【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
一种高温氧化薄膜生长应力测定装置,本技术用来测定金属材料试样在高温下形成的表面氧化薄膜生长应力。目前材料科学的发展需要测定金属材料在高温下形成的表面氧化薄膜的生长应力。但现有的高温X射线衍射仪只能测定试样在高温下形成的表面氧化薄膜中的各种应力叠加的总和(其中包括热应力、组织应力、生长应力等)。本技术目的就是为了研制一种能单独测定金属材料试样在高温下形成的表面氧化薄膜的生长应力。附图说明图1是本技术示意图。图中(1)为高温X射线衍射仪温台,(2)为试样,(3)为通气管,(4)为真空系统,(5)为氧气充气管,(6)为加热炉,(7)为阀,(8)为氧气瓶。本技术除了包括有高温X射线衍射仪温台(1),通气管(3),真空系统(4)外还包括有氧气充气管(5),加热炉(6),阀(7)和氧气瓶(8),氧气充气管(5)有一部分置于加热炉(6)中,置于加热炉(6)中的氧气充气管(5)绕制成螺旋状以加长管中氧气加热时间,氧气充气管(5)的一端与阀(7)连通,另一端置于通气管(3)中,阀(7)装在氧气瓶(8)上,用来开启和关闭氧气的充入。测定时将试样(2)置于高温X射线衍射仪温台(1)中,关闭阀(7),开启真空系统(4),同时使加热炉(6)及温台(1)升温,此时试样(2)的表面未有氧化薄膜形成。然后关闭真空系统(4),开启阀(7)使氧气充入氧气充气管(5),氧气充气管(5)中经过高温加热的氧气就通入通气管(3),使温台(1)中的试样(2)表面产生氧化薄膜,同时动态测定试样(2)表面氧化薄膜的生长应力。采用本技术就可准确地测定金属材料试样在高温下形成的氧化薄膜的生长应力。权利要 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
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