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原子吸收分光光度计扣背景钨灯联合调制测控方法及装置制造方法及图纸

技术编号:2593278 阅读:207 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种原子吸收分光光度计扣背景钨灯联合调制测控方法,该方法包括:    ①将待测元素的样品放入原子化器进行加热燃烧使之原子化;    ②元素灯光脉冲穿过该原子化器进入单色仪及测控系统;    ③扣背景光经半反半透镜反射,穿过原子化器进入单色仪及测控系统,该扣背景光的光源为氘灯;扣背景光脉冲与元素灯光脉冲在时间上不断交替,通过原子化器再进入单色器及测控系统。    其特征在于:该方法还包括:③中的扣背景光的光源还包括卤钨灯,在卤钨灯与氘灯光脉冲的光路上设有换灯反射镜,分别将氘灯光脉冲或钨灯光脉冲反射至半反半透镜,再经该半反半透镜反射穿过原子化器进入单色仪及测控系统;    ④在扣背景光的光路上设有调制器,对扣背景光进行调制,该调制器有一由电机转动的调制盘和光电开关,该调制盘的盘面上的外沿、内面之一有对应扣背景光的挡光部分、通光部分及对应光电开关的透光部分,在该透光部分移出光电开关时由电路给出元素灯光脉冲控制信号,元素灯发光,盘旋转至透光部分转到光电开关位置,盘的透光部分让卤钨灯光通过,盘的透光部分进入光电开关,光电开关导通,元素灯灭,该通光部分让卤钨灯光通过,通过的光经半反半透镜分成反射和透射两部分光,反射光进入样品,透射部分由光传感器接收作为卤钨灯光的同步信息。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及原子吸收分光光度计的扣背景方法及装置。
技术介绍
原子吸收分光光度计常用氘灯扣背景法扣除背景吸收的干扰,但氘灯的光谱能量主要集中在紫外区,在可见光谱区由于其能量太弱而无法工作,影响了光度计的测试应用范围及精度,因此现有技术有改进、完善的必要。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种原子吸收分光光度计扣背景钨灯联合调制测控方法及装置,在可见光谱区也可用扣背景法进行背景扣除,对可见光谱的元素如钠、钾、钙、钠、钨等也能进行背景校正。本专利技术的目的是这样实现的一种原子吸收分光光度计扣背景钨灯联合调制测控方法,该方法包括①将待测元素的样品放入原子化器进行加热燃烧使之原子化;②元素灯光脉冲穿过该原子化器进入单色仪及测控系统;③扣背景光经半反半透镜反射,穿过原子化器进入单色仪及测控系统,该扣背景光的光源为氘灯;扣背景光脉冲与元素灯光脉冲在时间上不断交替,通过原子化器再进入单色器及测控系统。该方法还包括③中的扣背景光的光源还包括卤钨灯,在卤钨灯与氘灯光脉冲的光路上设有换灯反射镜,分别将氘灯光脉冲或钨灯光脉冲反射至半反半透镜,再经该半反半透镜反射穿过原子化器进入单色仪及测控系统;④在扣背景光的光路上设有调制器,对扣背景光进行调制,该调制器有一由电机转动的调制盘和光电开关,该调制盘的盘面上的外沿、内面之一有对应扣背景光的挡光部分、通光部分及对应光电开关的透光部分,在该透光部分移出光电开关时由电路给出元素灯光脉冲控制信号,元素灯发光,盘旋转至透光部分转到光电开关位置,盘的透光部分让卤钨灯光通过,盘的透光部分进入光电开关,光电开关导通,元素灯灭,该通光部分让卤钨灯光通过,通过的光经半反半透镜分成反射和透射两部分光,反射光进入样品,透射部分由光传感器接收作为卤钨灯光的同步信息。一种原子吸收分光光度计扣背景钨灯联合调制测控装置,包括原子化器,元素灯,单色仪及测控系统,该原子化器置放于元素灯光脉冲的光路上,该元素灯光脉冲穿过原子化器进入单色仪及测控系统,该装置还包括①产生扣背景光脉冲的卤钨灯,该卤钨灯光脉冲经反射镜反射至设置在元素灯光路上的半反半透镜,经该半反半透镜反射后与元素灯光脉冲同光路穿过原子化器进入单色仪及测控系统,在所述卤钨灯光脉冲的光路上设有卤钨灯同步传感器,该传感器连接单色仪及测控系统;②在扣背景光脉冲的光路上设有对扣背景光进行调制的调制器,它包括由电机转动的调制盘,光电开关,该光电开关的调制输出连接元素灯电源的调制输入,该元素灯电源连接元素灯,该调制盘的盘面上有扣背景光的挡光部分、通光部分及对应光电开关的透光部分,该透光部分移出光电开关时由电路给出元素灯的发光脉冲。所述扣背景光脉冲的光源还包括氘灯,该氘灯与卤钨灯的光脉冲分别射向换灯机构的反射镜,反射至半反半透镜。在所述元素灯与半反半透镜之间的光路上设有聚光透镜。