显示面板的检测电路、方法及显示面板技术

本申请提供了一种显示面板的检测电路、方法及显示面板，涉及显示技术领域。检测电路包括：多个第一面板测试开关单元，被配置为通过数据线与第一子像素区域连接；测试信号单元，与第一面板测试开关单元连接，用于向多个第一面板测试开关提供N个不同的测试信号，以控制在同一时刻至少一个第一子像素区域中的子像素与其他任意一个第一子像素区域中的子像素的期望亮暗状态相反，测试信号包括测试控制信号和测试数据信号，N为大于2的整数；多个多路分配开关单元，被配置为通过数据线与子像素区域连接，以及与扇区走线连接。利用本申请的技术方案能够确定扇区走线是否发生短路，以保证显示面板的安全性。

【技术实现步骤摘要】
显示面板的检测电路、方法及显示面板
本申请属于显示
，尤其涉及一种显示面板的检测电路、方法及显示面板。
技术介绍
随着显示技术的迅速发展，显示面板的应用越来越广泛，用户对显示面板的显示面积的要求也越来越高。窄边框成为了显示面板的一种重要发展趋势。实现窄边框的显示面板中，下边框空间很小。下边框处设置有扇区走线(即Fanout)，扇区走线用于进行集成电路(IntegratedCircuit，IC)与数据线的走线连接。由于扇区走线排布密集，扇区走线之间的距离也较近，容易发生短路。而现阶段无法发现扇区走线发生的短路，降低了显示面板的安全性。
技术实现思路
本申请实施例提供了一种显示面板的检测电路、方法及显示面板，能够确定扇区走线是否发生短路，以保证显示面板的安全性。第一方面，本申请实施例提供一种显示面板的检测电路，显示面板具有多个子像素区域，子像素区域包括第一子像素区域，第一子像素区域包括同列且颜色相同的子像素；检测电路包括：多个第一面板测试开关单元，被配置为通过数据线与第一子像素区域连接；测试信号单元，与第一面板测试开关单元连接，用于向多个第一面板测试开关提供N个不同的测试信号，以控制在同一时刻至少一个第一子像素区域中的子像素与其他任意一个第一子像素区域中的子像素的期望亮暗状态相反，测试信号包括测试控制信号和测试数据信号，N为大于2的整数；多个多路分配开关单元，被配置为通过数据线与子像素区域连接，以及与扇区走线连接。根据本申请实施例的第一方面，一个第一面板测试开关单元与一个第一子像素区域连接，测试信号单元包括N1条第一测试控制信号线，一条第一测试控制信号线用于提供一个测试控制信号，N1条第一测试控制信号线提供的N1个测试控制信号不同，N1为整数且2≤N1≤N-1，每条第一测试控制信号线与至少一个第一面板测试开关单元连接，且不同的第一测试控制信号线连接的第一面板测试开关单元不同。根据本申请实施例的第一方面，一行子像素区域中第一子像素区域与N1条第一测试控制信号线交替连接。根据本申请实施例的第一方面，测试信号单元包括N2条第一测试数据信号线，一条第一测试数据信号线用于提供一个测试数据信号，N2条第一测试数据信号线提供的N2个测试数据信号不同，一个第一面板测试开关单元与一个第一子像素区域连接，N2为整数且2≤N2≤N-1，每条第一测试数据信号线与至少一个第一面板测试开关单元连接，且不同的第一数据控制信号线连接的第一面板测试开关单元不同。根据本申请实施例的第一方面，一行子像素区域中第一子像素区域与N2条第一测试数据信号线交替连接。根据本申请实施例的第一方面，第一测试控制信号线与第一面板测试开关单元的控制端连接，第一测试控制信号线提供的测试控制信号用于控制第一面板测试开关单元的通断。根据本申请实施例的第一方面，第一测试数据信号线与第一面板测试开关单元的第一端或第二端连接，测试控制信号和第一测试数据信号线提供的测试控制信号用于控制第一子像素区域中子像素的期望亮暗状态。根据本申请实施例的第一方面，显示面板的检测电路还包括：检测单元，用于在一个第一子像素区域中的子像素与另一个第一子像素区域中的子像素的期望亮暗状态相反，且一个第一子像素区域中的子像素与另一个第一子像素区域中的子像素的实际亮暗状态相同的情况下，确定扇区走线发生短路。根据本申请实施例的第一方面，检测单元具体用于在与不同的第一测试控制信号线连接的第一面板测试开关单元所对应的第一子像素区域同时发光，确定扇区走线发生短路。根据本申请实施例的第一方面，检测单元具体用于在与不同的第一测试数据信号线连接的第一面板测试开关单元所对应的第一子像素区域同时发光，确定扇区走线发生短路。