检验发光二极管颜色的检验装置制造方法及图纸

公开了一种检验发光二极管颜色的检验装置，包括照射待检验发光二极管产生光致发光的激光发生器、收集待检验发光二极管的光致发光光束并进行光谱分析的光谱分析器、将获取的光谱的峰值波长与预设的波长范围对比的光谱对比器。本实用新型专利技术的检验发光二极管颜色的检验装置可自动化快速对待检验成品进行检验，提高了检验效率。

【技术实现步骤摘要】
检验发光二极管颜色的检验装置
本技术涉及半导体
，特别涉及一种检验发光二极管颜色的检验装置。
技术介绍
随着发光二极管(LightEmittingDiode，以下简称LED)在显示和照明领域的广泛应用，LED的市场需求数量呈现几何级数增加，这对LED的生产效率和生产质量提出了更高要求。目前LED芯片加工厂相同工艺平台蓝、绿光产品生产加工工序、设备相同，故生产中不做分线处理，这就导致有可能出现在成品新品中出现蓝绿光不同颜色产品混合发货的风险。上述异常品在封装端识别后造成灯珠报废，尤其对于目前发展中的COB(Chiponboard)产品，该类产品在封装厂不进行分光操作，无法识别上述混料异常，最终异常品流至应用端，造成模组报废及客诉。为了避免上述质量风险，目前常规方法为在LED出厂之前，采用点测设备，按固定步距抽点测试LED芯片的光学参数，并由人工进行参数判定比对，以达到成品检验的目的。在现有技术中，人工抽测检验效率低。
技术实现思路
鉴于上述问题，本技术的目的在于提供一种检验发光二极管颜色的检验装置，从本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检验发光二极管颜色的检验装置，其特征在于，包括：/n检验台，承载待检验发光二极管；/n激光发生器模块，位于所述待检验发光二极管的第一侧，发射端朝向所述待检验发光二极管；/n光谱分析器，包括输入端和输出端，所述光谱分析器的所述输入端与所述检验台相对应；/n光谱对比器，包括输入端和检验结果的输出端，所述光谱对比器的所述输入端与所述光谱分析器的所述输出端连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种检验发光二极管颜色的检验装置，其特征在于，包括：
检验台，承载待检验发光二极管；
激光发生器模块，位于所述待检验发光二极管的第一侧，发射端朝向所述待检验发光二极管；
光谱分析器，包括输入端和输出端，所述光谱分析器的所述输入端与所述检验台相对应；
光谱对比器，包括输入端和检验结果的输出端，所述光谱对比器的所述输入端与所述光谱分析器的所述输出端连接。


2.根据权利要求1所述的检验装置，其特征在于，还包括：
操作室，所述检验台、所述激光发生器模块、所述光谱分析器、所述光谱对比器安装在所述操作室内，所述操作室为不透光的暗箱室。


3.根据权利要求1所述的检验装置，其特征在于，还包括：
逐行移动的逐行检验器，与所述检验台连接。


4.根据权利要求3所述的检验装置，其特征在于，所述检验装置还包括操作室，所述检验台、所述激光发生器模块、所述光谱分析器、所述光谱对比器安装在所述操作室内，所述操作室为不透光的暗箱室，所述逐行检验器包括：
检验工位移动轴，与所述操作室连接固定，从所述操作室伸出；
伺服马达，与所述检验台连接，包括轴套，所述轴套连接在所述检验工位移动轴上，所述轴套沿所述检验工位移动轴移动。


5.根据权利要求4所述的检验装置，其特征在于，还包括：
上下料切换件，安装固定在所述检验台的一侧；
上料平台，沿所述上下料切换件切换路径分布，靠近所述检验台，放置所述待检验发光二极管；
抓取所述待检验发光二极管进行上下料操作的取料装置，位于所述上下料切换件和所述上料平台之间，套在所述上下料切换件上移动；
至少一个下料平台，分布于所述上下料切换轴的切换路径上，承接完成检验的所述待检验发光二极管。


6.根据权利要求5所述的检验装...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪昌国，曹亚楠，丁少华，
申请(专利权)人：杭州士兰明芯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33