热辐射多次反射效应测定仪及其测定方法技术

本发明专利技术为热辐射多次反射效应测定仪及其测定方法。本发明专利技术公开了一种具有多个Ｖ字型检测腔体并能够测定土壤一植被系统热辐射的多次反射效应测定仪。两个Ｖ字型腔体水平连接，构成Ｗ字型的腔体，使之可以完成三次反射功能。多个Ｖ字型腔体水平连接，构成ＶＶＶ，ＶＶＶＶ等多级腔体，使之可以完成多次反射功能。在多级腔体的每一个折点处安装标准检定板。所有的腔体内侧和标准检定板的内侧镀金。本发明专利技术可以应用于测量或分析材料物理性质的领域。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及借助于测定材料的物理性质来测量或分析材料的领域，特别是涉及用辐射的方法来测量或分析材料的仪器及其测定方法。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是V字型半封闭腔体内侧电镀一层热辐射极高反射物质，其特征是多个V字型腔体水平连接起来，组成一个W字型或锯齿型的检测腔体，在腔体的第一分支上有一个接受辐射源的入射口，在腔体的最后一个分支上安装一台红外线测温仪，在W字型或锯齿型检测腔体的每个折点处安装一块能够灵活拆卸的、与腔体具有相同高热辐射反射率表面的标准检定板，测试时将W腔体上端折点处的标准检定板取下，放上一层植物的叶子，然后安回到原处，将W腔体两个下端折点处的标准检定板拆下，并将两个折点紧紧压在被测土壤上，天空下行冷辐射经腔体第一分支入射口射入，构成土壤-植物叶子-土壤的三次反射，如果三个V字型半封闭腔体水平相连，便可构成土壤-植物叶子-土壤--植物叶子-土壤的五次反射。测量方法是第一步，仅仅使用一个V字型腔体读取天空下行冷光源的辐射值。第二步，使用两个V字型腔体构成W字型腔体，利用W字型腔体再次测量天空下行冷光源的辐射值。第三步，在W字型腔体的每个折点处安装上标准检定板，再次测量天空下行冷光源的辐射值。还可以在上下端折点处的标准热辐射反射率板上都放上一层叶子，构成植物叶子-植物叶子-植物叶子的三次热辐射反射测定装置，甚至五次、七次…等等。本专利技术的有益效果是，多个V字型半封闭腔体水平相连，使光辐射在土壤-植物叶子-土壤之间多次反射，为建立和验证多次热辐射反射理论模型提供了一种新测量仪器。采用标准热辐射高反射率检定板测量所得的数据，可以用来推算红外测温仪镜头和腔体的热辐射对多次热辐射反射测定的干扰，提高多次热辐射反射测定的准确性。天空下行辐射光从W字型腔体上的第一个分支射入，照射到第一折点的标准检定板上，标准检定板将热辐射经第二分支反射到第二折点的标准检定板上，辐射再次被反射入W腔体的第三分支并到达W腔体第三折点，热辐射经W腔体第三折点上的标准检定板反射进入第五分支最后到达红外测温仪。若使用多个V字型腔体水平相连，可以构成多次反射腔体，实现土壤-植被系统多次热辐射反射效应的测量。测量方法如下第一步，使用一个V字型腔体，在折点处安装上标准热辐射高反射率检定板，读取天空下行冷辐射源的辐射值。第二步，使用两个V字型腔体构成W字型腔体并在每个折点处安装上标准热辐射高反射率检定板，利用此W字型腔体测量天空下行冷辐射源的辐射值。第三步，在W字型腔体的下端折点处取下标准热辐射高反射率检定板并且将W字型检测腔体贴近土壤表面放置，在W字型检测腔体上端折点处取下标准热辐射高反射率检定板，并且在镀有高反射率物质层面放上一层叶子后安装在原处，再次测量天空下行冷辐射源的辐射值。根据这三次读数，从而推算出土壤-植物叶子-土壤三次的热辐射多次反射效应。同理，可以增加V字型腔体，构成VVV，VVVV，VVVVV等多次反射腔体，从而计算出五次，七次，九次等等的热辐射反射效应。权利要求1.热辐射多次反射效应测定仪，检测腔体内电镀一层热辐射高反射率物质，其特征是两个V字型腔体水平连接，组成一个W字型的检测腔体(1)，在腔体(1)的第一分支(2a)上有一个接受光线的入射口，在腔体(1)的最后一个分支(2d)上安装一台红外线测温仪(4)，在腔体(1)的每个折点处安装一块可拆卸的标准检定板(3a)，(3b)，(3c)。2.根据权利要求1所述的热辐射多次反射效应测定仪，其特征是多个V字型腔体水平连接，构成VVV，VVVV，VVVVV等多级反射腔体并在每一个折点处安装标准检定板。3.根据权利要求1和权利要求2所述的热辐射多次反射效应测定仪，其特征是所有的V字型腔体内测和标准检定板内侧镀金。4.根据权利要求1～3之一所述的热辐射多次反射效应测定仪的测定方法，其特征是第一步，使用一个V字型腔体并在折点处安装上标准热辐射高反射率检定板(3a)，读取天空下行冷辐射源的辐射值。第二步，使用两个V字型腔体构成W字型腔体并在每个折点处安装上标准热辐射高反射率检定板(3a)，(3b)和(3c)，利用此W字型腔体测量天空下行冷辐射源的辐射值。第三步，在W字型腔体的下端折点处取下标准热辐射高反射率检定板(3a)和(3c)并且将腔体贴近土壤表面放置，在上端折点处取下标准热辐射高反射率检定板(3b)，并且在镀有高反射率物质层面放上一层叶子后安装在原处，再次测量天空下行冷辐射源的辐射值。根据这三次读数，从而推算出土壤-植物叶子-土壤三次的热辐射多次反射效应。全文摘要本专利技术为。本专利技术公开了一种具有多个V字型检测腔体并能够测定土壤一植被系统热辐射的多次反射效应测定仪。两个V字型腔体水平连接，构成W字型的腔体，使之可以完成三次反射功能。多个V字型腔体水平连接，构成VVV，VVVV等多级腔体，使之可以完成多次反射功能。在多级腔体的每一个折点处安装标准检定板。所有的腔体内侧和标准检定板的内侧镀金。本专利技术可以应用于测量或分析材料物理性质的领域。文档编号G01N21/00GK1465970SQ0212374公开日2004年1月7日 申请日期2002年6月21日 优先权日2002年6月21日专利技术者张仁华, 孙晓敏, 朱治林, 唐新斋, 苏红波 申请人:中国科学院地理科学与资源研究所本文档来自技高网...

【技术保护点】
热辐射多次反射效应测定仪，检测腔体内电镀一层热辐射高反射率物质，其特征是：两个Ｖ字型腔体水平连接，组成一个Ｗ字型的检测腔体（１），在腔体（１）的第一分支（２ａ）上有一个接受光线的入射口，在腔体（１）的最后一个分支（２ｄ）上安装一台红外线测温仪（４），在腔体（１）的每个折点处安装一块可拆卸的标准检定板（３ａ），（３ｂ），（３ｃ）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：张仁华，孙晓敏，朱治林，唐新斋，苏红波，
申请(专利权)人：中国科学院地理科学与资源研究所，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]