用于过程色谱法中的故障模式检测的系统和方法技术方案

技术编号:26045108 阅读:31 留言:0更新日期:2020-10-23 21:24
本公开提供了可用于实时预测或检测色谱过程中的故障的系统和方法。在一些实施例中,本公开提供了用于检测生物产品的离子交换色谱法中的过程色谱图中的非典型曲线的系统和方法。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于过程色谱法中的故障模式检测的系统和方法相关申请本申请要求于2018年2月15日提交的USSN62/631,167的权益,所述文献的内容通过引用整体并入本文。
本公开总体上涉及用于生物产品的纯化方法,包含实时检测色谱过程中的错误。
技术介绍
在蛋白质色谱操作中成功地及时标识故障模式可能具有挑战性,这不仅是因为故障模式特定于与程序相关联的每个单元操作,而且还因为自动检测方法不容易获得。对于大规模制造来说尤其如此。因此,长期以来,一直需要一种在过程中进行可扩展的故障模式检测的系统和方法,但这种需要尚未得到满足。本公开提供了这种新颖系统和方法来解决这种需要。
技术实现思路
本公开提供了用于以自动化或半自动化的方式监测过程色谱图的系统和方法。在本公开的方法的一些实施例中,将积分体积窗内的测得的吸光强度与根据至少一个参考色谱图推断的最大吸光强度进行比较,此测得的吸光强度用于标识色谱基质的不稳定性,并且通过预测和/或标识即将发生的故障,所述方法在任何规模上提高过程性能。因此,本公开提供了用于色谱过程中的故障模式检测的方法和装置。本公开提供了一种用于预测或检测色谱过程中的故障的方法,所述方法包括:(a)由色谱柱生成参考色谱图;(b)由所述色谱柱生成过程色谱图;以及(c)检测所述过程色谱图中的非典型曲线,其中所述非典型曲线指示色谱过程的潜在故障或实际故障。在本公开的方法的一些实施例中,所述方法进一步包括(d)生成警告信号。在本公开的方法的一些实施例中,所述方法进一步包括(e)重新装填所述色谱柱。在本公开的方法的一些实施例中,所述色谱柱适用于离子交换色谱法。在本公开的方法的一些实施例中,所述色谱柱适用于亲和色谱法。在本公开的方法的一些实施例中,所述色谱柱适用于疏水相互作用色谱法。在本公开的方法的一些实施例中,所述色谱过程的所述潜在故障或所述实际故障是由柱劣化引起的。在一些实施例中,所述柱劣化包括柱床破裂。在本公开的方法的一些实施例中,当与所述参考色谱图上的相当的位置相比时,所述非典型曲线包括所述过程色谱图上的另外的峰。在一些实施例中,所述另外的峰在所述色谱过程中的洗涤步骤期间出现。在一些实施例中,所述洗涤步骤先于所述色谱过程中的洗脱步骤。在一些实施例中,所述另外的峰在所述洗涤步骤期间出现并且先于所述色谱过程中的所述洗脱步骤。在本公开的方法的一些实施例中,包含在当与所述参考色谱图上的相当的位置相比时,所述非典型曲线包括所述过程色谱图上的另外的峰的实施例中,所述另外的峰的量值指示所述色谱过程的所述潜在故障或所述实际故障的严重程度。在一些实施例中,所述另外的峰的量值的增加指示所述色谱过程的所述潜在故障或所述实际故障的所述严重程度的增加。在一些实施例中,所述色谱过程的所述故障引起所述色谱柱的分离能力的损失。在本公开的方法的一些实施例中,包含在当与所述参考色谱图上的相当的位置相比时,所述非典型曲线包括所述过程色谱图上的另外的峰的实施例中,当与所述参考色谱图上的相当的位置处的峰或凹处相比时,所述非典型曲线包括所述过程色谱图上锐度降低或量值减小的至少一个峰或至少一个凹处。在一些实施例中,所述过程色谱图上锐度降低或量值减小的所述至少一个峰或所述至少一个凹处在所述洗涤步骤期间出现。在一些实施例中,所述过程色谱图上锐度降低或量值减小的所述至少一个峰或所述至少一个凹处在所述洗脱步骤之后出现。在本公开的方法的一些实施例中,包含在当与所述参考色谱图上的相当的位置相比时,所述非典型曲线包括所述过程色谱图上的另外的峰的实施例中,当与所述参考色谱图上的相当的第一位置处的峰或凹处相比时,所述非典型曲线包括所述过程色谱图上锐度降低或量值减小的第一峰或第一凹处,并且当与所述参考色谱图上的相当的第二位置处的峰或凹处相比时,所述非典型曲线包括所述过程色谱图上锐度降低或量值减小的第二峰或第二凹处。