无近场区直探头制造技术

无近场区直探头，在无损检测技术中，主要用于介质的近区探测。该探头的声场进入被检介质时已处于三倍近场以外，从已测定的声程２ｍｍ－２０ｍｍ（钢）的曲线来看，大平底Φ↓［４］平底孔，Φ↓［２］平底孔，∮↓［４］横孔，∮↓［２］横孔，都符合一般探头远场的计算结果符合球面波的下降曲线。声束宽窄合适、始波窄、无杂波，指向性好，纵横分辨率也高，在近区可用远场的计算公式求缺陷的当量大小。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
无近长区直探头，属于无损检测
，应用于超声波检测中。如何解决近场区内的缺陷检测问题，早为国内外的无损检测专家、学者，研究者，追求着，但到现在仍没有研究结果。从探头辐射出去的超声波，在近场区内进行着激烈的干涉，造成复杂的声压分布，在这个区域内，对缺陷进行定位定量定性都是较困难，已致不可能的。我设计的无近场区直探头，声波进入介质时，介质已处于三倍近场长度以外，设计依据的道理有3条1、园盘源(元形压电晶片)在大于园盘直径的介质中传声，半扩散角按已有的公式，是可以计算的。而在小于园盘直径D的介质中传声，半扩散角保持不变(d＞＞λ)，如附图说明图1、图2。即是说，只要压电晶片直径，振动频率传声介质不变，图示两种情况下，半扩散角都是一样的。2、附图1、图2两种耦合情况，在计算介质中的近场长度时，所使用的直径不同，一个为D，一个为d。因为造成近场长度的根本原因，是园盘源中点声原的互相干涉，这种干涉又以园盘边缘最为利害，利用声波在小于园盘的介质中入射，既可以减少园盘中的干涉点，又避开了园盘边缘的重大影响。按一般半扩散角θ。＝sin-11.22λ/D与近场长度N＝D2/4λ的关系，指向性与近场长度是互相制约的，即指向性好，近场长度长，反之近场长度短但指向性变坯两者总不能兼顾。按1、2条道理来设计探头，则得到在扩散不变的条件下，调整入射端面的直径，近场长度则可任意调整，实际上分离了扩散角与近场长度的关系。3、当主动探头辐射的超声能量，首先通过传声轩，再通过接收压电晶片，最后才进入被查介质。由实验知道，通过传声杆与不通过传声杆声能损失多反应在传声杆中的衰减，如主动探头为Φ20.25MC，当探测到h20Φ2平底孔时，尚余40db左右，不影响其实用价值。自专利技术用超声波来检测介质中缺疵以来，对近场区内的缺陷检测就一直存在着困难，主要对缺陷定量不准，定位不准。现专利技术无近场区直探头，超声波进入被检介质后，介质已处于三倍近场长度以外，可以用远场计算公式，较易、较准确的解决以上问题。无近场区直探头的结构，实为两个探头组合构成，一个探头作发射一个探头作接收，发射与接收探头之间连以传导杆，如图3。图面说明1、主动探头，为一普通的收发直探头。2、被动探头，只起接收声波作用。3、传声柱、锥形有机玻璃传声柱，对于Φ20.5MC主动探头来说，设计为上端传声面为Φ3.6mm，下端面为Φ5.3长18mm声波可以自由扩散传播，同时又可以稳靠的接收主动探头的声能入射。4、防散射档板为-0.3mm厚的金属同心园片，防止主动探头的声能在传声柱中传导时，散射到接收胶中，被接收晶片接收时，形成杂波。5、为镁金属片δ＝0.26mm，便于声波能顺利地进入被捡介质，也使缺陷波多余的声能，消失在有机柱中。目前，超声波探伤使用的探头，在被检介质中，有探头就有近场区存在。消除声干涉的探头还没有过。改善近场区声压的探头如高斯探头早已研究出来，由于它本身一些缺点，没有广泛使用。现以高斯探头、无近场区直探头作一比较以下简称高斯探头为“高”，无近场直探头为“高”。1、“高”的测试曲线往往从20mm以上作起(钢中)，而“无”可以从1-2mm开始，即在被检介质中，探测距离更近。2、“高”半扩散角大，在距离相同条件下，声压减小到轴线上声压30％时，扩散角按Sin30＝1.22λ/2R。