用于表明粒子流的特征的系统和方法技术方案

本发明专利技术涉及一种系统，用于在一具有通过一对碾辊（２、４）构成的碾辊通道（６）的辊式破碎机座中表明一粒子流的特征，例如表明碾磨物料、特别是磨碎的谷物的特征，其中该系统具有：一在碾辊通道（６）后面的提取装置（８）用以从离开碾辊通道（６）的碾磨物料流中取出一碾磨物料样品（１）；一显示部分（１０）用以输送和显示取出的碾磨样品（１）；一检测装置（１２、２４）用以检测通过显示部分输送的碾磨物料样品（１）；和一分析装置（１４）用以分析检测的碾磨物料样品（１）。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种系统和方法用以表明粒子流的特征，其中检测至 少各单个粒子的形状、尺寸或运动行为。
技术介绍
在粒子流中涉及一粉末状至颗粒状的散装物料的流动，特别是谷 物、面粉、糖、颜料、化学产品、药品、放射灰尘、煤烟粒子、有机 色料粉末等。在研磨颗粒状物质例如小麦或糖时在一辊式破碎机座中在一对碾 辊的各碾辊之间破碎颗粒状物质。为了获得例如一确定的细度的面粉 一般必须将碾磨物料多次导过一这样的通道，同时在这期间通过风力 分选和筛选分级。这样可以获得例如具有不同的细度或不同的碾碎度 的面粉。一通道的碾磨作用主要取决于 一 对碾辊的两碾辊之间的缝隙间 距。但也具有其它的辊式破碎机座工作参数影响通道的碾碎作用。因 此值得期望的是，得到在一确定的通道后流出的碾磨物料的特征。如 果此时发生碾磨物料对一碾磨物料的额定特征的偏差，则可以从该偏 差出发实施缝隙间距或必要时另 一辊式破碎机座工作参数的校正，以 便尽可能快地重新消除该偏差。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，提供一种系统和方法，其能够在一辊式破碎 机座中表明粒子流、特别从一碾磨通道中流出的碾磨物料的特征。按照权利要求1所述的系统和按照权利要求33所述的方法达到该 目的。本专利技术的系统包括一提取装置用以从粒子流中取出 一样品； 一显 示部分用以输送和显示取出的样品； 一检测装置用以检测通过显示部分输送的样品；和一分析装置用以分析检测的样品。本专利技术的方法具有以下步骤从粒子流中取出一样品；在一显示 部分中输送和显示取出的样品；检测通过显示部分输送的样品；和分 析检测的样 品o按这种方式可以获得粒子流、特别从一碾磨通道中流出的碾磨物 料的特征。优选在提取装置的下游和在显示部分上游或显示部分中设置一解 聚集部分用以分解样品中的粒子料团。。由此防止由许多粒子构成的料 团被虚假地检测和识别为大粒子。提取装置可以经由一气动管道连接于显示部分，使可以通过气动 管道和显示部分沿 一 流动路径输送样品，按这种方式本专利技术的系统也 可以在碾磨厂内安装在一远离辊式破碎机座的位置，借此增大在一碾 磨设备的设计时创造的自由度。符合目的地显示部分具有两个对置的壁，在它们之间形成一间隙， 其中两个对置的壁优选是相互平行设置的平面表面。符合目的地上述的气动管道在一通口区域内通入对置的各壁之间 形成的间隙内，其中流动路径在通口区域内优选具有一方向变化。由 此引起在气动管道的输送气体中随带的碾磨物料在管道壁上的碰撞， 这有助于可能存在的料团的解聚集。流动路径的方向变化特别在30° 与90。之间并优选在80。与90°之间。这在随带的粒子上在其转向碰撞 时导致特别大的冲量变化并从而导致一特别显著的碰撞作用。符合目的地检测装置具有一摄像机用以检测电磁辐射或电》兹频 率，特别是光频率，其中摄像机优选指向间隙或向间隙对准。按照第一方案，显示部分的对置的各壁可以透过可被摄像机检测 的电磁辐射、特别是光频率。因此摄像机可以按选择在间隙的任一侧 设置在一壁的后面。在该第 一设置中，摄像机在间隙的 一 侧在间隙下游设置在两个能 透射的壁的其中一个上，并且一用于电磁辐射的能源、特别是光源， 为了可由摄像机检测的电磁辐射，在间隙的另 一侧在间隙下游设置在两个能透射的壁的另 一个上，从而通过间隙输送的样品的粒子由电磁 辐射照射并且样品的粒子的阴影或投影进入摄像机的视域。按照第二方案，显示部分的两个对置的壁中第一壁可以透过可由 摄像机检测的电磁辐射、特别是光频率，而第二壁不能透过可由摄像 机检测的电磁频率、特别是光频率并且是比样品的粒子更强地吸光。