在一些实施例中,所述第一峰或所述第一凹处在所述洗脱步骤之后出现。在一些实施例中,所述第一峰或所述第一凹处对应于在收集步骤开始时出现的凹处。在一些实施例中,所述第二峰或所述第二凹处在所述收集步骤之后出现。在一些实施例中,所述第二峰或所述第二凹处包括带状峰。在本公开的方法的一些实施例中,所述过程色谱图包括测得的吸光强度、最大吸光强度和积分体积窗。在一些实施例中,所述非典型曲线包括测得的吸光强度,所述测得的吸光强度在积分体积窗期间超过最大吸光强度。在一些实施例中,所述测得的吸光强度是在对应于紫外(UV)光的波长下确定的。在一些实施例中,所述测得的吸光强度是在介于260纳米(nm)与280nm之间的波长下确定的,所述范围包含端点。在一些实施例中,所述测得的吸光强度是在260nm的波长下确定的,从而提供A260值。在一些实施例中,所述测得的吸光强度是在280nm的波长下确定的,从而提供A280值。在一些实施例中,所述非典型曲线包括测得的吸光强度,所述测得的吸光强度在积分体积窗期间超过最大吸光强度,并且其中所述最大吸光强度的A260值或A280值为至少0.05。在本公开的方法的一些实施例中,所述非典型曲线包括测得的吸光强度,所述测得的吸光强度在积分体积窗期间不超过最大吸光强度,并且其中所述最大吸光强度的A260值或A280值为0.05或更小。在本公开的方法的一些实施例中,在前一个柱过程的洗脱步骤期间测量非典型曲线和/或典型曲线的吸光强度的值。在一些实施例中,在对应于紫外(UV)光的波长下确定非典型曲线和/或典型曲线的吸光强度的值。在一些实施例中,所述测得的吸光强度是在介于260纳米(nm)与280nm之间的波长下确定的,所述范围包含端点。在一些实施例中,所述测得的吸光强度是在260nm的波长下确定的,从而提供A260值。在一些实施例中,所述测得的吸光强度是在280nm的波长下确定的,从而提供A280值。在一些实施例中,在指示非典型曲线的值之后发送信号,所述信号指示柱劣化。在本公开的方法的一些实施例中,在前一个柱过程的洗脱步骤期间测量非典型曲线和/或典型曲线的吸光强度的值。在一些实施例中,通过评估洗出液在洗脱步骤期间的pH水平确定非典型曲线和/或典型曲线的吸光强度的值。在一些实施例中,pH指示非典型曲线,因为pH值高于典型曲线的预期值。在一些实施例中,pH指示非典型曲线,因为pH值低于典型曲线的预期值。在一些实施例中,在指示非典型曲线的值之后发送信号,所述信号指示柱劣化。在本公开的方法的一些实施例中,所述积分体积窗在1L与5,000L之间出现,所述范围包含端点。在本公开的方法的一些实施例中,所述积分体积窗在1000L与3,000L之间出现,所述范围包含端点。在本公开的方法的一些实施例中,所述积分体积窗在1000L与2500L之间出现,所述范围包含端点。在一些实施例中,所述积分体积窗在1250L与2250L之间出现,所述范围包含端点。在一些实施例中,所述积分体积窗在1600L与1800L之间出现,所述范围包含端点。在本公开的方法的一些实施例中,所述积分体积窗在1L、10L、10本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于预测或检测色谱过程中的故障的方法,所述方法包括:/n(a)由色谱柱生成参考色谱图,/n(b)由所述色谱柱生成过程色谱图,以及/n(c)检测所述过程色谱图中的非典型曲线,/n其中所述非典型曲线指示色谱过程的潜在故障或实际故障。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180215 US 62/6311671.一种用于预测或检测色谱过程中的故障的方法,所述方法包括:
(a)由色谱柱生成参考色谱图,
(b)由所述色谱柱生成过程色谱图,以及
(c)检测所述过程色谱图中的非典型曲线,
其中所述非典型曲线指示色谱过程的潜在故障或实际故障。


