一种反射镜高反射率的测量方法技术

一种反射镜高反射率的测量方法，包括下述测量步骤：（１）以两个高反射镜组成稳定的光学谐振腔，激光脉冲从一端注入后，在腔镜之间来回反射形成振荡，测量衰荡寿命τ－；（２）保持腔长不变，把待测镜作为折叠镜引入上述直衰荡光腔，形成稳定的折叠衰荡光腔，测出衰荡时间τ＜；（３）由下述公式计算得到待测镜反射率Ｒ↓［ｘ］∶Ｒ↓［ｘ］＝ｅｘｐ［Ｌ／Ｃ（１／τ↓［－］－；１／τ＜）］；其中，Ｌ腔长，Ｃ光速。本发明专利技术测试过程简单，测量精度高。（*该技术在2018年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学元件参数的测量，特别提供了一种反射镜的高反射率高精度测量方法。随着大型激光系统功率的不断提高，对高反射率反射镜的需求也日益迫切。谐振腔高反镜的反射率低，已成为提高输出功率、改进光束质量的瓶颈问题。常用的如分光光度计光透射式反射率测量仪、白光池(多次反射)反射率测量仪等，基于光强测量；反射镜反射率越高，测量精度越低，最多只能有三位有效数字，也不能在反射镜工作气氛下检测。反射镜的反射率等于镜面反射光强I1与入射光强I0之比。传统检测反射率的分光光度计方法，是先测出透射光强I2与I0，得到镜片的透射率T，然后由关系R＝1-T，求出镜片的反射率R。对于高反射率镜片，透视光强I2很小。对R＝99.9％……99.99％，I0与I2相差成千上万倍，测量精度不高。而且，在这种情况下，反射镜基底材料以及反射镜周围的气体的散射和吸收损耗都变得不可忽略，所以，分光光度计通过测量透射来测量高反镜反射率误差很大。但直接测量反射，I0与I1相差大小，也测不准，如用白光池(多次反射)方法，它是测量入射光强I0及在两平行放置的反射镜之间经过一定次数(几十～几百次)反射后的出射光强，由它们的比本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种反射镜高反射率的测量方法，包括下述测量步骤：（１）以两个高反射镜组成稳定的光学谐振腔，激光脉冲从一端注入后，在腔镜之间来回反射形成振荡，测量衰荡寿命τ＿；（２）保持腔长不变，把待测镜作为折叠镜引入上述直衰荡光腔，形成稳定的折叠衰 荡光腔，测出衰荡时间τ＜；（３）由下述公式计算得到待测镜反射率Ｒ↓［ｘ］：Ｒ↓［ｘ］＝ｅｘｐ［Ｌ／Ｃ（１／τ＿－１／τ＜）］其中，Ｌ腔长，Ｃ光速。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：解金春，盛新志，孙福革，戴东旭，沙国河，
申请(专利权)人：中国科学院大连化学物理研究所，
类型：发明
国别省市：91[中国|大连]