本发明专利技术公开了一种样条缺口制取装置，该装置包括带锁紧装置的可调限位螺旋测微器（４），所述螺旋测微器（４）相对的位置上安装有带锁紧装置的调节螺钉（８），所述螺旋测微器（４）的测量杆末端与所述调节螺钉（８）末端的起始位置之间的距离为设定的切入深度Ｔ。本发明专利技术使用的螺旋测微器（４）经精确调整，可以精确控制切入深度，其分辨率通常可达０．０１毫米。使用本发明专利技术的装置制取的样条缺口精度高，重复性好，可以排除制样操作人员的个体差异，通过测试可以真实反映出被测材料的特性。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种高分子材料物理机械性能测试试样制取装置，是精密机构 和高精度测量的组合，主要应用于高分子材料的分析测试领域。 背条技术缺口拉伸试验(PENT)的最大优势就在于通过加大测试负荷而使测试时间 大大缩短，而且可得到离散度小、平行性好的测试曲线，具有很好的可比性。 为了得到上述试验结果，在被测样条上按照标准精确地制取缺口就成为决定测 试结果准确与否的一个关键环节。制作样条的缺口是一件看似简单但工艺要求 很高的工作，直接影响树脂性能测试结果的准确性。目前传统制样机可用于在样条上制取切口的装置为一圆盘状锯片，由于盘 状锯片厚度较大(l毫米以上)，无法满足缺口拉伸试验(PENT)中刀片厚度为0. 2-0. 3毫米的要求，且切口深度和切入速度均无法控制。总之，传统制样 机无法制出符合相关标准要求的试样缺口 (例如，标准ASTMF1473-01中关于 试样切口尺寸的技术要求为刀片厚度0. 2-0. 3咖；切入速度不大于 0. 25咖/min;深度误差±0. Olmm),加上不同操作者之间的个体差异，所制样 条的测试数据离散度较大，极大影响测试结论的准确性。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种样条缺口制取装置，使用本专利技术的 装置能够精确有效地控制切入深度。本专利技术的样条缺口制取装置包括静支座2、滑块6、刀片7以及螺紋施 力机构9，所述静支座2包括头部、尾部和位于其间的两条平行的导轨，所述 滑块6安装在两条导轨上，并能够沿导轨运动，所述刀片7安装在滑块6上，其尖端指向静支座2的头部并与其垂直，所述螺紋施力机构9安装在静支座2 的尾部，与所述尾部螺紋连接，其螺杆垂直于滑块6，用于推动滑块6在导轨 上运动，所述样条缺口制取装置还包括带锁紧装置的可调限位螺旋测微器4， 其安装于静支座2的头部两导轨以外的位置且平行于刀片7，在所述滑块6上 与所述螺旋测微器4相对的位置上安装有带锁紧装置的调节螺钉8，所述螺旋 测微器4的测量杆末端与所述调节螺钉8末端的起始位置之间的距离为设定的 切入深度T。优选地，本专利技术的样条缺口制取装置还包括百分表1，其安装于静支座2 的头部两导轨以外的位置且平行于刀片7，在所述滑块6上与所述百分表1相 对的位置上安装有带锁紧装置的起始点调节螺钉5，在滑块6行进的过程中， 所述起始点调节螺钉5推动百分表1上的测量杆，在所述百分表1上显示行进 的距离。该优选的技术方案能够进一步对切入过程进行精密的指示和监控，从 而有效地控制切入速度。本专利技术使用的螺旋测微器4经精确调整，可以精确控制切入深度，其分辨 率通常可达0. Ol毫米；百分表l有放大作用，可以精确控制切入速度，其分 辨率可达O. 01毫米。使用本专利技术的装置制取的样条缺口精度高，重复性好， 可以排除制样操作人员的个体差异，通过测试可以真实反映出被测材料的特 性。本专利技术在使用时，对操作人员无特殊技能要求，会使用计量器具即可。 附图说明图1为本专利技术的样条缺口制取装置示意图； 图2为本专利技术优选的样条缺口制取装置示意图。 具体实施例方式如图1所示，本专利技术的样条缺口制取装置包括静支座2、滑块6、专用 刀片7以及螺紋施力机构9，所述静支座2包括头部、尾部和位于其间的两条 平行的精密导轨，所述滑块6安装在两条导轨上，并能够沿导轨运动，所述刀片7安装在滑块6上，其尖端指向静支座2的头部并与其垂直，所述螺紋施力 机构9安装在静支座2的尾部，与所述尾部螺紋连接，其螺杆垂直于滑块6， 用于推动滑块6在导轨上运动，所述样条缺口制取装置还包括带锁紧装置的精 密可调限位螺旋测微器4 (分辨率0. 01毫米)，其安装于静支座2的头部两导 轨以外的位置且平行于刀片7，在所述滑块6上与所述螺旋测微器4相对的位 置上安装有带锁紧装置的调节螺钉8，所述螺旋测微器4的测量杆末端与所述 调节螺钉8末端的起始位置之间的距离为设定的切入深度T。所述螺旋测微器 4经精确调整，可以精确控制切入深度T。