液晶显示面板的光学量测方法及量测系统技术方案

一种液晶显示面板的光学量测方法及量测系统，包括：采用偏光片单体光学量测设备分别量测参考偏光片的平行穿透频谱MD

【技术实现步骤摘要】
液晶显示面板的光学量测方法及量测系统
本申请涉及显示
，尤其涉及一种液晶显示面板的光学量测方法及量测系统。
技术介绍
目前常用的液晶面板显示模式主要包括VA(Verticalalignment，垂直配向)模式。以VA模式为例：VA显示是一种垂直配向的常黑模式，其上下基板偏光片吸收轴垂直偏贴。VA液晶显示的原理基于液晶的透光率随其所施电压大小而变化的特性。当光通过下基板(阵列基板)的偏振片后，变成线性偏振光，偏振方向与下偏振片穿透方向一致。在不加电压时，光线经过液晶不会发生偏振方向改变，经过上基板(彩膜基板)偏光，光线被吸收为黑态。当加上电压以后，液晶在电场作用下沿配向方向发生偏转，当光通过液晶层时，由于受液晶折射，线性偏振光被分解为两束光，又由于这两束光传播速度不同，因而当两束光合成后，必然使偏振光的偏振方向发生变化，当入射光达到上基板偏振片时，与下偏振片的穿透方向平行的光线可以通过，为亮态。由上可知，在整个显示过程中，偏光片起到至关重要的作用，偏光片会影响液晶面板的穿透率、亮度、对比度、色度等重要参数，故需要对偏光片的各项光学参本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种液晶显示面板的光学量测方法，其特征在于，所述方法包括：/nS10，提供一参考偏光片，采用偏光片单体光学量测设备分别量测出所述参考偏光片的平行穿透频谱MD

【技术特征摘要】
1.一种液晶显示面板的光学量测方法，其特征在于，所述方法包括：
S10，提供一参考偏光片，采用偏光片单体光学量测设备分别量测出所述参考偏光片的平行穿透频谱MD0值以及垂直穿透频谱TD0值；
S20，通过公式S＝(MD+TD)/2、公式TPOL＝(MD2+TD2)/2、所述MD0值以及所述TD0值分别计算出所述参考偏光片的单体穿透率S值以及平行穿透率TPOL值；
S30，将两个所述参考偏光片偏贴在一阵列基板的相对两侧，形成第一液晶显示面板，通过液晶显示面板穿透率量测设备量测出所述第一液晶显示面板的实际穿透率T总值；
S40，通过公式Tw/oPOL＝T总/TPOL计算出所述第一液晶显示面板中除去所述参考偏光片外的膜层材料的穿透率Tw/oPOL值；
S50，提供另一目标偏光片，通过上述步骤得出所述目标偏光片的平行穿透率TPOL1值，之后通过所述Tw/oPOL值以及所述TPOL1值计算出所述第二液晶显示面板的实际穿透率Tnew总值。


2.根据权利要求1所述的液晶显示面板的光学量测方法，其特征在于，所述S10中，所述偏光片单体光学量测设备为V7100单体光学量测机台。


3.根据权利要求1所述的液晶显示面板的光学量测方法，其特征在于，所述S10中，所述平行穿透频谱为入射线偏光经过与所述参考偏光片透过轴方向的透过频谱；所述垂直穿透频谱为入射线偏光经过与所述参考偏光片吸收轴方向的透过频谱。


4.根据权利要求1所述的液晶显示面板的光学量测方法，其特征在于，所述S20中，所述单体穿透率为自然光经过单个所述参考偏光片的透过频谱；所述平行穿透率为自然光经过两个相互平行设置的所述参考偏光片的透过频谱。


5.根据权利要求1所述的液晶显示面板的光学量测方法，其特征在于，所述S50还包括：
S501，提供另一目标偏光片，采用所述偏光片单体光学量测设备分别量测出所述目标偏光片的平行穿透频谱MD1值以及垂直穿透频谱TD1值；
S502，通过所述MD1...

【专利技术属性】
技术研发人员：海博，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44