装备有用于延伸激光束截面的光学装置的光热检验摄影机制造方法及图纸

本发明专利技术的光热检验摄影机（１６）装备有：激光束（４）成形系统（２２），所述成形系统（２２）包括用于延伸激光束截面的装置（４０），其延伸方式为在可检验物件（１）的表面形成沿着方向（Ｄ）延伸的加热区域（２）；红外传感器（１０）矩阵（８），其用于探测由与加热区域（２）相关的所述物件（１）的表面上的探测区域（３）发出的红外射线；以及处理所述红外传感器（１０）发射的信号的单元（４６），其处理方式为借助于加热区域（２），通过扫描所述物件（１）的表面（１ａ）产生物件（１）的表面（１ａ）的温度记录图象。延伸装置（４０）被具体化为光学装置的形式。所述发明专利技术可以应用于非破坏性检测。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种光热检验(examination)摄影机，包括用于成形激光束的系统，该系统包括用于延伸光束截面(section) 的装置，以在待检验物件表面形成沿一个方向延伸的加热区域，红外探测器矩阵，其探测从与加热区域相关的所述物件表面上的探 测区域发出的红外射线，以及用于处理由红外探测器供应的信号的单元，以经过加热区域扫描所 述表面来构造所述物件表面的温度记录影象。
技术介绍
本专利技术特别适用于物件的非破坏性检测，用以探测缺陷、材料的特性或 性质的不同、镀层厚度的差异，以及在其表面上或其下部的热扩散率或传导 率的局部差异等等。待检验物件可以是金属的，包括例如不锈钢之类的合金钢等含铁材料， 或不含铁的材料。待检验物件也可以由合成材料、陶瓷或塑料制成。光热检验是基于对所述待检验物件进行局部加热产生的热扰动的扩散 现象。实际中，利用光热摄影机在加热区域内发出激光束，所述激光束聚 焦在所检验的物件表面。所述物件在毗邻或包含加热区域的探测区域内发出的红外射线，由 于在加热区域内加热而使探测区域的温度上升，以便其被测量或估量。所述加热区域和探测区域之间的间距，通常称为"偏移量"。此偏 本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于光热检验的摄影机（１６），这种类型的摄影机包括：　　　　用于成形激光束（４）的成形系统（２２），所述成形系统（２２）包括用于延伸所述光束的截面以在待检验物件（１）表面上形成沿一个方向（Ｄ）延伸的加热区域（２）的延伸装置（４０），　　　　红外探测器（１０）的矩阵（８），其探测由所述物件（１）的表面（１ａ）上的探测区域（３）发出的红外射线，以及　　　　处理单元（４６），用于处理由所述红外探测器（１０）提供的信号，以经过该加热区域（２）扫描该表面（１ａ）来构造所述物件（１）的表面（１ａ）的温度记录图象，　　　　其特征在于：所述延伸装置（４０）为光学装置。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：马克皮里乌，洛朗勒格朗雅克，
申请(专利权)人：阿海珐核能公司，
类型：发明
国别省市：FR[法国]