一种用于分光光度分析的装置，包括：样品接收表面，其被配置为接收待分析的样品；以及样品接触表面，其可相对于样品接收表面移动，以使得该样品接触表面可以被带到第一位置以及第二位置，此第一位置处表面足够远地分开，以允许将样品放置到该样品接收表面，在第二相对位置处样品接触表面与该样品接触并挤压样品。该装置还包括样品厚度控制器，其被配置以控制在样品接触表面第二位置中样品接收表面和样品接触表面之间的距离，以使表面之间的样品的厚度可以改变，以在通过该样品的不同光程长度获取至少两个样品测量。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种。技术背景众所周知的是，运用分光光度计来定量和/或定性确定试验样品材 料中(特别是溶液中)的感兴趣物质。这样的分光光度计在与诸如槽或试管(cuvette )之类的样品容器中存放的试验样品相互作用之后检 测一个或多个限定波长下的电磁能量，通常为光学能量。可以将该分 光光度计设备配置成在一个或多个众所周知的透射、反射或透反射模 式下工作，以及例如可以包括色散元件单色仪，或者例如可以配置成诸如傅立叶变换干涉仪之类的干涉仪。传统上将样品倒入槽或试管中。当分光光度测量将要在短光程长 度上执行时，诸如对于具有所使用波长的大吸收的样品来说，样品可 能需要被抽送到槽或试管中。在使用短光程长度的地方，光程长度需 要稳定并精确控制，因为现在光程长度的小差异将表示光程长度的较 大的百分比变化，并且将因此大幅影响测量结果。例如，这也可以从US 5, 602, 647 了解到提供光学分光分度计，其 中的样品容器有可变的内部光程长度。为了优化所检测的特定波长的 强度，在该分光光度计内改变光程长度。将该分光光度计配置成根据 峰值强度位置处的透射光辐射强度(transmitted optical radiation ) 和光程长度的值来进行定量和/或定性确定。在该分光光度计中，可以 精确控制可变光程长度是很重要的。用于定量确定的不正确的光程长 度将导致不正确的测量结果。因此，如果光程长度没有被精确控制， 光程长度的改变将在结果中引入错误。美国6,628, 382公开了另一种用于极小液态样品上的分光光度测 量的装置。该装置包括两个砧表面。可以掉转该表面之一的方向避开 另一个表面，以便可以很容易地清洁这两个表面并且可以很容易地放 置样品。将液滴放在一个表面上，并且使另一个表面与该液滴接触。此后，分开这两个表面以便将样品拉成柱状。在该位置，执行分光光 度测量。可以在两个不同光程长度上交替执行两个测量。这适于其中 小光程差的光程差的精确度可以比绝对全光程更好确定的情况。根据美国6,628, 382，仍然必须非常精确地控制光程。德国796， 745公开了一种用于液体的可变光程长度吸收的试管， 具有相对可滑动的样品接触表面和样品接收表面，以便在两个表面之 间改变光程。其滑动支架(mount )被配置以确保在改变光程长度时这 两个表面保持互相精确平4亍，该支架构造相对复杂且因此成本高。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种用于分光光度分析的设备和方法，其允 许向分光光度计简单呈现样品。本专利技术的另一个目的是提供一种被设 计为在样品的不同光程长度上很容易执行测量的分光光度计。本专利技术的这些和其它目的至少部分上是通过根据权利要求1的设 备以及根据权利要求8的方法来实现的。因此，根据本专利技术的第一方面，提供了一种用于分光光度分析的 装置。该装置包括样品接收表面，其被配置为接收待分析的样品； 以及样品接触表面，其被配置为与样品接收表面在一起用于其相对运 动，以便它们可以被带到第一相对位置以及第二相对位置，在第一相 对位置处表面足够间隔开以允许样品被放置到样品接收表面而不接触 样品接触表面，在第二相对位置处样品接触表面与样品接收表面上的 样品接触以影响其间样品的挤压。该装置还包括样品厚度控制器，其 被配置以控制在样品接触表面的第二位置中的样品接收表面和样品接 触表面之间的距离，以便表面之间的样品的厚度可以改变，以在通过 样品的不同光程长度获取样本的至少两个样品测量。根据本专利技术的第一方面，可以呈现样品接收表面，以便允许到该 表面的通路。这暗示样品可以被直接放置在表面上，而不需要将样品 泵取到样品容器中。这是一种简单而便宜的解决方案，因为不需要具 有与泵和管相关的流系统。而且，到样品接收和样品接触表面的通路 还提供了很容易清洁这些表面的可能性。因此，很容易支持对该装置 的维护。