则指向性不好，横向分辩率也不高。而“无”遵循球面波的规律，第一零值的半扩散角按Sinθ。＝1.22λ/2R。即指向性好，加之入射到被检介质中的声束较细，横向分辨率也高。3、“高”与等效直径的一般园盘源相比，轴线上声压降低了许多，与“无”相比，同情况时，灵敏度大大降低，如图4。4、“无”；进入介质的声场，已在三倍近场以外，适用于球面波的缺陷计算式，测定缺陷当量大小，都简单化。而“高”声压，按“高”声压曲线变化不服从球面波公式。在后来的直探头发展中，有了双晶直探头，聚焦探头，榨脉冲探头等，它们总的特点是，提高了发现缺陷能力的范围，但都不具有减少声场干涉的作用，也不适用于当量计算公式。以下是无近场区直探头的特有的几点优点1、由实测的平板曲线图5可知，这是一条均匀下降的曲线，没有声压起伏较大的变化。在ZBJ7400-3-88的规定中，6-20mm以内的钢板，使用双晶探头。对双晶探头的距离波幅曲线规定必须满足在3mm、9mm上波幅与最高波幅差-3～-6db范围内，这就要求作具体的测试曲线，探起伤来诸多不便。面使用无近场区直探头能一切都变得简单、快速，凭反射量直接确定缺陷大小。2、看实测曲线图6、7，那是对平底孔Φ2、Φ4的测试曲线，从曲线中看出，缺陷面积增大一倍，分贝差12db，有些点差10db那也在允许偏差范围以内，符合超声波远场计算公式。另外对于横通孔的测试，即长横孔，直径大一倍，分贝差3db左右，实测值也符合远场计算式。3、由于无近场区直探头的探测距离近达1-2mm，声束截面小，横向分辩率高，又可当量计算。所以用它代替射线检测焊缝，复验X射线片的缺陷，显得快速方便。4、无近场区直探头，用主动探头调整入射频率，宜于粗晶探伤使用。5、无近场区直探头，为首推的一种品种，用此方法可以设计短前沿横波探头，纵横波组合探头、聚焦探头、特别的测厚探头等。说明书续页图5、6、7、无近场区直探头实测曲线测试条件1、仪器CTS-22型。2、探头5MC无近场区直探头。3、试块阶梯试块(自制)大平底测试曲线用。4、横通孔试块(自制)，横孔测试曲线用。5、平底孔试块(济宁模具厂制)，平底孔测试曲线用。6、仪器状态通常。权利要求主要分以下四个方面1、利用压电晶体中心部分辐射声能来检测缺陷，或作别的测试的方式。2.直探头在远大于其压电晶体的直径D的某介质中传播时，有固定的扩散角，而在小于D的相同介质中传播时其扩散角保持不变。3.直探头在小于其压电晶体直径D的介质中传声，近长长度N由介质端面直径d(d＞＞λ)和介质中超声波的波长λ决定即N＝d2/4λ。4.无近长区直探头的结构形式，即主动探头，接收探头，传声柱，接收胶以及互相连结的形式。全文摘要无近场区直探头，在无损检测技术中，主要用于介质的近区探测。该探头的声场进入被检介质时已处于三倍近场以外，从已测定的声程2mm-20mm(钢)的曲线来看，大平底Φ文档编号G01N29/04GK1155079SQ9610583公开日1997年7月23日 申请日期1996年5月6日 优先权日1996年5月6日专利技术者张光裕 申请人:张蜀月本文档来自技高网...

【技术保护点】
主要分以下四个方面：１、利用压电晶体中心部分辐射声能来检测缺陷，或作别的测试的方式。２、直探头在远大于其压电晶体的直径Ｄ的某介质中传播时，有固定的扩散角，而在小于Ｄ的相同介质中传播时其扩散角保持不变。３、直探头在小于其压电晶体直 径Ｄ的介质中传声，近长长度Ｎ由介质端面直径ｄ（ｄ＞＞λ）和介质中超声波的波长λ决定：即Ｎ＝ｄ↑［２］／４λ。４、无近长区直探头的结构形式，即主动探头，接收探头，传声柱，接收胶以及互相连结的形式。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张光裕，
申请(专利权)人：张蜀月，
类型：发明
国别省市：52[中国|贵州]