本专利技术有以下积极有益的效果本专利技术利用原子吸收卤钨灯背景校正联合调制法。在可见光谱区也可用类似氘灯扣背景法进行背景扣除。原子吸收扣背景,扣背景的光与元素灯的光在时间上须是不断交替通过样品再进入单色器及检测系统的,且对扣背景光脉冲,元素灯光脉冲,接收器信号的相位有严格要求。但卤钨灯由于热惯性大,不能象氘灯及元素灯那样通过对电源的快速调制使其发出的光达到快速调制。因而在卤钨灯扣背景时,能方便地实现对卤钨灯光的快速调制并实现对扣背景光脉冲,元素灯光脉冲,接收器信号的相位测控是技术关键。本专利的特点是通过一个调制器对卤钨灯光进行快速调制。同时由光电开关,元素灯(氘灯)及接收器的相位控制信息也由这个调制器获得。这样就方便地实现了扣背景的可见光与元素灯的光的快速交替调制及对其相位的测控,这样对可见光谱区的元素如钠、钾、钙、钡、钨、铯等也能进行背景校正。该项技术也可使氘灯的光与卤钨灯的光进行联合调制,从而用一套系统即能实现紫外光到可见光整个光谱区的背景校正,在电路方面不必再加另一套氘灯扣背景系统。附图说明图1是本专利技术一实施例的结构示意图;图2是图1中调制盘的结构示意图,为正视图;图3是图2的俯视图;图4同图3,为另一实施例;图5是元素灯、钨灯、接受器的时序示意图。具体实施例方式附图编号1.装有样品的原子化器 2.元素灯 3.单色仪及测控系统4.卤钨灯 5.(换灯机构的)反射镜 6.氘灯7.半反半透镜8.调制器801.调制盘802.电动机803.背景光挡光部分804.背景光通光部分805.光电开关透光部分 806.光电开关(元素灯同步传感器)807.电源 808.调制输出9.元素灯电源901.电阻902.二极管 903.运算放大器904.三极管 905.工作电压906.调制输入10.卤钨灯同步信号传感器11.聚光透镜X1、X2、X3.通光部分或挡光部分的尺寸角度t1、t2.脉冲时间 Δt.延时请参照图1,本专利技术是一种原子吸收分光光度计扣背景钨灯联合调制测控方法,该方法包括①将待测元素的样品放入原子化器1进行加热燃烧使之原子化;②元素灯2的光脉冲穿过该原子化器1进入单色仪及测控系统3;③扣背景光经半反半透镜7反射,穿过原子化器1进入单色仪及测控系统3,该扣背景光的光源为氘灯6;扣背景光脉冲与元素灯光脉冲在时间上不断交替见图5,通过原子化器1再进入单色器及测控系统3。该方法还包括③中的扣背景光的光源还包括卤钨灯4,在卤钨灯与氘灯光脉冲的光路上设有换灯反射镜5,分别将氘灯光脉冲或钨灯光脉冲反射至半反半透镜7,再经该半反半透镜反射穿过原子化器1进入单色仪及测控系统3;④在扣背景光的光路上设有调制器8见图1、图2,对扣背景光进行调制,该调制器有一由电机802转动的调制盘801和光电开关806,该调制盘806的盘面上的外沿(见图3)、内面(见图4)之一有对应扣背景光的挡光部分803、通光部分804及对应光电开关的透光部分805,在该透光部分805移出光电开关806时由电路给出元素灯光脉冲控制信号,元素灯2发光,盘旋转至透光部分转到光电开关位置,盘的透光部分让卤钨灯光通过,调制盘801的透光部分805进入光电开关806,光电开关导通,元素灯灭,该通光部分804让卤钨灯4的光通过,通过的光经半反半透镜7分成反射和透射两部分光,反射光进入样品,透射部分由光传感器10接收作为卤钨灯光的同步信息。本专利技术还包括一种原子吸收分光光度计扣背景钨灯联合调制测控装置,包括原子化器1,元素灯2,单色仪及测控系统3,该原子化器1置放于元素灯2的光脉冲的光路上,该元素灯光脉冲穿过原子化器进入单色仪及测控系统,该装置还包括①产生扣背景光脉冲的卤钨灯4,该卤钨灯光脉冲经反射镜反射至设置在元素灯光路上的半反半透镜7,经该半反半透镜反射后与元素灯光脉冲同光路穿过原子化器进入单色仪及测控系统,在所述卤钨灯光脉冲的光路上设有卤钨灯同步传感器10,该传感器连接单色仪及测控系统3;②在扣背景光脉冲的光路上设有对扣背景光进行调制的调制器8,它包括由电机802转动的调制盘801,光电开关806,该光电开关的调制输出808连接元素灯电源9的调制输入906,该元素灯电源9连接元素灯2,该调制盘801的盘面上有扣背景光的挡光部分803、通光部分804及对应光电开关806的透光部分805,该透光部分805移出光电开关806时由电路给出元素灯2的发光脉冲本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员:武进田
申请(专利权)人:武进田
类型:发明
国别省市:

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