根据本申请实施例的第一方面，子像素区域还包括第二子像素区域，第二子像素区域包括同列且颜色不同的子像素；检测电路还包括多个第二面板测试开关单元，第二面板测试开关单元被配置为通过数据线与第二子像素区域连接；测试信号单元还包括第二测试控制信号线、第三测试控制信号、第二测试数据信号线和第三测试数据信号线，第二测试控制信号线与通过数据线与第二子像素区域中一种颜色的子像素连接的第二面板测试开关单元连接，第三测试控制信号线与通过数据线与第二子像素区域中另一种颜色的子像素连接的第二面板测试开关单元连接，第二测试数据信号线与通过数据线与第二子像素区域中一种颜色的子像素连接的第二面板测试开关单元连接，第三测试数据信号线与通过数据线与第二子像素区域中另一种颜色的子像素连接的第二面板测试开关单元连接。根据本申请实施例的第一方面，该检测电路还包括多路分配控制信号单元，多路分配控制信号单元包括两条以上的多路分配控制信号线，子像素排列相同的子像素区域连接的多路分配开关单元与同一多路分配控制信号线连接。第二方面，本申请实施例提供一种显示面板的检测方法，应用于第一方面的技术方案中的显示面板的检测电路，显示面板的检测方法包括：生成N个不同的测试信号，将测试信号输入第一面板测试开关单元，测试信号包括测试控制信号和测试数据信号，N为大于2的整数；获取第一子像素区域中的子像素的期望亮暗状态；在一个第一子像素区域中的子像素与另一个第一子像素区域中的子像素的期望亮暗状态相反，且一个第一子像素区域中的子像素与另一个第一子像素区域中的子像素的实际亮暗状态相同的情况下，确定扇区走线发生短路。第三方面，本申请实施例提供一种显示面板，包括第一方面的技术方案中的检测电路。本申请实施例提供了一种显示面板的检测电路、方法及显示面板，检测电路中的多个第一面板测试开关被配置为与第一子像素区域连接。测试信号单元为多个第一面板测试开关提供了N个不同的测试信号，控制同一时刻至少一个第一子像素区域中的子像素与其他任意一个第一子像素区域中子像素的期望亮暗状态相反。若扇区走线发生短路，与期望亮暗状态为发光的第一子像素区域对应的扇区走线上的信号可能会传输至邻近的期望亮暗状态为不发光的第一子像素区域对应的扇区走线上，从而导致邻近的期望亮暗状态为不发光的第一子像素区域的子像素发光。从而可基于各个第一子像素区域的子像素的实际亮暗状态，确定扇区走线是否发生短路，保证显示面板的安全性。附图说明从下面结合附图对本申请的具体实施方式的描述中可以更好地理解本申请。其中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的特征。图1为本申请实施例提供的显示面板的示意图；图2为图1所示的显示区中子像素的排列方式的一示例的示意图；图3为本申请一实施例提供的显示面板的检测电路的结构示意图；图4为本申请另一实施例提供的显示面板的检测电路的结构示意图；图5为图4所示的显示面板的检测电路的信号的一示例的信号时序图；图6为本申请又一实施例提供的显示面板的检测电路的结构示意图；图7为图6所示的显示面板的检测电路的信号的一示例的信号时序图；图8为本申请一实施例提本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示面板的检测电路，其特征在于，所述显示面板具有多个子像素区域，所述子像素区域包括第一子像素区域，所述第一子像素区域包括同列且颜色相同的子像素；/n所述检测电路包括：/n多个第一面板测试开关单元，被配置为通过数据线与所述第一子像素区域连接；/n测试信号单元，与所述第一面板测试开关单元连接，用于向多个所述第一面板测试开关提供N个不同的测试信号，以控制在同一时刻至少一个所述第一子像素区域中的子像素与其他任意一个所述第一子像素区域中的子像素的期望亮暗状态相反，所述测试信号包括测试控制信号和测试数据信号，N为大于2的整数；/n多个多路分配开关单元，被配置为通过数据线与所述子像素区域连接，以及与扇区走线连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种显示面板的检测电路，其特征在于，所述显示面板具有多个子像素区域，所述子像素区域包括第一子像素区域，所述第一子像素区域包括同列且颜色相同的子像素；
所述检测电路包括：
多个第一面板测试开关单元，被配置为通过数据线与所述第一子像素区域连接；
测试信号单元，与所述第一面板测试开关单元连接，用于向多个所述第一面板测试开关提供N个不同的测试信号，以控制在同一时刻至少一个所述第一子像素区域中的子像素与其他任意一个所述第一子像素区域中的子像素的期望亮暗状态相反，所述测试信号包括测试控制信号和测试数据信号，N为大于2的整数；
多个多路分配开关单元，被配置为通过数据线与所述子像素区域连接，以及与扇区走线连接。


