一种IC芯片测试治具制造技术

本实用新型专利技术公开种IC芯片测试治具，包括芯片，所述芯片的底部设有吸附机构，所述吸附机构包括底座、吸盘和竖板，所述底座设于芯片的底部，所述底座的底部四角均安装有吸盘，所述底座的顶部固接有竖板。该IC芯片测试治具通过吸盘、底座和竖板之间的配合，使得该IC芯片测试治具可固定在外界平面上，避免了存在该IC芯片测试治具无法进行固定，可能会造成该IC芯片测试治具发生偏移，避免了存在该IC芯片测试治具无法将IC芯片进行固定，可能会造成IC芯片角度调节后，造成IC芯片掉落，使得对IC芯片的测试终止，影响工作效率，该IC芯片测试治具通过横板、圆板和V型块之间的配合，使得芯片可进行多种角度的转动调节，方便测试者对芯片进行检测。

【技术实现步骤摘要】
一种IC芯片测试治具
本技术涉及IC芯片
，具体为一种IC芯片测试治具。
技术介绍
治具是一个木工、铁工、钳工、机械、电控以及其他一些手工艺品的大类工具，主要是作为协助控制位置或动作(或两者)的一种工具。治具可以分为工艺装配类治具、项目测试类治具和线路板测试类治具三类,例如专利号为：201721674417.1，一种IC芯片测试治具，芯片样品测试时，只需调节螺纹微调器就能使观察视野内的样品图像调至清晰，不仅不需要加胶，也能避免对芯片样品的损坏，大大提高了测试效率，且能有效地提高芯片样品分析的准确性。虽然该IC芯片测试治具可以实现对芯片的角度调节，但存在该IC芯片测试治具无法将IC芯片进行固定，可能会造成IC芯片角度调节后，造成IC芯片掉落，使得对IC芯片的测试终止，影响工作效率的问题，且存在该IC芯片测试治具无法进行固定，可能会造成该IC芯片测试治具发生偏移，影响测试工作的问题。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种IC芯片测试治具，以解决上述
技术介绍
中提出的虽然该IC芯片测试治具可以实现对芯片的角度调节，但存在该IC芯片测试治具无法进行固定，可能会造成该IC芯片测试治具发生偏移，影响测试工作的问题。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种IC芯片测试治具，包括芯片，所述芯片的底部设有吸附机构；所述吸附机构包括底座、吸盘和竖板；所述底座设于芯片的底部，所述底座的底部四角均安装有吸盘，所述底座的顶部固接有竖板。使得该IC芯片测试治具可固定在外界平面上，避免了存在该IC芯片测试治具无法进行固定，可能会造成该IC芯片测试治具发生偏移，影响测试工作。优选的，所述竖板位于底座的顶部中点处。使得竖板对放置机构进行固定，避免放置机构无法保持平衡。优选的，所述底座的顶部设有第一调节机构；所述第一调节机构包括圆杆、横块、第一弹簧、竖杆和滚轮；两个所述圆杆固接于底座的顶部，两个所述圆杆的外壁均转动相连有横块，两个所述圆杆的外壁间隙配合有第一弹簧，所述第一弹簧的底部卡接于底座的顶部，所述第一弹簧的顶部卡接于横块的底部，两个所述横块的内侧固接有竖杆，所述竖杆的顶部通过销轴转动相连有滚轮。使得芯片可进行固定，避免了存在该IC芯片测试治具无法将IC芯片进行固定，可能会造成IC芯片角度调节后，造成IC芯片掉落，使得对IC芯片的测试终止，影响工作效率。优选的，两个所述圆杆关于竖板轴对称分布。使得圆杆可带动竖杆在竖板的中点处进行移动。优选的，所述竖板的前端面设有第二调节机构；所述第二调节机构包括V型块和圆板；所述V型块通过销轴转动相连于竖板的前端面，所述V型块的底部与滚轮的顶部相贴合，所述V型块的顶部固接有圆板。使得V型块可在滚轮的顶部进行左右转动。优选的，所述圆板的顶部设有放置机构；所述放置机构包括横板、内腔和通槽；所述横板通过轴承与圆板转动相连，所述横板的内部加工有内腔，所述内腔的内壁顶部加工有通槽。使得横板可带动芯片进行横向转动。优选的，所述内腔的内壁设有固定机构；所述固定机构包括滑杆、第二弹簧、第一滑套、横杆、手柄、第二滑套、竖块和橡胶垫；所述滑杆的左右两侧固接于内腔的内壁左右两侧，所述滑杆的外壁左右两侧均滑动相连有第一滑套，两个所述第一滑套的外壁与通槽的内壁间隙配合，所述滑杆的外壁左右两侧均间隙配合有第二弹簧，所述第二弹簧的外侧卡接于内腔的内壁外侧，所述第二弹簧的内侧卡接于第一滑套的外侧，两个所述第一滑套的顶部均固接有横杆，两个所述横杆的外壁间隙配合有第二滑套，两个所述第二滑套固接于横板的顶部左右两侧，两个所述横杆的外侧固接有手柄，两个所述横杆的内侧均固接有竖块，两个所述竖块的内侧固接有橡胶垫，两个所述橡胶垫的内侧与芯片的外壁相接触并抵紧。使得该IC芯片测试治具可固定在外界平面上，避免了存在该IC芯片测试治具无法进行固定，可能会造成该IC芯片测试治具发生偏移，影响测试工作。优选的，所述手柄的表面加工有纹路。纹路用于增加手柄与手之间的摩擦力。与现有技术相比，本技术的有益效果是：本技术结构科学合理，使用安全方便。该IC芯片测试治具通过吸盘、底座和竖板之间的配合，使得该IC芯片测试治具可固定在外界平面上，避免了存在该IC芯片测试治具无法进行固定，可能会造成该IC芯片测试治具发生偏移，影响测试工作。该IC芯片测试治具通过横杆、橡胶垫和手柄之间的配合，使得芯片可进行固定，避免了存在该IC芯片测试治具无法将IC芯片进行固定，可能会造成IC芯片角度调节后，造成IC芯片掉落，使得对IC芯片的测试终止，影响工作效率。该IC芯片测试治具通过横板、圆板和V型块之间的配合，使得芯片可进行多种角度的转动调节，方便测试者对芯片进行检测。附图说明图1为本技术连接关系示意图；图2为图1中吸盘、底座和竖板的连接关系示意图；图3为图1中V型块、竖板和圆板的连接关系示意图；图4为图1中滑杆、第二弹簧和手柄的连接关系示意图。图中：1、芯片，2、吸附机构，201、底座，202、吸盘，203、竖板，3、第一调节机构，301、圆杆，302、横块，303、第一弹簧，304、竖杆，305、滚轮，4、第二调节机构，401、V型块，402、圆板，5、放置机构，501、横板，502、内腔，503、通槽，6、固定机构，601、滑杆，602、第二弹簧，603、第一滑套，604、横杆，605、手柄，606、第二滑套，607、竖块，608、橡胶垫。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-4，本技术提供一种技术方案：一种IC芯片测试治具，包括芯片1，芯片1的底部设有吸附机构2，吸附机构2包括底座201、吸盘202和竖板203，底座201设于芯片1的底部，底座201的底部四角均安装有吸盘202，吸盘202用于外界平面相贴合，使得底座201固定在外界平面上，底座201的顶部固接有竖板203，竖板203位于底座201的顶部中点处，使得竖板203对放置机构5进行固定，避免放置机构5无法保持平衡。底座201的顶部设有第一调节机构3，第一调节机构3包括圆杆301、横块302、第一弹簧303、竖杆304和滚轮305，两个圆杆301固接于底座201的顶部，两个圆杆301的外壁均转动相连有横块302，使得横块302可在圆杆301的外壁进行升降运动，两个圆杆301的外壁间隙配合有第一弹簧303，第一弹簧303的弹性系数为4500-5500N\M，第一弹簧303的底部卡接于底座201的顶部，第一弹簧303的顶部卡接于横块302的底部，第一弹簧303给予横块302本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种IC芯片测试治具，包括芯片(1)，其特征在于：所述芯片(1)的底部设有吸附机构(2)；/n所述吸附机构(2)包括底座(201)、吸盘(202)和竖板(203)；/n所述底座(201)设于芯片(1)的底部，所述底座(201)的底部四角均安装有吸盘(202)，所述底座(201)的顶部固接有竖板(203)。/n

