一种高一致性XRF粉末分析样品杯装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种高一致性XRF粉末分析样品杯装置，包括支腿和安装在支腿上的样品杯，所述样品杯的上方对称设置有两个伸缩机构，两个所述伸缩机构的输出端共同固定连接有安装板，所述安装板的前侧固定有支架，所述支架上通过活动组件安装有偏斜杆，所述偏斜杆的下端安装有抹擦布辊，所述安装板的底部开设有限位槽，所述限位槽内安装有与活动组件相匹配的驱动组件，所述活动组件包括转动安插在支架上的转轴，所述偏斜杆固定套接在转轴上，所述转轴的后端固定套接有齿轮。本实用新型专利技术通过机械助力的方式实现对样品杯的抹擦清洁，这样能更高效率地对样品杯进行清洁，大大提高了分析的连续性和进度。

【技术实现步骤摘要】
一种高一致性XRF粉末分析样品杯装置
本技术属于粉末分析
，涉及一种高一致性XRF粉末分析样品杯装置。
技术介绍
X射线荧光光谱法是照射原子核的X射线能量与原子核的内层电子的能量在同一数量级时，核的内层电子共振吸收射线的辐射能量后发生跃迁，而在内层电子轨道上留下一个空穴，处于高能态的外层电子跳回低能态的空穴，将过剩的能量以X射线的形式放出，所产生的X射线即为代表各元素特征的X射线荧光谱线。其能量等于原子内壳层电子的能级差，即原子特定的电子层间跃迁能量。XRF粉末分析样品杯在重复使用后会影响结果的准确性，这样就需要对样品杯进行擦拭清洁，但目前大都依靠人工进行，效率低下，在一定程度上影响了分析的连续性和进度。
技术实现思路
本技术的目的是提出一种高一致性XRF粉末分析样品杯装置，解决现有技术中存在的对样品杯进行擦拭清洁大都依靠人工进行，效率低下的问题。为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种高一致性XRF粉末分析样品杯装置，包括支腿和安装在支腿上的样品杯，所述样品杯的上方对称设置有两个伸缩机构，两个所述伸缩机构的输出端共同固定连接有安装板，所述安装板的前侧固定有支架，所述支架上通过活动组件安装有偏斜杆，所述偏斜杆的下端安装有抹擦布辊，所述安装板的底部开设有限位槽，所述限位槽内安装有与活动组件相匹配的驱动组件。优选的，所述活动组件包括转动安插在支架上的转轴，所述偏斜杆固定套接在转轴上，所述转轴的后端固定套接有齿轮。优选的，所述驱动组件包括安装在限位槽内的马达，所述马达的输出轴固定连接有螺杆，所述螺杆外螺纹套设有内螺纹套筒，所述内螺纹套筒的底部通过对称设置的两个连接杆连接有齿条板，所述齿条板与齿轮啮合设置。优选的，所述伸缩机构为伸缩气缸或液压油缸。优选的，所述马达为直流伺服马达。优选的，所述抹擦布辊可拆卸式地安装在偏斜杆的末端。本技术的有益效果为：通过机械助力的方式实现对样品杯的抹擦清洁，这样能更高效率地对样品杯进行清洁，大大提高了分析的连续性和进度。附图说明图1为本技术提出的一种高一致性XRF粉末分析样品杯装置的主视图；图2为图1中A处的放大图；图3为本技术中安装板与偏斜杆之间连接情况的示意图。图中：1支腿、2样品杯、3伸缩机构、4安装板、5偏斜杆、6抹擦布辊、7马达、8支架、9转轴、10齿轮、11齿条板、12连接杆、13内螺纹套筒、14螺杆。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。在本技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。参照图1-3，一种高一致性XRF粉末分析样品杯装置，包括支腿1和安装在支腿1上的样品杯2，样品杯2的上方对称设置有两个伸缩机构3，伸缩机构3为伸缩气缸或液压油缸，两个伸缩机构3的输出端共同固定连接有安装板4，安装板4的前侧固定有支架8，支架8上通过活动组件安装有偏斜杆5，偏斜杆5的下端安装有抹擦布辊6，安装板4的底部开设有限位槽，限位槽内安装有与活动组件相匹配的驱动组件，活动组件包括转动安插在支架8上的转轴9，偏斜杆5固定套接在转轴9上，转轴9的后端固定套接有齿轮10，驱动组件包括安装在限位槽内的马达7，马达7为直流伺服马达，马达7的输出轴固定连接有螺杆14，螺杆14外螺纹套设有内螺纹套筒13，内螺纹套筒13的底部通过对称设置的两个连接杆12连接有齿条板11，齿条板11与齿轮10啮合设置。抹擦布辊6可拆卸式地安装在偏斜杆5的末端，这样可以便捷地实现对用脏了的抹擦布辊6的换新。本技术提出的一种高一致性XRF粉末分析样品杯装置中，在每次分析完成后，倒出样品杯2内的粉末，之后控制伸缩机构3带动安装板4下移至抹擦布辊6的外缘与样品杯2的内底部贴合，再之后启动马达7有规律地正反转进而带动内螺纹套筒13在限位槽内往复滑移，这样齿条板11就可以啮合带动齿轮10也就是带动偏斜杆5往复有规律地对样品杯2的内底部进行抹擦清洁；综上所述，通过机械助力的方式实现对样品杯2的抹擦清洁，这样能更高效率地对样品杯2进行清洁，大大提高了分析的连续性和进度。以上所述，仅为本技术较佳的具体实施方式，但本技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本技术揭露的技术范围内，根据本技术的技术方案及其技术构思加以等同替换或改变，都应涵盖在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高一致性XRF粉末分析样品杯装置，其特征在于，包括支腿(1)和安装在支腿(1)上的样品杯(2)，所述样品杯(2)的上方对称设置有两个伸缩机构(3)，两个所述伸缩机构(3)的输出端共同固定连接有安装板(4)，所述安装板(4)的前侧固定有支架(8)，所述支架(8)上通过活动组件安装有偏斜杆(5)，所述偏斜杆(5)的下端安装有抹擦布辊(6)，所述安装板(4)的底部开设有限位槽，所述限位槽内安装有与活动组件相匹配的驱动组件。/n

【技术特征摘要】
1.一种高一致性XRF粉末分析样品杯装置，其特征在于，包括支腿(1)和安装在支腿(1)上的样品杯(2)，所述样品杯(2)的上方对称设置有两个伸缩机构(3)，两个所述伸缩机构(3)的输出端共同固定连接有安装板(4)，所述安装板(4)的前侧固定有支架(8)，所述支架(8)上通过活动组件安装有偏斜杆(5)，所述偏斜杆(5)的下端安装有抹擦布辊(6)，所述安装板(4)的底部开设有限位槽，所述限位槽内安装有与活动组件相匹配的驱动组件。


2.根据权利要求1所述的一种高一致性XRF粉末分析样品杯装置，其特征在于，所述活动组件包括转动安插在支架(8)上的转轴(9)，所述偏斜杆(5)固定套接在转轴(9)上，所述转轴(9)的后端固定套接有齿轮(10)。


3.根据权利要求2所述的一种高一致...

【专利技术属性】
技术研发人员：高志帆，田碧珊，陈泽武，宋硙，王晶晶，侯长奇，
申请(专利权)人：西安佳谱电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：陕西;61