2.根据权利要求1所述的显示面板的检测电路，其特征在于，一个所述第一面板测试开关单元与一个所述第一子像素区域连接，所述测试信号单元包括N1条第一测试控制信号线，一条所述第一测试控制信号线用于提供一个所述测试控制信号，N1条所述第一测试控制信号线提供的N1个所述测试控制信号不同，N1为整数且2≤N1≤N-1，
每条所述第一测试控制信号线与至少一个所述第一面板测试开关单元连接，且不同的第一测试控制信号线连接的所述第一面板测试开关单元不同；
优选地，一行所述子像素区域中所述第一子像素区域与N1条所述第一测试控制信号线交替连接。


3.根据权利要求1所述的显示面板的检测电路，其特征在于，所述测试信号单元包括N2条第一测试数据信号线，一条所述第一测试数据信号线用于提供一个测试数据信号，N2条所述第一测试数据信号线提供的N2个所述测试数据信号不同，一个所述第一面板测试开关单元与一个所述第一子像素区域连接，N2为整数且2≤N2≤N-1，
每条所述第一测试数据信号线与至少一个所述第一面板测试开关单元连接，且不同的第一数据控制信号线连接的所述第一面板测试开关单元不同；
优选地，一行所述子像素区域中所述第一子像素区域与N2条所述第一测试数据信号线交替连接。


4.根据权利要求2或3所述的显示面板的检测电路，其特征在于，所述第一测试控制信号线与所述第一面板测试开关单元的控制端连接，所述第一测试控制信号线提供的测试控制信号用于控制所述第一面板测试开关单元的通断。


5.根据权利要求2或3所述的显示面板的检测电路，其特征在于，所述第一测试数据信号线与所述第一面板测试开关单元的第一端或第二端连接，所述测试控制信号和所述第一测试数据信号线提供的测试控制信号用于控制所述第一子像素区域中子像素的期望亮暗状态。


6.根据权利要求1所述的显示面板的检测电路，其特征在于，所述显示面板的检测电路还包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：王欢，张露，秦旭，侯亚辉，胡思明，
申请(专利权)人：昆山国显光电有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32