全自动中测仪制造技术

本发明专利技术公开了一种全自动中测仪，旨在提供一种设计合理、降低作业员的劳动强度和提高生产效率的全自动中测仪。本发明专利技术包括测试台，测试台上设置有纵向移动装置和位于纵向移动装置前端的升降台，纵向移动装置上设置有旋转电机和与旋转电机相连接的测试载板，测试台上还设置有位于纵向移动装置后部的龙门架，龙门架上设置有横向移动装置和与横向移动装置相连接的中测组件，升降台上设置有提篮，提篮内设置有若干个载具板，测试载板的前后两端均设有与载具板相适配的安装槽，升降台的前端还设置有驱动装置和与驱动装置相连接的升降器，升降器上设置有与载具板相适配的托板。本发明专利技术应用于微调后的谐振件自动化测试的仪的技术领域。

【技术实现步骤摘要】
全自动中测仪
本专利技术涉及一种中测仪,特别涉及一种全自动中测仪。
技术介绍
目前微调后谐振件的测试方式：微调-人工上料-中测-人工下料-人工上料-中测-人工下料；经微调后的谐振件必须在中测仪上进行各项电性能参数测试(如频率、电阻、电容等)，通过人工操作放料板在中测仪上，仪器自动测试，剔除不合格品后人工再将料板取出，再放置下一个料板，如此循环。上述的测试方式存在以下缺点：中测仪的测试由人工将装载谐振件的工装板放入测试轨道上，自动测试后再人工取出，该手工操作方式，不仅增加了作业员的劳动强度还降低了生产量；经统计一名员工同时需操作6台微调机，3台中测仪，每小时用于上料取料的时间约在12分钟，微调量少产出1200支，每班累积少产出12000支。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供了一种设计合理、降低作业员的劳动强度和提高生产效率的全自动中测仪。本专利技术所采用的技术方案是：本专利技术包括测试台，所述测试台上设置有纵向移动装置和位于所述纵向移动装置前端的升降台，所述纵向移动装置上设置有旋转电机和与所述旋转电机相连接的测试载板，所述测试台上还设置有位于纵向移动装置后部的龙门架，所述龙门架上设置有横向移动装置和与所述横向移动装置相连接的中测组件，所述升降台上设置有提篮，所述提篮内设置有若干个载具板，所述测试载板的前后两端均设有与所述载具板相适配的安装槽，所述升降台的前端还设置有驱动装置和与所述驱动装置相连接的升降器，所述升降器上设置有与所述载具板相适配的托板。进一步的，所述提篮内部两侧壁均对称设有若干对托槽，所述载具板安装于每对所述托槽之间，所述载具板上设置有电极板，所述电极板上铺设有若干个晶片。进一步的，所述托板的宽度小于每对所述托槽之间的距离，每对所述托槽之间的距离与所述安装槽的槽宽相等。进一步的，所述中测组件包括安装于所述横向移动装置上的升降气缸和与所述升降气缸相连接的中测器。进一步的，所述载具板的一侧设置有不合格品放置槽板，所述中测器的一端设置有真空吸嘴。进一步的，所述测试台上还设置有MCU控制器，所述纵向移动装置、所述升降台、所述旋转电机、所述横向移动装置、所述中测组件、驱动装置、升降器和所述真空吸嘴均与所述MCU控制器电性连接。本专利技术的有益效果是：由于本专利技术包括测试台，所述测试台上设置有纵向移动装置和位于所述纵向移动装置前端的升降台，所述纵向移动装置上设置有旋转电机和与所述旋转电机相连接的测试载板，所述测试台上还设置有位于纵向移动装置后部的龙门架，所述龙门架上设置有横向移动装置和与所述横向移动装置相连接的中测组件，所述升降台上设置有提篮，所述提篮内设置有若干个载具板，所述测试载板的前后两端均设有与所述载具板相适配的安装槽，所述升降台的前端还设置有驱动装置和与所述驱动装置相连接的升降器，所述升降器上设置有与所述载具板相适配的托板,所以本专利技术通过所述托板将提篮内的所述载具板拖移至所述测试载板内，然后通过所述中测组件进行测试，当测试完成后通过所述托板将所述载具板托回所述提篮内，此设计可以减少人工循坏取放所述载具板的作业时间，只需要更换提篮即可，大大降低了作业员的劳动强度，也大大的提高了生产效率。附图说明图1是本专利技术的俯视图；图2是提篮的结构示意图。具体实施方式如图1和图2所示，在本实施例中，本专利技术包括测试台1，所述测试台1上设置有纵向移动装置2和位于所述纵向移动装置2前端的升降台3，所述纵向移动装置2上设置有旋转电机21和与所述旋转电机21相连接的测试载板4，所述测试台1上还设置有位于纵向移动装置2后部的龙门架5，所述龙门架5上设置有横向移动装置6和与所述横向移动装置6相连接的中测组件7，所述升降台3上设置有提篮8，所述提篮8内设置有若干个载具板81，所述测试载板4的前后两端均设有与所述载具板81相适配的安装槽41，所述升降台3的前端还设置有驱动装置9和与所述驱动装置9相连接的升降器，所述升降器上设置有与所述载具板81相适配的托板10。