非可见光传感器制造技术

本申请实施例提供一种非可见光传感器，所述非可见光传感器包括：电路基板；检测光源，所述检测光源设置在所述电路基板上并且发射不可见光；检测透镜，所述检测透镜设置在所述检测光源的投光方向上；指示光源，所述指示光源设置在所述电路基板上并且发射可见光；以及指示光透镜，所述指示光透镜设置在所述指示光源的发光方向上；其中，所述指示光源的指示光轴相对于所述检测光源的检测光轴倾斜。根据本申请实施例，追加了与非可见光的检测光轴倾斜的可见光指示光轴，指示光斑覆盖检测范围内的检测光斑，由此，用户可以根据指示光斑直观的判断检测光斑的位置，提升了用户可操作检出范围，降低了操作难度，减少了安装工时，降低了产品应用上的成本。

【技术实现步骤摘要】
非可见光传感器
本申请涉及传感器的

技术介绍
普通光电传感器的投光光源分为可见光光源和非可见光光源两种。对于非可见光光源产品，例如红外投光光源产品，产品检出机理为TOF(Timeofflight，飞行时间)原理，由于小型TOFIC技术的限制，投入市场的投受光集成化IC全部为红外投光光源产品；因此，现有的TOF产品均为不可见投光光斑产品，这类产品的投光不可见并且无指示光斑辅助，用户进行光轴调整时非常不便利。此外，由于无法直观的判断投光光斑是否照射在了被测物体上，而只能通过动作指示灯判断，对作业者要求非常高，需要熟悉产品的动作原理，普通工人没有办法实施调整安装。应该注意，上面对技术背景的介绍只是为了方便对本申请的技术方案进行清楚、完整的说明，并方便本领域技术人员的理解而阐述的。不能仅仅因为这些方案在本申请的
技术介绍
部分进行了阐述而认为上述技术方案为本领域技术人员所公知。
技术实现思路
专利技术人发现，现有的光电传感器产品，投光光斑不可见，安装调试时无法直观判断光轴是否对准被测检出体，需要具备光电传感器产品知本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种非可见光传感器，其特征在于，所述非可见光传感器包括：/n电路基板；/n检测光源，所述检测光源设置在所述电路基板上并且发射不可见光；/n检测透镜，所述检测透镜设置在所述检测光源的投光方向上；/n指示光源，所述指示光源设置在所述电路基板上并且发射可见光；以及/n指示光透镜，所述指示光透镜设置在所述指示光源的发光方向上；/n其中，所述指示光源的指示光轴相对于所述检测光源的检测光轴倾斜。/n

【技术特征摘要】
1.一种非可见光传感器，其特征在于，所述非可见光传感器包括：
电路基板；
检测光源，所述检测光源设置在所述电路基板上并且发射不可见光；
检测透镜，所述检测透镜设置在所述检测光源的投光方向上；
指示光源，所述指示光源设置在所述电路基板上并且发射可见光；以及
指示光透镜，所述指示光透镜设置在所述指示光源的发光方向上；
其中，所述指示光源的指示光轴相对于所述检测光源的检测光轴倾斜。


2.根据权利要求1所述的非可见光传感器，其特征在于，所述非可见光传感器还包括：
受光光源，所述受光光源设置在所述电路基板上并且接收所述检测光源发射的经检出物反射的反射光；以及
受光透镜，所述受光透镜设置在所述受光光源的受光方向上。


3.根据权利要求1所述的非可见光传感器，其特征在于，所述指示光源的指示光轴相对于所述检测光源的检测光轴的倾斜角度α由所述检测透镜和所述指示光透镜的中心距d_lens，预定义的最近检出位置L1，以及所述预定义的最近检出位置处的所述检测光源的检测光斑和所述指示光源的指示光斑的中心距d_spot确定。


4.根据权利要求3所述的非可见光传感器，其特征在于，所述指示光源的指示光轴相对于所述检测光源的检测光轴的倾斜角度α由以下公式确定：
α＝atan((d_lens-d_spot)/L1)；
其中，d_lens为所述检测透镜和所述指示光透镜的中心距，d_spot为预定义的最近检出位置处的所述检测光源的检测光斑和所述指示光源的指示光斑的中心距，L1为所述预定义的最近检出位置。


5.根据权利要求1所述的非可见光传感器，其特征在于，所述指示光源和所述检测光源的中心距d_led由预定义的最近检出位置...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨雪，李国培，刘伟，陆颖，洪奇，施霁，张新远，唐鸣明，
申请(专利权)人：欧姆龙上海有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31