因此，移动样品接触表面使之离开样品接收表面同时又保持这两个表面物理上互相连接的可能性，使得用户容易使用该装置。样品厚度控制器设置在受挤压样品内的光程长度。因此，该装置 使得光程长度能够在其中样品接收和样品接触表面均与样品接触的位 置中直接被设置。这使得该装置使用简单，并且当样品接触表面接近 样品接收表面时，样品厚度控制器可以暂时用于设置光程长度。这还 暗示了样品厚度控制器可以以仅需要将样品接收表面和样品接触表面 互相保持在不同的距离的简单机械结构来实现。此外，本专利技术部分上基于这样的洞察(insight ),即利用两个不 同光程长度在样品上执行两个测量可以以巧妙的方式用于确定样品的 内容。通过采用在通过样品的两个不同光程长度上的透射强度比并且 对该比执行适当预处理，诸如标准正规变化(SNV)变换或相乘散射校 正(MSC),不需要知道测量中精确的光程长度。预处理光谱不依赖于 测量该光谦的光程长度。该洞察提供了确定内容的可能性，即使并不 在希望的精确光程长度上执行测量。因此，该装置并不需要很精确地 控制样品厚度用于不同光程长度的测量。这暗示样品厚度控制器控制 样品厚度的要求并不是过度严格。而且，这使得样品厚度控制器能够 在具有小光程长度的受挤压样品内改变光程长度，尽管不精确的设置 光程长度将给出大的相对误差。根据实施方案，样品接触表面铰接到样品接收表面。这暗示该样 品接触表面可以很容易在第一和第二位置之间移动。该样品接触表面 可以被手动操作，以绕铰链转动样品接触表面来移动该表面。而且， 由于样品厚度控制器不需要极精确地设置通过样品的光程长度，所以 样品接触表面并不必沿该表面的法线的方向移动。该样品厚度控制器可以包括一个突起，其从样品接收表面或样品 接触表面伸出，其中样品接收表面和样品接触表面之间的距离是由该 突起从该表面伸出的距离控制的。因此该突起将使样品接触表面与样 品接收表面保持分开一定的距离，该距离是由从一个表面突起的程度 控制的。该样品厚度控制器可以另外包括用于控制该突起从该表面伸 出的距离的电动机。该样品厚度控制器可以被配置，以控制样品接触表面向第二位置 下移，以便该样品接触表面被慢慢带向第二位置。这确保了整个样品接触表面可以与样品接触。例如，如果样品是液态的，那么整个样品 接触表面可以通过样品接触表面慢慢接触样品来润湿。而且，该样品 接触表面可以被手动带向第二位置，而样品厚度控制器控制样品接触 表面的最终下移。该样品厚度控制器可以被配置，以在10-50 pm的范围内，优选在 15-45 pm的范围内改变样品的厚度。这适于在高吸收样品上执行的测 量。由于这些光程长度传统上由复杂的试管在所提供的光程长度中以 极高精度提供，所以本专利技术尤其适于在这样短的光程长度上的测量。 这些试管与泵相关联以将样品引入试管中。因此，本专利技术提供了一种 用于在这样短光程长度上执行测量的更简单更便宜的装置。该装置还包括运算单元，其被配置用于接收来自不同光程长度上 的至少两个测量的输出，并且其适于计算依赖于对于在测量中使用的 相同波长的两个光程长度上所接收的输出的比的值，以从中产生样品 中感兴趣物质的定量和定性表示之一或其两者。在它们已经经过相同样品的两个不同路径之后，通过分离相同波 长的检测到的光的强度来移除强度相关的不稳定性。这暗示测量并不 受分光光度计中随机暂时强度漂移的影响，随机暂本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种用于分光光度分析装置的样品容器，所述样品容器包括： 具有第一光透射区域的样品接收表面，以及 具有第二光透射区域的样品接触表面，其中这些表面被连接，用于在第一位置和第二位置之间相对移动，在第一位置处所连接的表面被隔离开以允许在第一光透射区域接收样品，在第二位置处所述第一和第二光透射区域保持密切接触并挤压所接收的样品，同时所述第一和第二光透射区域可以被移动以改变光透射区域之间的样品的厚度，用于获取通过样品的不同的光程长度，以及 样品厚度控制器，其被配置以控制在第二位置中样品接收表面和样品接触表面之间的距离，以便表面之间的样品厚度可以被改变，以在通过样品的不同光程长度获取样品的至少两个测量。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：HV吉尔，
申请(专利权)人：福斯分析公司，
类型：发明
国别省市：DK[丹麦]
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