用于分选机或检查机的照明装置制造方法及图纸

技术编号:25845279 阅读:31 留言:0更新日期:2020-10-02 14:23
目的是提供使用1个照明光源对被检测物供应光量并用于是生成整体明亮且没有阴影部分的检测图像的照明装置。将分别来自被检测物的上下的照明所需的光源共用,用多个反射器接收来自照明光源的光并将其分为上方照明和下方照明来照亮被检测物。另外,用折射镜使来自照明光源的至少一部分光线的光路反射并入射到反射器。不降低光量而减少照明光源数量,实现照明装置整体小型化。使用由曲率不同的多个部分凹曲面构成的凹曲面镜的反射器,即使被检测物的落下轨迹偏离假定轨迹,也使被检测物存在于照明范围内,因此在摄像机的检测图像内不会产生阴影或者图像本身变暗。其结果,能够防止检测精度下降。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于分选机或检查机的照明装置
本专利技术涉及通过色彩来分选或者检查谷粒或树脂颗粒等粒状物的色选机等,特别是涉及当光学检测单元拍摄作为被检测物的粒状物时对被检测物进行照明的照明装置的技术。
技术介绍
以往以来,已知将米或大豆等谷粒、树脂颗粒、咖啡豆、其它粒型被检测物关于色彩或形状等分类为规定的基准内的物体和基准外的物体,或者将混入了的异物分选后去除的分选机(参照下述的专利文献1)。如专利文献1所示,以往的分选机的光学检测部对沿着配置于分选机的倾斜台(以下称为“滑动道”。)向斜下方流下移动的被检测物(例如,谷粒)进行拍摄。该光学检测部至少具备可见光用的摄像机和荧光灯等可见光源(进而,有时也包括近红外光用的摄像机和卤素灯等近红外光源。)。若要在由这种光学检测部进行的谷粒的检测图像中不产生阴影并且清晰地检测谷粒的整体,则当然从流下轨迹的前后两侧(当从1个摄像机观看米粒时,是朝向摄像机侧的米粒的表面为前侧物体面、其相反的一侧为后侧物体面这一含义,设为表示“前后”。以下相同。)进行拍摄,在前后各侧要求来自上方的照明以及来自下方的照明、也就是说来自共本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于分选机或检查机的照明装置,是在基于由光学检测单元得到的被检测物的检测图像来区分该被检测物是合格品还是不合格品的分选机或检查机中使用的照明装置,其特征在于,具备:/n光源部,其具有发出照明光的光源;以及/n多个反射器,其将来自上述光源部的光线朝向上述被检测物反射。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180226 JP 2018-0315601.一种用于分选机或检查机的照明装置,是在基于由光学检测单元得到的被检测物的检测图像来区分该被检测物是合格品还是不合格品的分选机或检查机中使用的照明装置,其特征在于,具备:
光源部,其具有发出照明光的光源;以及
多个反射器,其将来自上述光源部的光线朝向上述被检测物反射。


2.根据权利要求1所述的用于分选机或检查机的照明装置,其特征在于,
上述多个反射器包括夹着上述光学检测单元的光轴在两侧配置的第一反射器及第二反射器,上述第一反射器及上述第二反射器中的至少任意一个反射器是凹曲面镜。


3.根据权利要求2所述的用于分选机或检查机的照明装置,其特征在于,
来自同一上述光源部的光线由上述第一反射器及上述第二反射器反射,形成朝向上述被检测物的光路,从而对上述被检测物从上下方向进行照明。


4.根据权利要求2或权利要求3所述的用于分选机或检查机的照明装置,其特征在于,
上述光源部配置在上述第一反射器与上述第二反射器之间的包含上述光轴的空间区域。


5.根据权利要求4所述的用于分选机或检查机的照明装置,其特征在于,
在从上述光源部放射的光线中的至少一部分光线的光路上配置有折射镜,
上述折射镜的第一反射面将上述至少一部分光线的光路折曲而使其朝向上述第一反射器行进,从上述光源部放射的光线中的未到达上述折射镜的光线的至少一部分入射到上述第二反射器。


6.根据权利要求4所述的用于分选机或检查机的照明装置,其特征在于,
在从上述光源部放射的光线的光路上配置有折射镜,
上述折射镜具有第一反射面和向与上述第一反射面不同的方向改变光路的第二反射面,
上述第一反射面将从上述光源部放射的光线的一部分光路折曲并反射而使其朝向上述第一反射器,
上述第二反射面使未到达上述第一反射面的来自上述光源部的光线的至少一部分反射而使其朝向上述第二反射器。


7.根据权利要求2至6中的任意一项所述的用于分选机或检查机的照明装置...

【专利技术属性】
技术研发人员:河村阳一
申请(专利权)人:株式会社佐竹
类型:发明
国别省市:日本;JP

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