比容测试辅助装置制造方法及图纸

技术编号:2609672 阅读:254 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术提供一种比容测试辅助装置,其包括探针和具有定位器的夹具,该探针与一个控制器连接,用于探测比容测试液的液面位置,该夹具用于夹紧待测样片,通过该定位器将待测样片准确定位,当探针的底部尖端接触比容测试液的表面时,该待测样片刚好垂直浸入该比容测试液。本实用新型专利技术操作简单、方便、对待测样片的定位准确且具有较高的比容测试精度,可消除人为因素对比容测试过程的影响,从而降低产品的生产成本。(*该技术在2016年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及工业控制领域,特别涉及一种比容测试辅助装置
技术介绍
化成箔是制造电解电容器的材料,由铝箔经表面腐蚀、化成等工序制成。在化成箔的生产过程中,为保证产品质量,需要对比容进行实时全样品检测,并依据所得结果对生产过程进行控制与调整。请参考图1和图2,图1是一种现有技术的化成箔样片示意图。图2是图1的化成箔样片比容测试示意图。按行业标准规定,测试比容要将待测化成箔20冲成M~A之间50mm长、10mm宽、一端带柄的样片。比容定义为单位面积的电容量(单位为:μF/cm2),是化成箔最主要的参数。测试时,将样片下端M~A之间的50mm×10mm的区域沉入比容测试液中,与包围比容测试液30的电极构成电容器,用数字电桥50测出该电容器的容量再除以样片面积5cm2即得到比容。测试规程要求,样片必须垂直沉入,其下端M~A之间50mm×10mm的区域需要刚好没入比容测试液中,使其下端M~A之间50mm×100mm区域上边沿A与液面平齐,即实现所谓“相切”。若操作不符合要求,样片沉入较多或较少,将造成测试结果很大的误差。目前,低压化成箔比容一般在70μF/cm2以上,若沉入深度相差1mm,导致本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种比容测试辅助装置,其特征在于:包括探针和具有定位器的夹具,该探针与一个控制器连接,用于探测比容测试液的液面位置,该夹具用于夹紧待测样片,通过该定位器将待测样片准确定位,当探针的底部尖端接触比容测试液的表面时,该待测样片刚好垂直浸入该比容测试液。

【技术特征摘要】
1.一种比容测试辅助装置,其特征在于:包括探针和具有定位器的夹具,该探针与一个控制器连接,用于探测比容测试液的液面位置,该夹具用于夹紧待测样片,通过该定位器将待测样片准确定位,当探针的底部尖端接触比容测试液的表面时,该待测样片刚好垂直浸入该比容测试液。2.如权利要求1所述的比容测试辅助装置,其特征在于:还包括一个步进电机,该步进电机控制该探针和夹具移动,使与夹具连接的待测样片移入或移出比容测试液,当探针的底部尖端接触比容测试液的表面时,控制器立即将该步进电机制动。3.如权利要求2所述的比容测试辅助装置,其特征在于:还包括导轨、连轴...

【专利技术属性】
技术研发人员:宋荣
申请(专利权)人:深圳职业技术学院
类型:实用新型
国别省市:94[中国|深圳]

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