在该第二设置中，摄像机在间隙的 一侧在间隙下游设置在能透射 的壁上，并且一用于电磁辐射的能源、特别是光源，为了可由摄像机 检测的电磁辐射，在间隙的同 一侧在间隙下游设置在能透射的壁上， 从而照射通过间隙输送的样品的粒子并且样品的粒子的散射光或反射 进入摄像机的视域。在此有利的是，第二壁的间隙侧的表面比粒子的表面对由能源发 射的电磁辐射具有更强的吸收作用。由此确保，在间隙侧的表面前面 运动的反射的粒子与由壁反射的光之间具有足够多的反差，从而可以 轻而易举地实现成像的粒子的检测并且显著地便于接着的图像处理。 这在图像处理时节省昂贵的和费时间的过滤过程。在一有利的进一步发展中，分别为两个对置的壁配置一净化装置， 借此净化装置两个对置的壁可以解除在其上粘附的粒子。这保证，无 过多的静止的、亦即在一个或另一个壁上粘附的粒子在摄像机中成像。 在壁上粘附的粒子的粒子尺寸分布一般不同于在粒子流中随带的粒 子。如果在粒子流图像信息的检测和处理过程中能够消除静止的与运 动的粒子之间的区别，则因此应该定期实施一这样的壁净化，以便"抖 落，，在各壁上粘附的粒子。净化装置是一振动源、特别是超声波源，其分别与两个对置的壁 刚性连接，以便可以使两个壁处于振动。也将这种方案称为净化装置 的"固体传声方案"。或者，净化装置是一振动源、特别是超声波源，借此净化装置可 以使气态的介质在两个对置的壁之间振动。也将这种方案称为净化装 置的"空气传声方案"。解聚集部分优选是在显示部分的入口区域内的碰撞表面。除通过碰撞和向料团的冲量传递的解聚集外，壁净化装置的空气传声方案也 可以有助于空气中随带的粒子的解聚集，其中必要时依次或同时以不 同的超声波频率工作。流动路径的方向变化优选处于显示部分的入口区域中。因此在粒子流的光检测前不远实现碰撞，从而粒子实际上是完全解聚集的。在这方面还必须提到，还特别有利的是，在上游在显示部分前不远在气动管道中设置多个孔，经由它们将外界空气("混杂气")吸入以小的负压工作的气动管道中。该必要时脉动地混入的混杂气也有助于壁净化和解聚集。符合目的地显示部分或"窗口"大于摄像机的视域，此时摄像机则只检测显示部分的一部分区域。这能够将摄像机在显示区域内定位在壁或窗口上的一个位置上，在该位置预期在粒子流内的一最小的粒子偏析。当显示部分或窗口大于摄像机的视域时也可以多个摄像机分别检 测显示部分的一部分区域。由此在显示部分内可以获得不同位置的不 同的粒子流图像的平均值。如果在不同的部分区域发生粒子流的偏析， 则可以通过该平均值实现一校正，借此可以至少部分地补偿这样的偏 析，从而从各相应的粒子流图像中平均的信息的总体对于在全部粒子 流中的粒子尺寸分布是有代表性的。在一特别的实施形式中分别可按选择控制多个摄像机，从而可使 用在图像传感器上的粒子流图像的选择的部分并可以取平均值。或者显示部分可以基本上符合摄像机的全视域，此时摄像机的图 像传感器则是按选择可控制的，从而可使用在图像传感器上的粒子流 图像的选择的部分。优选纯随机地实现一这样的选择的控制，而且特 别通过借助于随机发生器的控制。在一有利的进一步开发中为一辊式破碎机座配置本专利技术的系统并 且在碾辊通道后面包括多个沿一碾辊通道的轴向方向设置的提取装置，其中优选第一提取装置设置在碾辊通道的第一轴向末端的区域内 和第二提取装置设置在碾辊通道的第二轴向末端的区域内。由此可以获得作为沿一对碾辊的轴向位置的函数的碾碎度的信息。在沿一对碾情况下，可以推断出一对碾辊的各碾辊的定位误差并进行校正。符合目的地光源和摄像机连接于一控制装置，该控制装置可以同步地接通和关闭光源和摄本文档来自技高网...

【技术保护点】
用于表明粒子流的粒子的特征的系统，该系统具有：　　　　一提取装置（８）用以从粒子流中取出一样品（１）；　　　　一显示部分（１０）用以输送和显示取出的样品（１）；　　　　一检测装置（１２、２４）用以检测通过显示部分（１０）输送的样品（１）；和　　　　一分析装置（１４）用以分析检测的样品（１）。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：D皮耶里，J利斯纳，A吕埃格，P盖斯比勒，
申请(专利权)人：比勒股份公司，
类型：发明
国别省市：CH[瑞士]