可靠性评价方法、计算机设备以及计算机可读存储介质技术

本申请涉及一种可靠性评价方法、计算机设备以及计算机可读存储介质。可靠性评价方法包括：判断待测产品的各性能参数的退化过程是否服从维纳过程。如果待测产品的各性能参数的退化过程服从维纳过程，利用维纳过程性质得到各性能参数对应的联合分布函数的边缘分布函数。根据各性能参数对应的边缘分布函数，得到各性能参数的联合分布函数的至少两个连接函数的参数估计值。根据至少两个连接函数的参数估计值，在至少两个连接函数中确定最优连接函数。获得待测产品的可靠度函数。本申请可靠性评价方法为基于维纳过程和连接函数的多元性能退化产品可靠性评价方法，使得可靠性评价过程更符合实际、评价结果更为准确。

【技术实现步骤摘要】
可靠性评价方法、计算机设备以及计算机可读存储介质
本申请涉及可靠性评价
，特别是涉及一种可靠性评价方法、计算机设备以及计算机可读存储介质。
技术介绍
可靠性评价是指利用产品寿命周期各阶段所产生的试验或使用信息，用概率统计的方法给出产品在某一特定条件下的可靠性的估计值。产品可靠性评价是可靠性工程的重要组成部分。目前，绝大多数可靠性评价方法往往仅考虑产品单一性能随机退化过程，导致现有可靠性评价结果与实际结果误差较大。
技术实现思路
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高评价准确度的可靠性评价方法、计算机设备以及计算机可读存储介质。一种可靠性评价方法，包括：判断待测产品的各性能参数的退化过程是否服从维纳过程；如果待测产品的各性能参数的退化过程服从维纳过程，利用维纳过程性质得到各性能参数对应的联合分布函数的边缘分布函数；根据各性能参数对应的边缘分布函数，得到各性能参数的联合分布函数的至少两个连接函数的参数估计值；根据所述至少两个连接函数的参数估计值，在所述至少两个连接函数中确定最优连接函数；根据各性能参数对应的边缘分布函数、所述最优连接函数的参数估计值以及所述最优连接函数获得待测产品的可靠度函数。在其中一个实施例中，所述根据所述至少两个连接函数的参数估计值，在所述至少两个连接函数中确定最优连接函数包括：根据所述至少两个连接函数的参数估计值，获得所述至少两个连接函数的似然函数；根据所述至少两个连接函数的似然函数，计算所述至少两个连接函数的赤池信息值；根据所述赤池信息值，确定最优连接函数。在其中一个实施例中，所述根据所述至少两个连接函数的参数估计值，在所述至少两个连接函数中确定最优连接函数包括：根据所述至少两个连接函数的参数估计值，获得所述至少两个连接函数的似然函数；计算所述至少两个连接函数的似然函数的最大值；根据所述似然函数的最大值，确定最优连接函数。在其中一个实施例中，所述根据所述至少两个连接函数的参数估计值，在所述至少两个连接函数中确定最优连接函数之前，还包括：计算各性能参数的退化量之间的相关系数；获取相关系数与所述各性能参数的退化量之间的相关系数之差在预设范围之内的至少两个连接函数。在其中一个实施例中，所述至少两个连接函数包括弗兰克连接函数、克莱顿连接函数以及高斯连接函数。在其中一个实施例中，所述判断待测产品的各性能参数的退化过程是否服从维纳过程之前，包括：获取按照预设时间间隔对多个待测产品的各性能参数进行失效前的多次测试的测试结果。在其中一个实施例中，所述判断待测产品的各性能参数的退化过程是否服从维纳过程包括：通过柯尔莫可洛夫-斯米洛夫检验对所述待测样本的各性能参数的退化量在每一个时间间隔内的增量进行正态拟合优度检验；根据所述正态拟合优度检验结果判断待测产品的各性能参数的退化过程是否服从维纳过程。在其中一个实施例中，所述待测产品为绝缘栅双极型晶体管，所述待测产品的各性能参数包括集射极饱和压降和栅极阈值电压。一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述的方法的步骤。一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的方法的步骤。上述可靠性评价方法为基于维纳过程和连接函数的多元性能退化产品可靠性评价方法。本方法既考虑了产品多个性能参数退化过程的随机性，同时也考虑了产品多个性能参数的耦合竞争关系，给出了通用的多元性能退化产品可靠性评价模型，使得可靠性评价过程更符合实际、评价结果更为准确、适用范围更广。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例或传统技术中的技术方案，下面将对实施例或传统技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为一个实施例中可靠性评价方法的流程示意图；图2为一个实施例中集射极饱和压降性能退化趋势图；图3为一个实施例中栅极阈值电压性能退化趋势图；图4为另一个实施例中不同情况下可靠度评价结果示意图。具体实施方式为了便于理解本申请，下面将参照相关附图对本申请进行更全面的描述。附图中给出了本申请的实施例。但是，本申请可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使本申请的公开内容更加透彻全面。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本申请的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本申请的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本申请。在此使用时，单数形式的“一”、“一个”和“/该”也可以包括复数形式，除非上下文清楚指出另外的方式。还应当理解的是，术语“包括/包含”或“具有”等指定所陈述的特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的存在，但是不排除存在或添加一个或更多个其他特征、整体、步骤、操作、组件、部分或它们的组合的可能性。目前，传统的基于大量失效样本的可靠性评价方法大多都没有考虑产品高可靠、长寿命、小样本、性能退化过程具有随机性以及多性能参数耦合竞争等特点，已经不能满足多元性能退化产品可靠性评价的需求。最近，部分学者提出了基于维纳过程的可靠性评估方法。虽然这类方法考虑了高可靠、长寿命产品性能退化过程的随机性，但是它们绝大多数往往仅考虑产品单一性能随机退化过程。少部分即使考虑产品多元性能随机退化过程，也都往往假设各个性能参数相互独立。这使得可靠性评价结果与实际结果误差较大。因此，为了解决上述问题，本申请提出一种基于维纳过程和连接函数的多元性能退化产品可靠性评价方法、计算机设备以及计算机可读存储介质。本申请可靠性评价方法为基于维纳过程和连接函数的多元性能退化产品可靠性评价方法，可以实现对高可靠、长寿命、小样本、性能退化过程具有随机性以及多性能参数耦合竞争产品的可靠性评价。在一个实施例中，如图1所示，提供了一种可靠性评价方法，包括：步骤S1，判断待测产品的各性能参数的退化过程是否服从维纳过程。本步骤判断之前，首先要获得对待测产品的各性能参数的测试数据，然后根据待测产品的各性能参数的测试数据判断待测产品的各性能参数的退化过程是否服从维纳过程。记X(t)是一个标准的维纳过程的变量，其具有以下基本性质：(1)X(0)＝0且X(t)在t＝0处连续。(2)X(t)|t≥0具有平稳独立增量，在任意两个不相交的时间区间[t1,t2]，[t3,t4]内X(t4)-X(t3)与X(t2)-X(t1)相互独立。(3)对每一个时间间隔内增量，ΔX＝X(t+Δt)-X(t)服从N(μΔt,σ2Δt2)正态分布。假设待测产品有n个性能参本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种可靠性评价方法，其特征在于，包括：/n判断待测产品的各性能参数的退化过程是否服从维纳过程；/n如果待测产品的各性能参数的退化过程服从维纳过程，利用维纳过程性质得到各性能参数对应的联合分布函数的边缘分布函数；/n根据各性能参数对应的边缘分布函数，得到各性能参数的联合分布函数的至少两个连接函数的参数估计值；/n根据所述至少两个连接函数的参数估计值，在所述至少两个连接函数中确定最优连接函数；/n根据各性能参数对应的边缘分布函数、所述最优连接函数的参数估计值以及所述最优连接函数获得待测产品的可靠度函数。/n

