检查单元以及检查装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种检查单元以及检查装置。检查单元具有第一检查夹具及第二检查夹具，其分别具有：在两端部分别设有可与检查对象接触的第一触点部和可与检查装置接触的第二触点部的接触件、以及在第一触点部向外部露出的状态下将接触件收纳在内部的壳体，并沿第一方向并列配置。第一检查夹具及第二检查夹具的至少一方配置为可沿第一方向移动，在使检查对象从第二方向与各第一触点部接近的状态下使第一检查夹具及第二检查夹具的至少一方沿第一方向移动，由此，各第一触点部在第一方向上与检查对象接触。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】检查单元以及检查装置
本公开涉及检查单元、以及具有该检查单元的检查装置。
技术介绍
在相机或液晶面板等电子配件组件中，通常在其制造工序中，进行导通检查及操作特性检查等。上述检查通过使用探针，将用于与在电子配件组件设置的主体基板连接的FPC接触电极或实际安装的基板对基板连接器等的电极部与检查装置连接来进行。作为进行上述检查的夹具，例如具有专利文献1所述的电子配件用插座。该电子配件用插座具有：电极部，其具有相对于电子配件的电极端子以及被连接电子配件的电极端子可分别接触的一对接头；插座主体，其将该电极部收纳在内部。在所述电子配件用插座中，通过电极部沿连结一对接头的排列方向进行伸缩，使各接头沿该排列方向往复移动、相对于电子配件的电极端子及被连接电子配件的电极端子在其排列方向上接触而构成。现有技术文献专利文献专利文献1：(日本)特开2002-134202号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的技术问题近年来，随着检查装置以及检查对象的多样化，在各接头沿同一方向相对于检查对象接近、并在其接本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检查单元，其特征在于，/n具备沿第一方向并列配置的第一检查夹具及第二检查夹具，所述第一检查夹具及所述第二检查夹具分别具有：/n接触件，其在两端部分别设有可与检查对象接触的第一触点部和可与检查装置接触的第二触点部；/n壳体，其在所述第一触点部向外部露出的状态下将所述接触件收纳在内部；/n所述第一检查夹具及所述第二检查夹具的至少一方配置为可沿所述第一方向移动，/n在使所述检查对象从与所述第一方向交叉的第二方向与各所述第一触点部相对接近的状态下，使所述第一检查夹具及所述第二检查夹具的至少一方沿所述第一方向移动，由此，各所述第一触点部在所述第一方向上与所述检查对象接触。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180307 JP 2018-0410681.一种检查单元，其特征在于，
具备沿第一方向并列配置的第一检查夹具及第二检查夹具，所述第一检查夹具及所述第二检查夹具分别具有：
接触件，其在两端部分别设有可与检查对象接触的第一触点部和可与检查装置接触的第二触点部；
壳体，其在所述第一触点部向外部露出的状态下将所述接触件收纳在内部；
所述第一检查夹具及所述第二检查夹具的至少一方配置为可沿所述第一方向移动，
在使所述检查对象从与所述第一方向交叉的第二方向与各所述第一触点部相对接近的状态下，使所述第一检查夹具及所述第二检查夹具的至少一方沿所述第一方向移动，由此，各所述第一触点部在所述第一方向上与所述检查对象接触。


2.如权利要求1所述的检查单元，其特征在于，
还具有可动部，其使所述第一检查夹具及所述第二检查夹具的至少一方在所述第一方向上移动。


3.如权利要求2所述的检查单元...

【专利技术属性】
技术研发人员：笹野直哉，寺西宏真，酒井贵浩，SH崔，
申请(专利权)人：欧姆龙株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP