用于生成掩模的方法和设备技术

一种用于产生用在光测量系统（１０）中的掩模（５２）的方法（１００），该光测量系统包括用于把光投射到物体（１２）表面上的光源（２２），和用于接收从该物体表面反射回来的光的成像系统。该方法包括确定（１０２）待检查物体的轮廓，和基于所确定轮廓产生（１０４）掩模，其中该掩模包括在其内部延伸的开口（１７２），从光源处看来该开口的轮廓与物体的轮廓基本匹配。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术一般涉及检查物体，特别涉及用于生成用来检查物体的掩模的方法和设备。
技术介绍
有时候检查物体，例如，以确定全部或一部分该物体的尺寸和/或形状，以及/或者检查物体中的缺陷。例如，检查燃气轮机引擎组件，如涡轮或压气机叶片，以检查可以由引擎引起的振动、机械和/或热应力而引起的疲劳裂缝。此外，例如，检查一些燃气轮机引擎叶片，如平台取向，轮廓横截面、沿堆叠轴的弓形弯和扭转、厚度、和/或在指定横截面的弦长的变形状况。随着时间的过去，例如当裂纹扩展穿透物体时，对具有一个或多个缺陷的物体的连续运转会降低物体的性能和/或导致物体损坏。因此，尽可能早的检查到物体的缺陷可以有助于增强物体的性能和/或减少物体的损坏。为了便于检查物体，使用光测量系统来检查至少一些物体，该光测量系统投射结构化光图案到物体的表面上。光测量系统接收从物体表面反射回来的结构化光图案，然后分析反射的光图案的形变以计算出物体的表面特征。特别是，在运行期间，被检查的物体有时连接着试验夹具(fixture)并且放置在接近光测量系统处。然后打开光源使得发射光照亮物体。但是，在运行期间，光源也可以照亮试验夹具的至少一部分和/或超出本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于产生用在光测量系统（１０）中的掩模（５２）的方法（１００），该光测量系统（１０）包括用于把光投射到物体（１２）表面上的光源（２２），和用于接收从该物体表面反射的光的成像系统，所述方法包括：　　　　确定（１０２）待检查物体的轮廓；和　　　　基于所确定的轮廓产生（１０４）掩模，其中该掩模包括在其内部延伸的开口（１７２），从光源处看来该开口的轮廓与物体的轮廓基本匹配。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：KG哈丁，X钱，RS德穆思，
申请(专利权)人：通用电气公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]