切换路径上，承接完成检验的所述待检验发光二极管。优选地，所述的检验装置还包括：底座；升降轴，一端连接所述上料平台和所述至少一个下料平台，另一端连接至所述底座；伺服马达，安装在所述底座上，与所述升降轴相匹配。优选地，所述升降轴为多个，数量与所述上料平台和所述至少一个下料平台的总数量相匹配；和/或，所述伺服马达为多个，数量与所述上料平台和所述至少一个下料平台的总数量相匹配。优选地，所述的检验装置还包括：自动分片器，输入端与所述光谱对比器的所述输出端连接，输出端连接至所述取料装置。优选地，所述下料平台包括：第一下料平台，放置检验合格的所述待检验发光二极管；第二下料平台，放置检验不合格的所述待检验发光二极管。优选地，所述的检验装置还包括：识别待检验发光二极管标识的标识识别器，安装在所述操作室内，包括识别端和输出端，所述识别端朝向所述待检验发光二极管的标识，所述标识识别器的所述输出端连接至所述光谱对比器的所述输入端。优选地，所述标识识别模块为扫码枪，所述标识为所述待检验发光二极管上的标识码。优选地，所述的检验装置还包括：对所述待检验发光二极管进行计数操作的晶粒计数模块，套在所述上下料切换件上朝向所述检验台。优选地，所述的检验装置还包括：反射板，位于所述待检验发光二极管的第二侧，与所述激光发生器模块相对，所述反射板的反射面朝向所述待检验发光二极管且对应于所述光谱分析器的输入端。本技术提供的一种检验发光二极管颜色的检验装置中，利用激光发生器模块向待检验发光二极管发出检测激光，使待检验发光二极管光致发光，该光致发光光束由光谱分析器接收，光谱分析器从该光致发光光束中产生光学参数，光谱分析器将该光学参数输入光谱对比器进行对比处理，得到检验结果。通过上述部件和其位置关系，实现了对待检验发光二极管检验的自动化，提高了检验效率。该检验装置设置有逐行检验器，可以逐行移动待检验发光二极管成品，进行逐行检验，可以提高检验的全面性，降低漏检风险。进一步地，该检验装置设置有标识识别器，识别一组待检测发光二极管的型号，降低最终产品出现混料的风险。该检验装置设置有反射板，可在有限的空间内提高光采集效率，提高检验精度。附图说明通过以下参照附图对本技术实施例的描述，本技术的上述以及其他目的、特征和优点将更为清楚，在附图中：图1示出了根据本技术实施例提供的一种检验发光二极管颜色的检验装置结构示意图；图2示出了根据本技术实施例采集的光致发光光谱示意图；图3示出了根据本技术提供的一种检验发光二极管颜色的检验方法流程图。具体实施方式以下将参照附图更详细地描述本技术的各种实施例。在各个附图中，相同的元件采用相同或类似的附图标记来表示。为了清楚起见，附图中的各个部分没有按比例绘制。下面结合附图和实施例，对本技术的具体实施方式作进一步详细描述。参照图1，本技术实施例提供的一种检验发光二极管颜色的检验装置包括安装在操作室103内的激光发生器模块104、检验台108、反射板101、光谱分析器105和工控机106；操作室103提供用于进行光致发光及光谱分析的工作区域，为暗箱操作，其外壳内部为阳极氧化发黑工艺，保证光谱采集及分析的准确性同时避免激光伤害。该操作室103可以提供一个良好的工作环境，以便设备适用于多种实际环境。检验台108可以是固定待检验品的固定装置，还可以是吊于安装环境中的活动平台。其中，光谱分析器105为包括光采集和光谱分析的光谱采集分析器，其中包括采集光的物理硬件，并连接到工控机106，将光谱分析结果输送给工控机106进行后续处理。反射板101可以调节光路，便于光谱分析器105在有限的空间内进行高效的光采集。替代地，该检验装置不包含反射板，直接在发光二极管上方直接采集光束。其中，工控机106包括有光谱对比器、信息统计模块以及相关软件，该相关软件可以用作预值设定，光谱对比器内预设发光二极管合格品的波长范围，光谱分析器分析各波长的光强，其中光强最强的光波长即是检验品的颜色属性，光谱对比器的输入端本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检验发光二极管颜色的检验装置，其特征在于，包括：/n检验台，承载待检验发光二极管；/n激光发生器模块，位于所述待检验发光二极管的第一侧，发射端朝向所述待检验发光二极管；/n光谱分析器，包括输入端和输出端，所述光谱分析器的所述输入端与所述检验台相对应；/n光谱对比器，包括输入端和检验结果的输出端，所述光谱对比器的所述输入端与所述光谱分析器的所述输出端连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种检验发光二极管颜色的检验装置，其特征在于，包括：
检验台，承载待检验发光二极管；
激光发生器模块，位于所述待检验发光二极管的第一侧，发射端朝向所述待检验发光二极管；
光谱分析器，包括输入端和输出端，所述光谱分析器的所述输入端与所述检验台相对应；
光谱对比器，包括输入端和检验结果的输出端，所述光谱对比器的所述输入端与所述光谱分析器的所述输出端连接。


2.根据权利要求1所述的检验装置，其特征在于，还包括：
操作室，所述检验台、所述激光发生器模块、所述光谱分析器、所述光谱对比器安装在所述操作室内，所述操作室为不透光的暗箱室。


3.根据权利要求1所述的检验装置，其特征在于，还包括：
逐行移动的逐行检验器，与所述检验台连接。


4.根据权利要求3所述的检验装置，其特征在于，所述检验装置还包括操作室，所述检验台、所述激光发生器模块、所述光谱分析器、所述光谱对比器安装在所述操作室内，所述操作室为不透光的暗箱室，所述逐行检验器包括：
检验工位移动轴，与所述操作室连接固定，从所述操作室伸出；
伺服马达，与所述检验台连接，包括轴套，所述轴套连接在所述检验工位移动轴上，所述轴套沿所述检验工位移动轴移动。


5.根据权利要求4所述的检验装置，其特征在于，还包括：
上下料切换件，安装固定在所述检验台的一侧；
上料平台，沿所述上下料切换件切换路径分布，靠近所述检验台，放置所述待检验发光二极管；
抓取所述待检验发光二极管进行上下料操作的取料装置，位于所述上下料切换件和所述上料平台之间，套在所述上下料切换件上移动；
至少一个下料平台，分布于所述上下料切换轴的切换路径上，承接完成检验的所述待检验发光二极管。


6.根据权利要求5所述的检验装...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪昌国，曹亚楠，丁少华，
申请(专利权)人：杭州士兰明芯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33