在本实施例中，所述提篮8内部两侧壁均对称设有若干对托槽82，所述载具板81安装于每对所述托槽82之间，所述载具板81上设置有电极板83，所述电极板83上阵列铺设有若干个晶片84。在本实施例中，所述托板10的宽度小于每对所述托槽82之间的距离，每对所述托槽82之间的距离与所述安装槽41的槽宽相等。在本实施例中，所述中测组件7包括安装于所述横向移动装置6上的升降气缸和与所述升降气缸相连接的中测器。在本实施例中，所述载具板81的一侧设置有不合格品放置槽板11，所述中测器的一端设置有真空吸嘴。在本实施例中，所述测试台1上还设置有MCU控制器，所述纵向移动装置2、所述升降台3、所述旋转电机21、所述横向移动装置6、所述中测组件7、驱动装置9、升降器和所述真空吸嘴均与所述MCU控制器电性连接。在本实施例中，本专利技术的工作过程为：所述托板10通过驱动装置9伸入所述提篮8，且位于所述载具板81，然后所述升降器将所述托板10升起，使所述托板10托起所述载具板81，然后所述驱动装置9带动托有所述载具板81的所述托板10移动至所述安装槽41处，然后所述升降器带动所述托板10下降，使所述载具板81放置于所述安装槽41内，然后所述托板10复位，且所述旋转电机21带动所述测试载板4旋转180°，使所述载具板81位于所述中测组件7的下方，然后所述中测组件7上的所述横向移动装置6带动所述中测器对所述载具板81内的一行晶片进行检测，此过程中，所述升降台3带动所述提篮8向上伸一层高度，然后所述托板10像上述运动将所述载具板81拖移至待检测的所述安装槽41处，然后所述横向移动装置6带动所述载具板81横向移动，使所述中测器7对所述载具板81内的另一行晶片进行检测，直至全部检测完成后，所述旋转电机21带动所述测试载板4旋转180°，使待检测的所述载具板81进入所述中测组件7的下方，而检测好的所述载具板81通过所述托板10托回所述提篮8内，然后所述提篮8在所述升降台3带动下向上伸一层高度，然后所述托板10再将所述提篮8内的所述载具板81转移至待检测的安装槽处，如此往复，直至所述提篮8内的所述载具板81的晶片全部检测完成，通过人工转移所述提篮8即可本专利技术应用于微调后的谐振件自动化测试仪器的
虽然本专利技术的实施例是以实际方案来描述的，但是并不构成对本专利技术含义的限制，对于本领域的技术人员，根据本说明书对其实施方案的修改及与其他方案的组合都是显而易见的。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种全自动中测仪，其特征在于：它包括测试台(1)，所述测试台(1)上设置有纵向移动装置(2)和位于所述纵向移动装置(2)前端的升降台(3)，所述纵向移动装置(2)上设置有旋转电机(21)和与所述旋转电机(21)相连接的测试载板(4)，所述测试台(1)上还设置有位于纵向移动装置(2)后部的龙门架(5)，所述龙门架(5)上设置有横向移动装置(6)和与所述横向移动装置(6)相连接的中测组件(7)，所述升降台(3)上设置有提篮(8)，所述提篮(8)内设置有若干个载具板(81)，所述测试载板(4)的前后两端均设有与所述载具板(81)相适配的安装槽(41)，所述升降台(3)的前端还设置有驱动装置(9)和与所述驱动装置(9)相连接的升降器，所述升降器上设置有与所述载具板(81)相适配的托板(10)。/n

【技术特征摘要】
1.一种全自动中测仪，其特征在于：它包括测试台(1)，所述测试台(1)上设置有纵向移动装置(2)和位于所述纵向移动装置(2)前端的升降台(3)，所述纵向移动装置(2)上设置有旋转电机(21)和与所述旋转电机(21)相连接的测试载板(4)，所述测试台(1)上还设置有位于纵向移动装置(2)后部的龙门架(5)，所述龙门架(5)上设置有横向移动装置(6)和与所述横向移动装置(6)相连接的中测组件(7)，所述升降台(3)上设置有提篮(8)，所述提篮(8)内设置有若干个载具板(81)，所述测试载板(4)的前后两端均设有与所述载具板(81)相适配的安装槽(41)，所述升降台(3)的前端还设置有驱动装置(9)和与所述驱动装置(9)相连接的升降器，所述升降器上设置有与所述载具板(81)相适配的托板(10)。


2.根据权利要求1所述的全自动中测仪，其特征在于：所述提篮(8)内部两侧壁均对称设有若干对托槽(82)，所述载具板(81)安装于每对所述托槽(82)之间，所述载具板(81)上...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢尚平，吴延剑，毛毅，
申请(专利权)人：珠海东精大电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44