2.根据权利要求1所述的方法,其中所述方法进一步包括(d)生成警告信号。


3.根据权利要求2所述的方法,其中所述方法进一步包括(e)重新装填所述色谱柱。


4.根据权利要求1到3中任一项所述的方法,其中所述色谱柱适用于离子交换色谱法。


5.根据权利要求1到3中任一项所述的方法,其中所述色谱柱适用于亲和色谱法。


6.根据权利要求1到3中任一项所述的方法,其中所述色谱柱适用于疏水相互作用色谱法。


7.根据权利要求1到6中任一项所述的方法,其中所述色谱过程的所述潜在故障或所述实际故障是由柱劣化引起的。


8.根据权利要求7所述的方法,其中所述柱劣化包括柱床破裂。


9.根据权利要求1到8中任一项所述的方法,其中当与所述参考色谱图上的相当的位置相比时,所述非典型曲线包括所述过程色谱图上的另外的峰。


10.根据权利要求9所述的方法,其中所述另外的峰在所述色谱过程中的洗涤步骤期间出现。


11.根据权利要求10所述的方法,其中所述洗涤步骤先于所述色谱过程中的洗脱步骤。


12.根据权利要求11所述的方法,其中所述另外的峰在所述洗涤步骤期间出现并且先于所述色谱过程中的所述洗脱步骤。


13.根据权利要求9到12中任一项所述的方法,其中所述另外的峰的量值指示所述色谱过程的所述潜在故障或所述实际故障的严重程度。


14.根据权利要求13所述的方法,其中所述另外的峰的量值的增加指示所述色谱过程的所述潜在故障或所述实际故障的所述严重程度的增加。


15.根据权利要求9到14中任一项所述的方法,其中所述色谱过程的所述故障引起所述色谱柱的分离能力的损失。


16.根据权利要求1到8中任一项所述的方法,其中当与所述参考色谱图上的相当的位置处的峰或凹处相比时,所述非典型曲线包括所述过程色谱图上锐度降低或量值减小的至少一个峰或至少一个凹处。


17.根据权利要求16所述的方法,其中所述过程色谱图上锐度降低或量值减小的所述至少一个峰或所述至少一个凹处在所述洗涤步骤期间出现。


18.根据权利要求16或17所述的方法,其中所述过程色谱图上锐度降低或量值减小的所述至少一个峰或所述至少一个凹处在所述洗脱步骤之后出现。


19.根据权利要求1到8中任一项所述的方法,其中所述非典型曲线包括当与所述参考色谱图上的相当的第一位置处的峰或凹处相比时,所述过程色谱图上锐度降低或量值减小的第一峰或第一凹处,和当与所述参考色谱图上的相当的第二位置处的峰或凹处相比时,所述过程色谱图上锐度降低或量值减小的第二峰或第二凹处。


20.根据权利要求19所述的方法,其中所述第一峰或所述第一凹处在所述洗脱步骤之后出现。


21.根据权利要求20所述的方法,其中所述第一峰或所述第一凹处对应于在收集步骤开始时出现的凹处。


22.根据权利要求19到21中任一项所述的方法,其中所述第二峰或所述第二凹处在收集步骤之后出现。


23.根据权利要求22所述的方法,其中所述第二峰或所述第二凹处包括带状峰。


24.根据权利要求1到23中任一项所述的方法,其中所述过程色谱图包括测得的吸光强度、最大吸光强度和积分体积窗。


25.根据权利要求24所述的方法,其中所述非典型曲线包括测得的吸光强度,所述测得的吸光强度在积分体积窗期间超过最大吸光强度。


26.根据权利要求24或25所述的方法,其中所述测得的吸光强度是在对应于紫外(UV)光的波长下确定的。


27.根据权利要求26所述的方法,其中所述测得的吸光强度是在介于260纳米(nm)与280nm之间的波长下确定的,所述范围包含端点。


28.根据权利要求26所述的方法,其中所述测得的吸光强度是在260nm的波长下确定的,从而提供A260值。


29.根据权利要求26所述的方法,其中所述测得的吸光强度是在280nm的波长下确定的,从而提供A280值。


30.根据权利要求28或29所述的方法,其中所述非典型曲线包...

【专利技术属性】
技术研发人员:N·L·毛S·卡弗B·希林E·希尔利
申请(专利权)人:里珍纳龙药品有限公司
类型:发明
国别省市:美国;US

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