可以抑制像元波动的坏点校正方法及装置、存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种可以抑制像元波动的坏点校正方法及装置、存储介质，包括：基于待检测像素的同通道m*m邻域矩阵，根据像素亮度值将邻域矩阵的像素分到亮点坏点分析序列和暗点坏点分析序列；判断待检测像素所在坏点分析序列中像素的亮度值分布是否有第一断层，若是则进入第一次校正，否则进入第二次校正条件的判断，判断待检测像素所在坏点候选点序列中像素的亮度值分布是否有第二断层，若是则进入第二次校正，本发明专利技术通过对待检测像素所在坏点分析序列中像素的亮度值分布第一断层和第二断层的分布情况进行分析判断，进行两次校正过程，同时实现了图像传感器坏点校正和抑制像元波动。

【技术实现步骤摘要】
可以抑制像元波动的坏点校正方法及装置、存储介质
本专利技术涉及图像处理领域，具体涉及可以抑制像元波动的坏点校正方法及装置、存储介质。
技术介绍
现有的图像传感器坏点校正算法都是以待检测像素为中心，考虑其周围5X5的Bayer色彩矩阵的处理，将周围像素与中心像素作比较，若差值超过阈值则判定为坏点，然后取中值或均值或概率估计的结果作为坏点的校正值。这类方法在于对坏点的判定和校正的处理是单一的，对单一图像的处理可以得到理想的效果，但是对存在波动的像元所造成的像素闪烁则没有考虑到，当坏点像素波动时，前一刻可能被判定为坏点，校正为中值或其他值，但是下一刻因为波动产生的灰度值变化，使其不满足坏点判定条件，没有被校正，而校正值与原值之间存在较大差异时，表现在图像上就是该位置的像元前后两帧的像素值变化较大，形成闪烁现象。而且这种闪烁不是传感器本身的像元闪烁，而是坏点校正算法将像元波动放大造成的闪烁，即现有的图像传感器坏点校正算法在解决了坏点问题的同时带来了新的闪烁问题。为了解决这个问题，可以通过如下方法来处理：再进行一次时域滤波，对图像像素在时域上的波动单独进行抑制处理，或者采用时空域滤波，减少遍历次数，同时进行空域上的坏点校正和时域上的抑制闪烁，这种方法无论是两次遍历还是一次遍历都需要引入时域滤波，即需要图像序列的参与，使得最后输出的结果图像必然存在延迟问题，不适合图像传感器的数据处理，更适用于离线的视频处理。
技术实现思路
针对上述现有技术存在的问题，本专利技术提供了一种可以抑制像元波动的坏点校正方法及装置、存储介质，对坏点校正算法进行改进，使其对像元波动的放大效应减少，以减弱或抑制图像的闪烁问题。具体的，本专利技术的一种可以抑制像元波动的坏点校正方法，包括如下步骤：(11)基于待检测像素的同通道m*m邻域矩阵，根据像素亮度值将邻域矩阵的像素分到亮点坏点分析序列和暗点坏点分析序列；(12)判断待检测像素所在坏点分析序列中像素的亮度值分布是否有第一断层，若是则进入步骤(13)，否则进入步骤(14)；(13)将待检测像素的亮度值校正到跨越过最近的一个第一断层的位置；(14)判断待检测像素所在坏点候选点序列中像素的亮度值分布是否有第二断层，若是则进入步骤(15)，否则完成待检测像素的校正过程；(15)将待检测像素的亮度值校正到到达或者越过最近的一个第二断层的位置；所述第一/二断层为大于预设第一/二分段阈值的区间，所述第一分段阈值大于第二分段阈值。作为上述方案的进一步优化，所述步骤(11)包括：(21)将包括待检测像素的m*m个像素按照亮度值从高到低排序，获取像素序列；(22)根据m值的奇偶情况，划分像素序列：当m为奇数时，将像素序列的前个像素分到亮点坏点候选点序列，后个像素分到暗点坏点候选点序列，第个像素确定为非坏点；当m为偶数时，将像素序列的前个像素分到亮点坏点候选点序列，后个像素分到暗点坏点候选点序列；(23)获取待检测像素所在坏点候选点序列，并在序列中加入第个像素形成亮点坏点分析序列或者暗点坏点分析序列。