测定介质中化合物的同一性或不同性和浓度的方法技术

本发明专利技术涉及一种检测至少一种含在介质（３１２）中的化合物Ⅴ的方法。所述方法包括用于测定Ⅴ是否含在介质（３１２）中的检验步骤（４２０）。所述方法另外包括测定至少一种化合物Ⅴ的浓度ｃ的分析步骤（４２４）。检验步骤包括如下子步骤：（ａ１）介质（３１２）曝露于可变波长λ的第一种分析辐射（３１６）下，其中波长λ假定为至少两个不同值；（ａ２）相应于第一种分析辐射（３１６），借助由介质（３１２）吸收和／或发射和／或反射和／或散射的辐射（３２４、３２６）产生至少一种谱响应函数Ａ（λ）；（ａ３）通过至少一种谱响应函数Ａ（λ）与至少一种模式函数Ｒ（λ＋δλ）比较形成至少一种谱关联函数Ｋ（δλ），其中至少一种模式函数Ｒ（λ）表示含化合物Ⅴ的介质（３１２）的谱测量函数，δλ表示坐标位移；（ａ４）在模式识别步骤（４１８）中检查至少一种谱关联函数Ｋ（δλ），并且做出关于至少一种化合物Ⅴ是否含在介质（３１２）中的结论；分析步骤（４２４）包括如下子步骤：（ｂ１）介质（３１２）曝露于具有至少一种激发波长λ↓［ＥＸ］的至少一种第二种分析辐射（３１８）下；（ｂ２）与波长λ↓［ＥＸ］的第二种分析辐射（３１８）响应，借助介质（３１２）吸收和／或发射和／或反射和／或散射的响应波长λ↓［ＥＸ］的辐射（３２６）产生至少一种谱分析函数Ｂ（λ↓［ＥＸ］，λ↓［ＲＥＳ］）并由此导出浓度ｃ。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】测定介质中化合物的同 一性或不同性和浓度的方法
本专利技术涉及一种检测至少一种含在介质中的化合物V的方法，所述方法包括检测化合物是否含在介质中的检验步骤，以及测量化合物浓度的分 析步骤。本专利技术还涉及进行所述方法的装置，以及所述方法在检验货品的 可靠性或鉴别矿物油中的用途。使用多种方法以鉴别或检验化合物。大量分析方法使用非常宽范围的 分析辐射，通过吸收、发射(例如荧光或磷光)、反射和/或散射，其经历了 在其作为分析辐射各自波长的函数的原始强度中的改变。可4吏用这种改变 推知化合物在<^质中的存在与否和/或以测定介质中化合物的浓度。就这点 而言许多装置为市售的，例如各种分光计。然而，所有现有技术已知的装置有各种缺点，尤其是极大损害在实践 连续使用中的可用性。例如一个缺点是在许多情况下，待检测的化合物仅 以极低的浓度存在于待检验的介质中。通常，化合物本身产生的信号因此微弱，使得它们通常被介质的背景信号覆没，这是由于信:噪比相应弱。另 一个缺点是在市售装置中，浓度检测独立于化合物含在或根本不含 在介质中而进行。因此，在随后的评估中因此难以判定例如具有弱信噪比 的极弱信号是否确实本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测至少一种含在介质（３１２）中的化合物Ｖ的方法，其包括用于测定Ｖ是否含在介质（３１２）中的检验步骤（４２０），另外包括测定至少一种化合物Ｖ的浓度ｃ的分析步骤（４２４），　－其中检验步骤包括如下子步骤：　（ａ１）介质（３１２）曝露于可变波长λ的第一种分析辐射（３１６）下，其中波长λ假定为至少两个不同值；　（ａ２）响应于第一种分析辐射（３１６），借助由介质（３１２）吸收和／或发射和／或反射和／或散射的辐射（３２４、３２６）产生至少一种谱响应函数Ａ（λ）；　（ａ３）通过至少一种谱响应函数Ａ（λ）与至少一种模式函数Ｒ（λ＋δλ）谱比较形成至少一种谱关联函数Ｋ（δλ），其中至少一种模式函数Ｒ（λ）...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：R森斯，C瓦姆瓦卡瑞斯，W阿勒斯，E蒂尔，
申请(专利权)人：巴斯夫欧洲公司，
类型：发明
国别省市：DE[德国]