【技术实现步骤摘要】
将测试和测量仪器耦合到被测装置的可表面安装的设备相关申请的交叉引用本申请是2017年11月7日提交的题为“探针尖端和探针组件”的美国非临时专利申请15/806,270的部分延续。另外，本申请要求2019年3月21日提交的题为“用于将测试和测量仪器耦合到被测装置的可表面安装设备”的美国临时专利申请序列号62/821,972的权益。这两个相关申请都通过引用并入本文，如同它们的全部内容被复制一样。
本公开涉及测试和测量系统，并且更特别地涉及测试和测量探针。
技术介绍
今天的工程师正试图测试携带高速串行总线的装置。这些装置大都可以被认为是，但不限于，双倍数据速率第二代（DDR2）同步动态随机存取存储器（SDRAM）、双倍数据速率第四代（DDR4）SDRAM和外围部件互连高速（PCIe）。电压摆动的幅度和脉冲频率非常高，并且信令的复杂性需要精确的电探测。这些和其他总线在各种类型的消费者硬件装置中变得非常普遍。这些产品中的每种产品都有许多感兴趣的测试点。这些产品中的测试点在几何形状和可接入性两方面差异极大，通常需...
【技术保护点】
1.一种用于将测试和测量仪器耦合到被测装置的设备，包括：/n夹子，其具有导电的第一端、导电的第二端和连接所述第一端和第二端的非导电构件，所述夹子被构造成附接在所述被测装置的两个导电部分之间，使得所述夹子桥接所述两个导电部分之间的非导电间隙；/n第一插入件，其被构造成可移除地安装在所述夹子中，并在所述被测装置的所述两个导电部分之间提供基本上不受阻碍的电流路径；和/n第二插入件，其被构造成可移除地安装在所述夹子中，并提供用于耦合到所述测试和测量仪器的一对信号测量点。/n
【技术特征摘要】
20190321 US 62/821972;20190325 US 16/3637901.一种用于将测试和测量仪器耦合到被测装置的设备，包括：
夹子，其具有导电的第一端、导电的第二端和连接所述第一端和第二端的非导电构件，所述夹子被构造成附接在所述被测装置的两个导电部分之间，使得所述夹子桥接所述两个导电部分之间的非导电间隙；
第一插入件，其被构造成可移除地安装在所述夹子中，并在所述被测装置的所述两个导电部分之间提供基本上不受阻碍的电流路径；和
第二插入件，其被构造成可移除地安装在所述夹子中，并提供用于耦合到所述测试和测量仪器的一对信号测量点。
2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述第一插入件包括零欧姆电阻器。
3.根据权利要求2所述的设备，其中，所述零欧姆电阻器包括圆棒电阻器。
4.根据权利要求1所述的设备，其中，所述第二插入件包括电阻值R大于零的电阻元件。
5.根据权利要求4所述的设备，其中，所述电阻元件包括圆棒电阻器。
6.根据权利要求4所述的设备，其中，所述电阻值是基于所述被测装置的所述两个导电部分之间的待测量的信号的预期幅度范围来选择的。
7.根据权利要求4所述的设备，其中，所述电阻元件的所述两端提供所述一对信号测量点，并且所述一对信号测量点通过探针耦合到所述测试和测量仪器。
8.根据权利要求7所述的设备，其中，所述测试和测量仪器被配置成测量电压信号v(t)。
9.根据权利要求8所述的设备，其中，所述测试和测量仪器还被配置成通过使用关系di(t)/dt=(dv(t)/dt)/R来确定电流信号i(t)。
10.根据权利要求4所述的设备，还包括环绕所述电阻元件的微线圈，所述微线圈具有一对引线以提供所述一对信号测量点。
11.根据权利要求10所述的设备，其中，所述一对引线提供与流过所述电阻元件的电流成比例的电压信号。
12.根据权利要求10所述的设备，其中，所述一对引线通过探针耦合到所述测试和测量仪器。
13.根据权利要求12...
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