【技术实现步骤摘要】
本技术属于聚偏氟乙烯压电材料差热分析仪的设计。在聚偏氟乙烯压电材料的制备过程中，重要的步骤是对膜极化及拉伸温度的选择，由于拉伸温度能决定α→β结构转化的数量和质量，极化温度也影响极化效应，而这两个参数都与聚偏氟乙烯的熔点有关，而聚偏氟乙烯的熔点受某些物理化学因素的影响常常发生变化。采用通用的高分子材料测试仪其结构较为复杂，复旦大学高分子教研组1983年在“高分子实验技术”中公开了一种差示扫描量热装置，该装置是由温度程序控制，气分控制、差热放大、功率补尝放大、记录仪五大部分组成，其结构较为复杂。比如气分控制部分就包括有用惰性气体保护，差热放大部分有一整套线路等，无疑成本较高。本技术的目的是设计一种专门用于聚偏氟乙烯压电材料差热分析用的仪器，该仪器由二元函数记录仪，平行光源发射装置、加热板、光转换器、温度控制仪五部分组成，其结构简单，操作方便。本技术的原理是利用聚偏氟乙烯从固态转化为液态时透光率发生变化，这一特征，用二元函数记录透光率发生变化时的温度，这个温度即溶点。附图一是聚偏氟乙烯压电材料差热分析仪示意图。图中1.记录仪2.发光装置 3.加热板 4.光电转换器5.温度控制仪6.马达 7.侧面面板8.正面面板。本技术的实施方案结合附图描述如下图中二元函数记录仪1的下面是平行光源发光装置2，光源下面是一加热板3，其中心有一圆孔，被测样品夹在二玻璃片中间放在孔上面，使光通过加热板，透射进入光电转换器4，光电转换器4产生的电压信号通过二元函数记录仪1中的Y轴，进行记录，加热板3的温度由温度控制仪5控制，温度控制仪通过一小型马达6带动，以达到使被测样...
【技术保护点】
一种聚偏氟乙烯压电材料差热分析仪，其特征在于二元函数记录仪１的下面是平行光源发光装置２，光源下面是一加热板３，其中心有一圆孔，被测样品夹在二玻璃片中间放在孔上面，使光通过加热板，透射进入光电转换器４，光电转换器４产生的电压信号通过二元函数记录仪１中的Ｙ轴，进行记录，加热板３的温度由温度控制仪５控制，温度控制仪通过一小型马达６带动，以达到使被测样品自动等速升温的目的，并将温度信号送入二元函数记录仪的Ｘ轴进行记录，７是侧面面板，８是正面在板。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：刘雅言，王给祥，
申请(专利权)人：中国科学院长春应用化学研究所，
类型：实用新型
国别省市：22[中国|吉林]
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