作为上述方案的进一步优化，所述步骤(13)包括根据待检测像素的校正方向是否具有第一断层而判断是否需要将待检测像素的亮度值跨越过一个第一断层进行校正，具体步骤包括：(31)当待检测像素所在序列为亮点坏点分析序列时：判断待检测像素位置和所有第一断层的位置关系；当待检测像素位置下方没有第一断层时，不进行校正，并输出待检测像素为非坏点信息；当待检测像素位置下方有至少一个第一断层时，获取待检测像素位置下方与其距离最近的一个第一断层的上下限位置；将待检测像素的亮度值向下校正到最近的一个第一断层的下限位置；(32)当待检测像素所在序列为暗点坏点分析序列时：判断待检测像素位置和所有第一断层的位置关系；当待检测像素位置上方没有第一断层时，不进行校正，并输出待检测像素为非坏点信息；当待检测像素位置上方有至少一个第一断层时，获取待检测像素位置上方与其距离最近的一个第一断层的上下限位置；将待检测像素的亮度值向上校正到最近的一个第一断层的上限位置。作为上述方案的进一步优化，所述步骤(15)中根据待检测像素的亮度值越过所述最近的一个第二断层的距离是否大于预设校正阈值，选择将待检测像素的亮度值校正到到达还是越过所述最近的一个第二断层的位置，所述校正阈值大于第二分段阈值且小于第一分段阈值。作为上述方案的进一步优化，所述步骤(15)包括根据待检测像素的校正方向是否具有第二断层而判断是否需要进行校正过程，具体步骤包括：(51)当待检测像素所在序列为亮点坏点分析序列时：判断待检测像素位置和所有第二断层的位置关系；当待检测像素位置下方没有第二断层时，不进行校正，并输出待检测像素未出现像元波动信息；当待检测像素位置下方有至少一个第二断层时，获取待检测像素位置下方与其距离最近的一个第二断层的上下限位置；计算待检测像素位置到达所述最近的一个第二断层上限的距离A1和到达最近的一个第二断层下限的距离A2；判断A2是否大于预设校正阈值；若是，则将待检测像素亮度值向下校正到到达所述最近的一个第二断层的位置；否则，将待检测像素亮度值向下校正到越过所述最近的一个第二断层的位置；(52)当待检测像素所在序列为暗点坏点分析序列时：判断待检测像素位置和所有第二断层的位置关系；当待检测像素位置上方没有第二断层时，不进行校正，并输出待检测像素未出现像元波动信息；当待检测像素位置上方有至少一个第二断层时，获取待检测像素位置上方与其距离最近的一个第二断层的上下限位置；计算待检测像素位置到达所述最近的一个第二断层上限的距离A1和到达第二断层下限的距离A2；判断A1是否大于预设校正阈值；若是，则将待检测像素亮度值向上校正到到达所述最近的一个第二断层的位置；否则，将将待检测像素亮度值向上校正到越过所述最近的一个第二断层的位置。本专利技术的一种可以抑制像元波动的坏点校正装置，包括：邻域像素分类模块，用于基于待检测像素的同通道m*m邻域矩阵，根据像素亮度值将邻域矩阵的像素分到亮点坏点分析序列和暗点坏点分析序列；第一校正条件判断模块，用于判断待检测像素所在坏点分析序列中像素的亮度值分布是否有第一断层，若是则进入第一校正执行模块，否则进入第二校正条件判断模块；第一校正执行模块，用于将待检测像素的亮度值校正到跨越过一个第一断层的位置；第二校正条件判断模块，用于判断待检测像素所在坏点分析序列中像素的亮度值分布是否有第二断层，若是则进入第二校正执行模块，否则完成待检测像素的校正过程；第二校正执行模块，用于将待检测像素的亮度值校正到到达或者越过最近的一个第二断层的位置；所述第一/二断层为大于预设第一/二分段阈值的区间，所述第一分段阈值大于第二分段阈值。...

【技术保护点】
1.一种可以抑制像元波动的坏点校正方法，其特征在于：包括如下步骤：/n(11)基于待检测像素的同通道m*m邻域矩阵，根据像素亮度值将邻域矩阵的像素分到亮点坏点分析序列和暗点坏点分析序列；/n(12)判断待检测像素所在坏点分析序列中像素的亮度值分布是否有第一断层，若是则进入步骤(13)，否则进入步骤(14)；/n(13)将待检测像素的亮度值校正到跨越过最近的一个第一断层的位置；/n(14)判断待检测像素所在坏点候选点序列中像素的亮度值分布是否有第二断层，若是则进入步骤(15)，否则完成待检测像素的校正过程；/n(15)将待检测像素的亮度值校正到到达或者越过最近的一个第二断层的位置；/n所述第一/二断层为大于预设第一/二分段阈值的区间，所述第一分段阈值大于第二分段阈值。/n

