一种芯片条多通道并发测试双测试台机构制造技术

本实用新型专利技术公开了一种芯片条多通道并发测试双测试台机构，包括安装底板，所述安装底板一侧设有窗口，且安装底板一侧设有侧面盖板，所述安装底板内侧设有平台骨架，所述安装底板顶部的中部固定连接有电性能测试机。本实用新型专利技术，通过设计两个测试平台配合一个电性能测试机的设计，来双倍提高芯片条供料速度，保证电性能测试机测试板上面保持有芯片条在上面测试。从而避免单个测试平台在来回运转取送料的过程时，电性能测试机处于空闲等待状态，而影响整机测试速度。同时测试平台X轴和旋转轴都采用直驱线性马达达到次微米级精度，上下Z轴导向采用预压零间隙带衬套线性轴承，确保测试平台长久运行重复精度满足测试需求，无需定期校准。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片条多通道并发测试双测试台机构
本技术涉及电子元件检测领域，尤其涉及一种芯片条多通道并发测试双测试台机构。
技术介绍
市场现有技术采用四轴单个测试台和一个电性能测试机配合的方式来测试芯片。但受限于测试台运行速度以及设备整体尺寸，测试供料速度遇到瓶颈，导致整体测试速度不能进一步提高。测试台机构的重复定位精度不高，运行久了后，发生位置偏移，芯片的被测试引脚不能精准的接触到电性能测试机的弹簧探针。从而导致弹簧探针损坏，产品良率低下，产品线需停机来重新调教芯片引脚和弹簧探针对位，非常影响生产。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种芯片条多通道并发测试双测试台机构。为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种芯片条多通道并发测试双测试台机构，包括安装底板，所述安装底板一侧设有窗口，且安装底板一侧设有侧面盖板，所述安装底板内侧设有平台骨架，所述安装底板顶部的中部固定连接有电性能测试机，所述安装底板内腔设有第一测试台和第二测试台，所述安装底板底部的中部设有升降顶起机构，所述第一测试台本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片条多通道并发测试双测试台机构，包括安装底板(1)，其特征在于，所述安装底板(1)一侧设有窗口(11)，且安装底板(1)一侧设有侧面盖板(12)，所述安装底板(1)内侧设有平台骨架(13)，所述安装底板(1)顶部的中部固定连接有电性能测试机(14)，所述安装底板(1)内腔设有第一测试台(15)和第二测试台(16)，所述安装底板(1)底部的中部设有升降顶起机构(17)，所述第一测试台(15)顶部设有R轴直驱马达(152)，所述第一测试台(15)一侧底部设有Y轴丝杆(151)，所述第二测试台(16)一端底部设有轴承(161)。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片条多通道并发测试双测试台机构，包括安装底板(1)，其特征在于，所述安装底板(1)一侧设有窗口(11)，且安装底板(1)一侧设有侧面盖板(12)，所述安装底板(1)内侧设有平台骨架(13)，所述安装底板(1)顶部的中部固定连接有电性能测试机(14)，所述安装底板(1)内腔设有第一测试台(15)和第二测试台(16)，所述安装底板(1)底部的中部设有升降顶起机构(17)，所述第一测试台(15)顶部设有R轴直驱马达(152)，所述第一测试台(15)一侧底部设有Y轴丝杆(151)，所述第二测试台(16)一端底部设有轴承(161)。


2.根据权利要求1所述的一种芯片条多通道并发测试双测试台机构，...

【专利技术属性】
技术研发人员：周建高，周善威，
申请(专利权)人：英诺创新科技深圳有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44