【技术特征摘要】
1.一种可靠性评价方法，其特征在于，包括：
判断待测产品的各性能参数的退化过程是否服从维纳过程；
如果待测产品的各性能参数的退化过程服从维纳过程，利用维纳过程性质得到各性能参数对应的联合分布函数的边缘分布函数；
根据各性能参数对应的边缘分布函数，得到各性能参数的联合分布函数的至少两个连接函数的参数估计值；
根据所述至少两个连接函数的参数估计值，在所述至少两个连接函数中确定最优连接函数；
根据各性能参数对应的边缘分布函数、所述最优连接函数的参数估计值以及所述最优连接函数获得待测产品的可靠度函数。


2.根据权利要求1所述的可靠性评价方法，其特征在于，所述根据所述至少两个连接函数的参数估计值，在所述至少两个连接函数中确定最优连接函数包括：
根据所述至少两个连接函数的参数估计值，获得所述至少两个连接函数的似然函数；
根据所述至少两个连接函数的似然函数，计算所述至少两个连接函数的赤池信息值；
根据所述赤池信息值，确定最优连接函数。


3.根据权利要求1所述的可靠性评价方法，其特征在于，所述根据所述至少两个连接函数的参数估计值，在所述至少两个连接函数中确定最优连接函数包括：
根据所述至少两个连接函数的参数估计值，获得所述至少两个连接函数的似然函数；
计算所述至少两个连接函数的似然函数的最大值；
根据所述似然函数的最大值，确定最优连接函数。


4.根据权利要求2或3所述的可靠性评价方法，其特征在于，所述根据所述至少两个连接函数的参数估计值，在所述至少两个连接函数...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘广泽，罗琴，李丹，李小兵，王远航，杨剑锋，刘文威，丁小健，董成举，
申请(专利权)人：中国电子产品可靠性与环境试验研究所工业和信息化部电子第五研究所中国赛宝实验室，
类型：发明
国别省市：广东;44