一种粒度统计方法技术

本发明专利技术属于岩矿鉴定技术领域，具体涉及一种岩石矿物的颗粒粒度统计方法。本发明专利技术包括如下步骤：步骤1、计算比例因子；步骤2、统计拍摄获取的颗粒的直径；步骤3、根据步骤1确定的比例因子统计颗粒的实际直径。本发明专利技术操作步骤简单，在现有设备基础上即可完成，便于实现；统计效率高，节省了人力物力；不易出错，准确率高；以计算机为辅助手段，便于后期复查。

【技术实现步骤摘要】
一种粒度统计方法
本专利技术属于岩矿鉴定
，具体涉及一种岩石矿物的颗粒粒度统计方法。
技术介绍
岩石矿物的颗粒粒度分析是岩矿鉴定的重要内容，对岩石的成因以及沉积环境分析等有重要的意义。当前，判断岩石矿物颗粒粒度主要依赖于薄片方法，即通过人工方法在显微镜下利用带有刻度的叉丝测量颗粒的粒径，将粒径记录在纸质表格中，最后再人工进行统计。这种方法不仅耗费时间精力且效率低下，还容易出现统计错误，后期复查难度也很大。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种粒度统计方法，该方法操作步骤简单，统计效率高，不易出错，且便于后期复查。实现本专利技术目的的技术方案：一种粒度统计方法，包括如下步骤：步骤1、计算比例因子；步骤2、统计拍摄获取的颗粒的直径；步骤3、根据步骤1确定的比例因子统计颗粒的实际直径。所述步骤1包括如下步骤：步骤1.1，在显微镜载物台上放上刻度尺。步骤1.2，利用数码摄像头或者摄像机透过显微镜目镜拍摄刻度尺的照片，并将照片导入计算机；步骤1.3，计算比例因子。所述步骤1.3中，比例因子S的计算方法为：S＝实际刻度长度/图像刻度长度。所述步骤2包括如下步骤：步骤2.1，将岩石矿物标本进行切割、粘贴和打磨制作成光薄片，将光薄片放置于偏光显微镜载物台上；步骤2.2，利用数码摄像头或者摄像机透过显微镜目镜拍摄光薄片照片，并将照片导入计算机；步骤2.3，利用矢量绘图软件中的直线工具沿光薄片照片中颗粒的最大直径画直线，直线的长度等于颗粒最大直径的长度，每张照片至少画300颗矿物颗粒的直径；步骤2.4，利用计算机语言编程统计所有直线的长度L。刻度尺的厚度需要与光薄片的厚度等厚。所述步骤2.3中，使用的矢量软件为CorelDRAW，且必须包含VBA模块。所述步骤2.4中，使用的计算机语言程序为VBA，第i条直线的长度L(i)的获取代码如下：L(i)＝ActiveSelectedRange.shapes(i).curve.length。所述步骤3包括如下步骤：步骤3.1，利用比例因子换算出颗粒的实际直径R；步骤3.2，对实际直径进行统计。所述步骤3.1中，实际粒径R的计算方法为：R＝L×S所述步骤3.2中，直径的统计利用Excel的概率直方图进行统计。本专利技术的有益技术效果在于：(1)本专利技术提供的一种岩石矿物的颗粒粒度统计方法，操作步骤简单，在现有设备基础上即可完成，便于实现；(2)本专利技术提供的一种岩石矿物的颗粒粒度统计方法，统计效率高，节省了人力物力；(3)本专利技术提供的一种岩石矿物的颗粒粒度统计方法，不易出错，准确率高；(4)本专利技术提供的一种岩石矿物的颗粒粒度统计方法，以计算机为辅助手段，便于后期复查。具体实施方式下面结合实施例对本专利技术作进一步详细说明。本专利技术所提供的一种粒度统计方法，该方法包括如下步骤：步骤1，将刻度尺放在显微镜载物台上；步骤2，利用数码摄像头或者摄像机透过显微镜目镜拍摄刻度尺的照片，并将照片导入计算机；步骤3，计算比例因子；步骤4，将岩石矿物标本进行切割、粘贴和打磨制作成光薄片，将光薄片放置于偏光显微镜载物台上；步骤5，利用数码摄像头或者摄像机透过显微镜目镜拍摄光薄片照片，并将照片导入计算机；步骤6，利用矢量绘图软件中的直线工具沿光薄片照片中的矿物颗粒的最大直径画直线，直线的长度等于颗粒最大直径的长度，每张照片中需要至少画300个矿物颗粒的直径；步骤7，利用计算机语言编程统计步骤6中所画所有直线的长度；步骤8，利用比例因子换算出颗粒的实际直径；步骤9，对实际直径进行统计。具体操作方法为：步骤1，将与光薄片厚度基本相同的刻度尺(最小刻度为1mm)放置于显微镜的载物台上；步骤2，利用数码摄像头或者摄像机透过显微镜目镜拍摄刻度尺的照片，并将照片导入计算机；步骤3，计算比例因子S＝实际刻度长度/图像刻度长度；步骤4，将光薄片放置于偏光显微镜载物台上；步骤5，利用数码摄像头或者摄像机透过显微镜目镜拍摄光薄片照片，并将照片导入计算机；步骤6，打开CorelDRAW，导入光薄片照片，利用直线工具沿光薄片照片中颗粒的最大直径画直线，直线的长度等于颗粒最大直径的长度，每张照片中至少画300颗矿物的直径；步骤7，代开CorelDRAW的VBA编程器，编写如下代码：Fori＝1toActiveSelectedRange.shapes.countL(i)＝ActiveSelectedRange.shapes(i).curve.lengthNexti步骤8中，利用R＝L×S计算颗粒的实际直径；步骤9中，利用Excel的概率直方图进行粒度统计。上面结合实施例对本专利技术作了详细说明，但是本专利技术并不限于上述实施例，在本领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本专利技术宗旨的前提下作出各种变化。本专利技术中未作详细描述的内容均可以采用现有技术。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种粒度统计方法，其特征在于：包括如下步骤：/n步骤1、计算比例因子；步骤2、统计拍摄获取的颗粒的直径；步骤3、根据步骤1确定的比例因子统计颗粒的实际直径。/n

【技术特征摘要】
1.一种粒度统计方法，其特征在于：包括如下步骤：
步骤1、计算比例因子；步骤2、统计拍摄获取的颗粒的直径；步骤3、根据步骤1确定的比例因子统计颗粒的实际直径。


2.根据权利要求1所述的一种粒度统计方法，其特征在于：所述步骤1包括如下步骤：
步骤1.1，在显微镜载物台上放上刻度尺。
步骤1.2，利用数码摄像头或者摄像机透过显微镜目镜拍摄刻度尺的照片，并将照片导入计算机；
步骤1.3，计算比例因子。


3.根据权利要求2所述的一种粒度统计方法，其特征在于：所述步骤1.3中，比例因子S的计算方法为：
S＝实际刻度长度/图像刻度长度。


4.根据权利要求3所述的一种粒度统计方法，其特征在于：所述步骤2包括如下步骤：
步骤2.1，将岩石矿物标本进行切割、粘贴和打磨制作成光薄片，将光薄片放置于偏光显微镜载物台上；
步骤2.2，利用数码摄像头或者摄像机透过显微镜目镜拍摄光薄片照片，并将照片导入计算机；
步骤2.3，利用矢量绘图软件中的直线工具沿光薄片照片中颗粒的最大直径画直线，直线的长度等于颗粒最大直径的长度，每张照片至少...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱骏挺，
申请(专利权)人：核工业北京地质研究院，
类型：发明
国别省市：北京;11