如图2所示，本专利技术优选的样条缺口制取装置还包括百分表l(分辨率0. 01 毫米)，用于监控指示切入过程，其安装于静支座2的头部两导轨以外的位置 且平行于刀片7，在所述滑块6上与所述百分表1相对的位置上安装有带锁紧 装置的起始点调节螺钉5，在滑块6行进的过程中，所述起始点调节螺钉5推 动百分表l上的测量杆，在所述百分表l上显示行进的距离。所述百分表l可 以准确显示出刀片7切入的动态过程(不同的材料对切入速度有各自不同的要 求)，该优选的技术方案能够进一步对切入过程进行精密的指示和监控，从而 有效地控制切入速度。本专利技术优选的样条缺口制取装置的操作步骤如下1. 将待加工样条3置于静支座2的两条平行导轨上；2. 转动螺紋施力机构9，推动滑块6前进，当刀片7接触到样条3时停止转动；3. 不分先后地进行以下两步a、 将螺旋测微器4调零位，然后旋动调节螺钉8使之与螺旋测微器4接触， 拧紧调节螺钉8上的锁紧装置锁住调节螺钉8，旋动螺旋测微器4，旋动 值为缺口切入深度T，然后锁紧；b、 转动起始点调节螺钉5，使其接触百分表1上的测量杆，使百分表1指 针指零；旋紧起始点调节螺钉5上的锁紧装置，此时若百分表l指针微量偏离零位，可以旋转百分表l的刻度盘，使指针指零，至此，零点调好；4.转动螺紋施力机构9，推动滑块6前进，注意监视百分表l，控制好螺紋施 力机构9的转动，使切入速度符合相应标准要求；当刀片7切入样条3且 螺旋测微器4接触到调节螺钉8、螺紋施力机构9转不动即可，则切入深度 符合相应标准要求。权利要求1.一种样条缺口制取装置，包括静支座(2)、滑块(6)、刀片(7)以及螺纹施力机构(9)，所述静支座(2)包括头部、尾部和位于其间的两条平行的导轨，所述滑块(6)安装在两条导轨上，并能够沿导轨运动，所述刀片(7)安装在滑块(6)上，其尖端指向静支座(2)的头部并与其垂直，所述螺纹施力机构(9)安装在静支座(2)的尾部，与所述尾部螺纹连接，其螺杆垂直于滑块(6)，用于推动滑块(6)在导轨上运动，所述样条缺口制取装置还包括带锁紧装置的可调限位螺旋测微器(4)，其安装于静支座(2)的头部两导轨以外的位置且平行于刀片(7)，在所述滑块(6)上与所述螺旋测微器(4)相对的位置上安装有带锁紧装置的调节螺钉(8)，所述螺旋测微器(4)的测量杆末端与所述调节螺钉(8)末端的起始位置之间的距离为设定的切入深度(T)。2. 如权利要求1所述的样条缺口制取装置，其特征在于所述样条缺口制取 装置还包括百分表(1),其安装于静支座(2)的头部两导轨以外的位置 且平行于刀片(7)，在所述滑块(6)上与所述百分表(1)相对的位置上 安装有带锁紧装置的起始点调节螺钉(5),在滑块(6)行进的过程中， 所述起始点调节螺钉(5 )推动百分表(1)上的测量杆，在所述百分表(1) 上显示行进的距离。全文摘要本专利技术公开了一种样条缺口制取装置，该装置包括带锁紧装置的可调限位螺旋测微器(4)，所述螺旋测微器(4)相对的位置上安装有带锁紧装置的调节螺钉(8)，所述螺旋测微器(4)的测量杆末端与所述调节螺钉(8)末端的起始位置之间的距离为设定的切入深度T。本专利技术使用的螺旋测微器(4)经精确调整，可以精确控制切入深度，其分辨率通常可达0.01本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种样条缺口制取装置，包括：静支座（２）、滑块（６）、刀片（７）以及螺纹施力机构（９），所述静支座（２）包括头部、尾部和位于其间的两条平行的导轨，所述滑块（６）安装在两条导轨上，并能够沿导轨运动，所述刀片（７）安装在滑块（６）上，其尖端指向静支座（２）的头部并与其垂直，所述螺纹施力机构（９）安装在静支座（２）的尾部，与所述尾部螺纹连接，其螺杆垂直于滑块（６），用于推动滑块（６）在导轨上运动，所述样条缺口制取装置还包括带锁紧装置的可调限位螺旋测微器（４），其安装于静支座（２）的头部两导轨以外的位置且平行于刀片（７），在所述滑块（６）上与所述螺旋测微器（４）相对的位置上安装有带锁紧装置的调节螺钉（８），所述螺旋测微器（４）的测量杆末端与所述调节螺钉（８）末端的起始位置之间的距离为设定的切入深度（Ｔ）。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：华晔，者东梅，孙佳文，李晓林，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司，中国石油化工股份有限公司北京化工研究院，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。