【技术特征摘要】
1.一种可以抑制像元波动的坏点校正方法，其特征在于：包括如下步骤：
(11)基于待检测像素的同通道m*m邻域矩阵，根据像素亮度值将邻域矩阵的像素分到亮点坏点分析序列和暗点坏点分析序列；
(12)判断待检测像素所在坏点分析序列中像素的亮度值分布是否有第一断层，若是则进入步骤(13)，否则进入步骤(14)；
(13)将待检测像素的亮度值校正到跨越过最近的一个第一断层的位置；
(14)判断待检测像素所在坏点候选点序列中像素的亮度值分布是否有第二断层，若是则进入步骤(15)，否则完成待检测像素的校正过程；
(15)将待检测像素的亮度值校正到到达或者越过最近的一个第二断层的位置；
所述第一/二断层为大于预设第一/二分段阈值的区间，所述第一分段阈值大于第二分段阈值。


2.根据权利要求1所述的一种可以抑制像元波动的坏点校正方法，其特征在于：所述步骤(11)包括：
(21)将包括待检测像素的m*m个像素按照亮度值从高到低排序，获取像素序列；
(22)根据m值的奇偶情况，划分像素序列：
当m为奇数时，将像素序列的前个像素分到亮点坏点候选点序列，后个像素分到暗点坏点候选点序列，第个像素确定为非坏点；
当m为偶数时，将像素序列的前个像素分到亮点坏点候选点序列，后个像素分到暗点坏点候选点序列；
(23)获取待检测像素所在坏点候选点序列，并在序列中加入第个像素形成亮点坏点分析序列或者暗点坏点分析序列。


3.根据权利要求2所述的一种可以抑制像元波动的坏点校正方法，其特征在于：所述步骤(13)包括根据待检测像素的校正方向是否具有第一断层而判断是否需要将待检测像素的亮度值跨越过一个第一断层进行校正，具体步骤包括：
(31)当待检测像素所在序列为亮点坏点分析序列时：
判断待检测像素位置和所有第一断层的位置关系；
当待检测像素位置下方没有第一断层时，不进行校正，并输出待检测像素为非坏点信息；
当待检测像素位置下方有至少一个第一断层时，获取待检测像素位置下方与其距离最近的一个第一断层的上下限位置；
将待检测像素的亮度值向下校正到最近的一个第一断层的下限位置；
(32)当待检测像素所在序列为暗点坏点分析序列时：
判断待检测像素位置和所有第一断层的位置关系；
当待检测像素位置上方没有第一断层时，不进行校正，并输出待检测像素为非坏点信息；
当待检测像素位置上方有至少一个第一断层时，获取待检测像素位置上方与其距离最近的一个第一断层的上下限位置；
将待检测像素的亮度值向上校正到最近的一个第一断层的上限位置。


4.根据权利要求3所述的一种可以抑制像元波动的坏点校正方法，其特征在于：所述步骤(15)中根据待检测像素的亮度值越过所述最近的一个第二断层的距离是否大于预设校正阈值，选择将待检测像素的亮度值校正到到达还是越过所述最近的一个第二断层的位置，所述校正阈值大于第二分段阈值且小于第一分段阈值。


5.根据权利要求4所述的一种可以抑制像元波动的坏点校正方法，其特征在于：所述步骤(15)包括根据待检测像素的校正方向是否具有第二断层而判断是否需要进行校正过程，具体步骤包括：
(51)当待检测像素所在序列为亮点坏点分析序列时：
判断待检测像素位置和所有第二断层的位置关系；
当待检测像素位置下方没有第二断层时，不进行校正，并输出待检测像素未出现像元波动信息；
当待检测像素位置下方有至少一个第二断层时，获取待检测像素位置下方与其距离最近的一个第二断层的上下限位置；
计算待检测像素位置到达所述最近的一个第二断层上限的距离A1和到达最近的一个第二断层下限的距离A2；
判断A2是否大于预设校正阈值；
若是，则将待检测像素亮度值向下校正到到达所述最近的一个第二断层的位置；
否则，将...

【专利技术属性】
技术研发人员：魏烨，卢小银，秦少谦，万钟霖，雷秀军，严德斌，金一，
申请(专利权)人：合肥富煌君达高科信息技术有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34