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一种基于上基准玉米植株高和穗高测量装置制造方法及图纸

技术编号:25943611 阅读:41 留言:0更新日期:2020-10-17 03:35
一种基于上基准的玉米植株高和穗高测量装置,由激光基准面装置和手持测量杆组成,包括三脚架、中空可伸缩连接杆、激光发射云台、株高测量架、定滑轮、光栅、滑动支座、拉线、手持杆、穗高测量尺、电机、圆形气泡水平仪、转换开关、设备安装平台。本发明专利技术通过激光发射云台在水平360°方向上连续发射激光,确定上基准面位置,电机通过转换开关分别将株高测量架和穗高测量杆调节到与玉米植株高和穗高齐平的位置,根据上基准位置与株高测量架和穗高测量尺的位置,能计算出玉米植株高和穗高。本发明专利技术测量基准统一,测量精度高,可支持多个测量杆同时测量,测量效率高,可快速完成基准面激光有效覆盖范围内的玉米植株高和穗高测量。

【技术实现步骤摘要】
一种基于上基准玉米植株高和穗高测量装置
本专利技术属于测量仪器设备
,具体涉及一种基于上基准的玉米植株高和穗高测量装置。
技术介绍
玉米在世界谷类作物中的种植面积和总产量仅次于小麦、水稻而居第三位,平均单产居首位,是重要的粮食作物和饲料来源;同时玉米还是生产生物能源的主要原料,玉米淀粉也是纺织、造纸、石油、医用、建筑、日用化工等行业的工业原料。各国玉米研究领域的学者都致力于提高玉米产量,研究表明增加种植密度是提高玉米产量的最有效的方法,但由于玉米倒伏等问题限制了种植密度的增加;其中植株过高、穗位过高等是玉米倒伏的主要原因。为了提高玉米产量,对其株高、穗高的选择成为关键。因此在玉米育种过程中,获得准确株高、穗高数据尤为重要。目前,针对玉米株高测量的仪器有很多种,但是都大同小异,主要是抽拉式玉米株高测量仪,现有仪器存在以下缺点:目前,对玉米穗位、株高等性状的测量,通常用抽拉式测量杆进行测量,由于玉米株高相对较高,种植密度较大,测量空间小,地面不平整,导致测量工作强度大,测量误差大。存在如下具体问题:1、使用前需本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于上基准的玉米植株高和穗高测量装置,其特征在于:由激光基准面装置和手持测量杆组成,激光基准面装置包括三脚架(1)、中空可伸缩连接杆(2)和激光发射云台(3),三脚架(1)上自带水平垂直校准装置,三脚架(1)调至水平固定在泥土里,以保证中空可伸缩连接杆(2)与地面保持垂直;中空可伸缩连接杆(2)安装在三脚架(1)上且可拆卸,中空可伸缩连接杆(2)底端安装锂电池,内部穿设电线,为激光发射云台(3)提供电源,中空可伸缩连接杆(2)顶端安装激光发射云台(3),安装激光发射云台(3)在水平360°方向上连续发射激光,以确定上基准面,激光发射云台(3)高度可调,最高离地面高度5.5米,激光有效覆...

【技术特征摘要】
1.一种基于上基准的玉米植株高和穗高测量装置,其特征在于:由激光基准面装置和手持测量杆组成,激光基准面装置包括三脚架(1)、中空可伸缩连接杆(2)和激光发射云台(3),三脚架(1)上自带水平垂直校准装置,三脚架(1)调至水平固定在泥土里,以保证中空可伸缩连接杆(2)与地面保持垂直;中空可伸缩连接杆(2)安装在三脚架(1)上且可拆卸,中空可伸缩连接杆(2)底端安装锂电池,内部穿设电线,为激光发射云台(3)提供电源,中空可伸缩连接杆(2)顶端安装激光发射云台(3),安装激光发射云台(3)在水平360°方向上连续发射激光,以确定上基准面,激光发射云台(3)高度可调,最高离地面高度5.5米,激光有效覆盖范围为距离激光发射云台(3)半径为30米的范围内;
所述手持测量杆包括株高测量架(5)、定滑轮(6)、光栅(7)、滑动支座(8)、拉线(9)、杆体(10)、穗高测量尺(11)、电机(12)、圆形气泡水平仪(13)、转换开关(14)和设备安装平台(15);圆形气泡水平仪(13)固定安装在设备安装平台(15)上,测量...

【专利技术属性】
技术研发人员:隗海林王楠郝国君李顾勇
申请(专利权)人:隗海林
类型:发明
国别省市:吉林;22

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