【技术特征摘要】
1.一种IC芯片测试治具，包括芯片(1)，其特征在于：所述芯片(1)的底部设有吸附机构(2)；
所述吸附机构(2)包括底座(201)、吸盘(202)和竖板(203)；
所述底座(201)设于芯片(1)的底部，所述底座(201)的底部四角均安装有吸盘(202)，所述底座(201)的顶部固接有竖板(203)。


2.根据权利要求1所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：所述竖板(203)位于底座(201)的顶部中点处。


3.根据权利要求1所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：所述底座(201)的顶部设有第一调节机构(3)；
所述第一调节机构(3)包括圆杆(301)、横块(302)、第一弹簧(303)、竖杆(304)和滚轮(305)；
两个所述圆杆(301)固接于底座(201)的顶部，两个所述圆杆(301)的外壁均转动相连有横块(302)，两个所述圆杆(301)的外壁间隙配合有第一弹簧(303)，所述第一弹簧(303)的底部卡接于底座(201)的顶部，所述第一弹簧(303)的顶部卡接于横块(302)的底部，两个所述横块(302)的内侧固接有竖杆(304)，所述竖杆(304)的顶部通过销轴转动相连有滚轮(305)。


4.根据权利要求3所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：两个所述圆杆(301)关于竖板(203)轴对称分布。


5.根据权利要求1所述的一种IC芯片测试治具，其特征在于：所述竖板(203)的前端面设有第二调节机构(4)；
所述第二调节机构(4)包括V型块(401)和圆板(402)；
所述V型块(401)通过销轴转动相连于竖板(203)的前端面，所述V型块(401)的底部与滚轮(305)的顶部相贴合，所述V型块(401)的顶...

【专利技术属性】
技术研发人员：关超君，
申请(专利权)人：关超君，
类型：新型
国别省市：山东;37