一种面向化铣演变的激光刻型过程的轨迹规划方法技术

技术编号:25833563 阅读:31 留言:0更新日期:2020-10-02 14:15
本发明专利技术公开了一种面向化铣演变的激光刻型过程的轨迹规划方法,属于激光表面制造技术。其技术要点在于,基于两次化铣演变的化铣零件第二次刻蚀三维数模期望点选取;基于化铣演变的第二次激光刻型位置点选取;化铣零件三维数模第一次激光刻型期望点选取;第一次激光刻型位置点选取;面向规则特征的轨迹规划;面向自由曲线特征的轨迹规划。本发明专利技术建立了基于化铣演变的变侵蚀比的激光刻型轨迹规划,有效解决了不同侵蚀比条件/不同化铣深度条件下激光刻型轨迹的智能生成问题,可以更好的保证制造精度提升激光刻型效率,使激光刻型制造加工更加智能化。

【技术实现步骤摘要】
一种面向化铣演变的激光刻型过程的轨迹规划方法
本专利技术涉及激光制造领域,特别是涉及一种面向化铣演变的激光刻型过程的轨迹规划方法。
技术介绍
随着航空航天飞机机构件的设计了大量的加强筋结构,结构形式越来越复杂。为了解决这些复杂型面零件的加工,航空航天飞机结构件采用了化铣加工工艺。化铣图案的激光刻型是整个机匣化铣工艺流程中的一个关键步骤,是将需化学铣削部分的防护层上刻出设计的图案并实现剥离。目前,国内外广泛使用激光来进行零件化铣图案的激光刻型。现有激光刻型工艺和方法的主要难点在于:一是加工过程中,由于一般情况下没有考虑化铣侵蚀比对零件的影响,给定的实际加工零件是经过了多次激光刻型化铣后的最终零件,激光刻型过程零件模型一般不直接给出,造成在第一次和第二次激光刻型中的激光刻型点和轨迹的选取困难。二是面向复杂型面的曲线或者以及经过化铣后加强经侧壁复杂结构的轨迹规划难以实现自适应调整。三是现有激光刻型考虑化铣演变时主要针对平面激光刻型,化铣侵蚀比的缩放简单,无法解决曲面信息的缩放问题。因此,研发一种面向化铣演变的激光刻蚀过程的轨迹规划方法本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种面向化铣演变的激光刻型过程的轨迹规划方法,其特征在于,包括以下特征:/n零件经过两次“激光刻型—化学铣削”,即“第一次激光刻型--第一次化学铣削--第二次激光刻型--第二次化学铣削”才能实现最终加工成型,两次激光刻型轨迹都需要化学铣削工艺过程侵蚀比参数来进行实际轨迹规划;/nS1,根据化铣零件三维数模信息,计算第二次激光刻型的结构实际位置点;/nS2,计算第一次激光刻型的结构实际位置点。/n

【技术特征摘要】
1.一种面向化铣演变的激光刻型过程的轨迹规划方法,其特征在于,包括以下特征:
零件经过两次“激光刻型—化学铣削”,即“第一次激光刻型--第一次化学铣削--第二次激光刻型--第二次化学铣削”才能实现最终加工成型,两次激光刻型轨迹都需要化学铣削工艺过程侵蚀比参数来进行实际轨迹规划;
S1,根据化铣零件三维数模信息,计算第二次激光刻型的结构实际位置点;
S2,计算第一次激光刻型的结构实际位置点。


2.如权利要求1所述的一种面向化铣演变的激光刻型过程的轨迹规划方法,其特征在于,包括以下特征:
所述的S1中,其包括以下几个子步骤:
S1.1,化铣零件三维数模期望点选取;
读取化铣零件三维数模信息,选取任意一点作为期望点:包括期望点坐标信息,期望点所在的边界曲线或曲面信息、以及根据曲线曲面信息计算所述期望点的切矢量和法矢量;
S1.2,第二次激光刻型期望点是经过两次化学铣削后获得的,即S1.1中读取化铣零件三维数模信息,第二次激光刻型过程的实际位置点要综合考虑两次化铣侵蚀的演变过程,并且二次化学铣削中,化铣同时向深度、侧壁以及顶层位置化铣;
三维曲面第二次激光刻型的结构实际位置点计算方法为:
1)已知第二次激光刻型后的结构理想数模,即S1.1中的化铣零件三维数模信息,化铣后数模边线AB、一次激光刻型侵蚀比第二次激光刻型侵蚀比以及数模中模型期望点P2;
2)第二次激光刻型是在第一次激光刻型的基础上进行位置点的确定,通过2D轮廓仪器能够测量一次激光刻型和第二次激光刻型的实际加工加强筋的实际轮廓,两次激光刻型的轮廓基本能够拟合成圆弧,圆弧的圆心O和半径R可以根据拟合计算获得,并计算第一次化铣后近似圆弧特征曲线为和二次化铣圆弧曲线
3)在结构截面中,已知期望点P2、圆弧曲线方程和二次激光刻型侧向和深度侵蚀比二次激光刻型深度要求h2,在直角坐标系中计算出实际化铣的侧向深度
4)根据AB边界曲线和所在一次激光刻型轮廓信息,计算P2点所在的结构的实际轮廓曲面的法向量M2(a2,b2,c2),边线AB的切向量N2(a2',b2',c2'),可以求得垂直于法向量和切向量的单位向量
5)根据方向向量e2和第二次化铣后的数模边界圆弧曲线能够计算圆弧内通过过圆心O2且垂直于方向向量e2的向量e3以及上一点P2;
6)在三维数模中,能够计算出第二次激光刻型/蚀刻的位置点:
P2'=(P2x,P2y,P2z)=p2-b2·e2=P2-(k2/h2)·e2;
7)根据坐标变换矩阵,计算第二次激光刻型过程中实际激光刻型点在工件坐标系或机床坐标系...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘强王健臧辰鑫孙鹏鹏
申请(专利权)人:北京航空航天大学北京航空航天大学江西研究院
类型:发明
国别省市:北京;11

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